本发明专利技术提供了高压设备绝缘性能等温松弛电流法微电流测试转接器，涉及电力系统高压设备绝缘性能检测检测设备技术领域。转接器A部分设有有第1铜芯，第1铜芯的外部为第1内绝缘件，第1内绝缘件的外部为第1金属屏蔽外壳；转接器B部分设有第2铜芯，第2铜芯的外部为第2内绝缘件，第2内绝缘件的外部为第2金属屏蔽外壳；两部分配合状态，针形尖端和针形尖端插孔配合，第1内绝缘件和第2内绝缘件搭配；内绝缘结构的绝缘强度大于等于50kV/mm。该转接器结构轻巧、屏蔽效果好、绝缘强度较好，在高压电场下的极化电流和撤压后的去极化松弛电流较小，截流量小，能保证等温松弛电流法测试耐压和测试精度要求。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电力系统高压设备绝缘性能检测设备
，尤其是一种高压设备绝缘性能检测中微电流测试转接器。
技术介绍
电流信号检测是评估高压设备中绝缘材料绝缘状态的重要手段，按被测电流的性质，被测电流信号可分为两大类一种是高压设备绝缘在高压电场下的极化松弛电流，另一种是高压设备绝缘在高压电场撤去后的去极化松弛电流。基于极化松弛电流的常规绝缘评估方法有绝缘电阻、吸收比、介电损耗等，这些测试中，待测高压设备都在加高压情况下， 电流信号幅值一般在纳安甚至毫安级以上，因此被测设备与检测设备之间的转接器只要保证足够的绝缘强度即可保证电流测试的精度。目前国内能生产此类绝缘强度高，载流量大的转接器的厂家很多，价格也相当便宜。等温松弛电流法(IRC)是一种基于电流信号检测的新型非破坏性绝缘状态检测法，其基本理是在常温下预先对高压设备绝缘施加某一特定的高压极化电场，在极化一段时间后，撤去高压极化电场，并检测高压设备绝缘随后的去极化松弛电流。由于去极化松弛电流中蕴含着丰富的绝缘材料微观性能信息，通过相关分析可得出绝缘材料相关的微观参数、介电损耗、老化因子等参数，因此等温松弛电流法可为高压设备绝缘状态评估提供可靠的依据。电力高压设备绝缘的去极化松弛电流幅值一般在皮安级至飞安级，其检测过程中受检测设备性能、外界环境的影响比基于极化电流的常规检测法更严重。等温松弛电流检测设备中一个关键部件从被测高压设备至检测设备之间的转接器。目前市场上的转接器大多是高压大电流转接器，这些转接器在基于极化松弛电流法的常规项目测试中，可基本保证测试的精度，但在去极化松弛电流测试中，由于其在高压电场下自身绝缘同时被极化，待测高压设备去极化时，转接器绝缘也会形成很大的去极化电流，此成分叠加于被测高压设备的去极化电流中，成为影响测试精度的一个严重干扰源。因此研发出一种适用于等温松弛电流法检测的高压设备绝缘性微电流测试转接器，对等温松弛电流法在电力系统高压设备绝缘检测中的应用和推广显得十分迫切。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种高压设备绝缘性等温松弛电流法微电流测试转接器，解决了现有的转接器影响测试精度的问题，该转接器结构轻巧、屏蔽效果好、绝缘强度较好， 在高压电场下的极化电流和撤压后的去极化松弛电流较小，截流量小，能保证等温松弛电流法测试耐压和测试精度要求。