【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试方法,特别是自动测试向量生成方法。
技术介绍
自有集成电路产业以来,如何以最经济、最快捷的方法测试集成电路,而且获得不错的测试品质,一直是非常重要的课题。随着集成电路制造工艺的不断发展,集成电路的规模日益增大、复杂度日益增加,使对其测试也变得越来越困难,测试成本在总成本中所占的比例不断上升。测试已经成为集成电路发展的瓶颈,是设计周期中最昂贵、问题最多的环节之一。测试成本与许多因素有关,其中日益增加的庞大的测试数据量是与测试成本相关的重要因素之一。测试数据逐年呈指数规律增长,到2014年测试数据量将达到120( ,这么庞大的数据导致了以下问题(1)硬盘和自动测试设备(Automatic Test Equipment, ATE) 之间带宽有限,使得测试数据从硬盘传输到ATE的时间大于测试数据从ATE传输到被测电路(Circuit Under Test,⑶Τ)的时间,会导致浪费在等待测试数据从硬盘到ATE之间的加载时间加长。O)ATE的存储容量有限,使得必须裁剪或分批加载测试数据。如果裁剪测试数据就会导致测试质量降低;如果分次加载测试数据,就会增加测试时间。(3)ΑΤΕ与CUT之间的带宽有限,使得不能降低测试数据从ATE的存储器到CUT的加载时间。虽然更换高档次的ATE可以在一定程度上缓解上述问题,但这势必会增加测试成本(ATE价格在50-120 美元/台)。上述问题是由于测试数据量增加带来的,显然,如果在测试质量不变的情况下减少测试数据量,同样也能解决上述问题。因此迫切需要研究测试数据量减少技术。关于测试数据量减少技术的研究,主要集 ...
【技术保护点】
1.一种基于广义折叠集的自动测试向量生成方法,其特征在于:包括下述步骤:a、根据电路结构,生成故障列表;b、进行伪随机测试,将故障分离成易测故障和难测故障;c、对难测故障进行合并,分三个原则来执行:①如果两个故障没有相同的结构输入核,这两个向量是可以合并的,基于这两个故障产生一个测试向量;②如果两个故障的结构输入核有交叉,但是它们的影响范围没有交叉,仍然基于这两个故障产生一个测试向量;③如果上述两个情况都有交叉,不能判断他们是否可以直接合并成一个测试向量,在这种情况下,通过已经量化的影响范围指标来判断两个故障影响范围的交叉程度,优先选取影响范围交叉小的故障进行;d、对难测故障按可以合并难测故障数进行分组;e、选择可以合并难测故障数最多的两组故障,产生两个对应的测试向量;f、由该两个测试向量确定广义折叠集;g、用该广义折叠集进行故障模拟,生成该广义折叠集可以测试的故障列表;h、对剩下的用该广义折叠集不能测的故障,重复步骤b-g,一直到所有故障均能被广义折叠集测试。
【技术特征摘要】
1.一种基于广义折叠集的自动测试向量生成方法,其特征在于包括下述步骤a、根据电路结构,生成故障列表;b、进行伪随机测试,将故障分离成易测故障和难测故障;C、对难测故障进行合并,分三个原则来执行①如果两个故障没有相同的结构输入核, 这两个向量是可以合并的,基于这两个故障产生一个测试向量;②如果两个故障的结构输入核有交叉,但是它们的影响范围没有交叉,仍然基于这两个故障产生一个测试向量;③如果上述两个情况都有交叉,不能判断他们是否可以直接合并成一个测试向量,在这种情况下,通过已经量化的影响范围指标来判断两个故障影响范围的交叉程度,优先选取影响范围交叉小的故障进行;d、对难测故障按可以合并难测故障数进行分组;e、选择可以合并难测故障数最多的两组故障,产生两个对应的测试向量;f、由该两个测试向量确定广义折叠集;g、用该广义折叠集进行故障模拟,生成该广义折叠集可以测试的故障列表;h、对剩下的用该广义折叠集不能测的故障,重复步骤b-g,一直到所有故障均能被广义折叠集测试。2.如权利要求1所述的一种基于广义折叠集的自动测试向量生成方法,其特征在于 上述步骤c中所述影响范围的判定方法如下对每一个信号线取确定值受影响的基本输入(PI)或伪基本输入(PPI)的集合记录下来,在回溯的过程中进行选择。信号线1的可控性RCi(I)被定义为使信号线1的值成为i,其中i e {0,1},所需最小的赋确定值的伪基本输入集合,对于一根信号线,Ci(I)表示最小使1的值为i的有确定值的伪基本输入集合的个数,它们有如下关系=Ci(I) = RCi(I) I ;如果1是一个基本输入或者伪基本输入的时候,用1(0)和1(1)分别代表信号线1被赋值为0和1,有如下关系RC1(I) = {1(1)}, RC0(I) = {1(0)} (1)C1(I) = C0(I) = 1(2)对于一个与门来说,假设它的输入是A和B,它们之间的关系如下RC1 (1) = RC1 (A) U RC1 (B) (3)C1(I) = C1(A)+C1(B) + AC (4)为了区分基本输入和伪基本输入,因为我们的目标是让赋值向尽量少的伪基本输入的方向回溯。如果对于两个都是基本输入的情况,C取值为10,作为一个惩罚值; 对于同样的与门,它们的可控度之间的关系如下 RC JRCΜ) if C0(A) < C0(B) [RC0(B) if C0(A) > C0(B) C(l) = [C0(A) IfC0(A)^C...
【专利技术属性】
技术研发人员:詹文法,马俊,韩建华,孙秀芳,方晓珍,
申请(专利权)人:詹文法,
类型:发明
国别省市:34
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