【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种感测片，尤其涉及一种电弧强度感测片，属于电弧检测
技术介绍
由于电弧为瞬间发射，目前一般检测电弧的技术，大多用以检测电弧是否存在，且电弧的强度甚大容易造成电路短路，因此如何利用精简的物件作为测量电弧的工具，为本专利技术欲提出的理念。
技术实现思路
针对上述现存的技术问题，本专利技术提供了一种电弧强度感测片，以解决一般电弧强度不易量测的问题。本专利技术为实现上述目的，通过以下技术方案实现一种电弧强度感测片，包括检测片本体，其从外到内依次设有金属薄膜表层、高分子低分子量物质层及高分子聚合物层。进一步，金属薄膜表层至少具有一层。本专利技术的有益效果是由基板进行检测，可提高检测电弧强度的便利性，可解决电弧因电压过高而无法检测强度的问题。附图说明图1为本专利技术的结构示意中1、检测片本体，11、金属薄膜表层，12、高分子低分子量物质层，13、高分子聚合物层。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明。如图1所示，本专利技术包括检测片本体1，以及其上从外到内依次设有的金属薄膜表层11、高分子低分子量物质层12及高分子聚合物层13。金属薄膜表层11至少具有一层。测量电弧强度时，利用电弧电击检测片本体1，使检测片本体1的金属薄膜表层11 破裂致使高分子低分子量物质层12产生热裂解，以此以判断测电弧的强度。权利要求1.一种电弧强度感测片，其特征在于包括检测片本体(1)，其从外到内依次设有金属薄膜表层(11)、高分子低分子量物质层(1 及高分子聚合物层(13)。2.根据权利要求1所述的一种电弧强度感测片，其特征在于所述的金属薄膜表层(11)...
【技术保护点】
１．一种电弧强度感测片，其特征在于包括检测片本体（１），其从外到内依次设有金属薄膜表层（１１）、高分子低分子量物质层（１２）及高分子聚合物层（１３）。
【技术特征摘要】
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