本专利技术是这样实现的一种高压设备绝缘性等温松弛电流法微电流测试转接器， 其特征在于由转接器A部分(7)和转接器B部分(14)组成；其中转接器A部分(7)的结构为内部设有有第1铜芯(10)，第1铜芯(10)的外部为第1内绝缘件(8)，第1内绝缘件 (8)的外部为第1金属屏蔽外壳(9)；转接器B部分(14)的结构为内部有第2铜芯(17)，第2铜芯(17)的外部为第2内绝缘件(15)，第2内绝缘件(15)的外部为第2金属屏蔽外壳 (16) ’第1铜芯(10)的左端设有第1插线孔(11)，右端设有针形尖端(13)；第2铜芯(17) 的右端设有第2插线孔(18)，另一端设有针形尖端插孔(20);在转接器A部分(7)和B部分 (14)配合状态时，针形尖端(13)和针形尖端插孔(20)配合，第1内绝缘件(8)和第2内绝缘件(15)搭配，第1金属外壳(9)和第2金属外壳(16)螺纹配合；其内绝缘结构的绝缘强度应大于等于50kV/mm。所述的第1铜芯(10)、第2铜芯(17)均为钉子状，分别插压在第1内绝缘件(8)、 第2内绝缘件(15)设的中间绝缘隔板上，中间绝缘隔板的两侧均设有套式绝缘结构。该结构较好。所述的第1铜芯(10)的左端设有第1绝缘垫片(4)，第1绝缘垫片(4)和第1内绝缘件(8)为套式紧密搭配，第2内绝缘件(15)设有螺纹连接的第1金属螺帽(1)，压紧第 1绝缘垫片(4);所述的第2铜芯(17)的右端设有第2绝缘垫片(22)，第2绝缘垫片(22) 和第2内绝缘件(15)为套式紧密搭配，第2金属屏蔽外壳(22)设有螺纹连接的第2金属螺帽(25)，压紧第2绝缘垫片(22);第1金属螺帽(1)设有第1引线孔(2)，第2金属螺帽 (25)设有第2引线孔(27)。该结构较好。所述的第1插线孔(11)的侧面设有第1焊接口(12)，第2插线孔(18)的侧面设有第2焊接口(19)，针形尖端插孔(20)为对合的两半圆筒状接口结构，具有金属弹性。该结构较好。所述的第1内绝缘件⑶和第1金属屏蔽外壳(9)间，以及第2内绝缘件(15)和第2金属屏蔽外壳(16)间为镶嵌式结构。该结构较好。所述的第2内绝缘件(15)、第2金属屏蔽外壳(16)外层设有不锈钢层，较好。本专利技术的积极效果是有效解决了现有转接器影响测试精度的问题，该转接器结构轻巧、屏蔽效果好、绝缘强度较好，在高压电场下的极化电流和撤压后的去极化松弛电流较小，绝缘强度50kV/mm以上，可保证等温松弛电流法测试耐压要求，便于安装；截流量小，能保证等温松弛电流法测试耐压和测试精度要求。以下结合实施例及其附图作详述说明，但不作为对本专利技术的限定。附图说明图1为本专利技术一实施例的整体结构装配示意图。图2为图1的拆装式结构图。图3为图2中标号7转接头A部分的左视图。图4为图2中标号7转接头A部分的右视图。图5为图2中标号10第1铜芯的俯视图。图6为图2中标号14转接头B部分的左视图。图7为图2中标号14转接头B部分的右视图。图8为图2中标号17第2铜芯的俯视图。图9为图2中标号4绝缘垫片的左视图。图10为等温松弛电流法测试原理图。图中各标号含义1_第1金属螺帽，2-第1金属螺帽不锈钢外壳，3-第1引线孔，4-第1绝缘垫片，5-第1绝缘垫片绝缘层，6-第1绝缘垫片引线孔，7-转接器A部分，8-第 1内绝缘层，9-第1金属屏蔽外壳，10-第1铜芯，11-第1插线孔，12-第1焊接口，13-针形尖端，14-转接器B部分，15-第2内绝缘层，16-第2金属屏蔽外壳；17-第2铜芯，18-第2 插线孔，19-第2焊接口，20-针形尖端插孔；21-安装面板，22-第2绝缘垫片，23-第2绝缘垫片绝缘层，24-第2绝缘垫片引线孔，25-第2金属螺帽，26-第1金属螺帽不锈钢外壳， 27-第2引线孔，28-第1金属螺帽安装方向，29-第1绝缘垫片安装方向，30-转接头A部分配合B部分安装方向，31-第2绝缘垫片安装方向，32-第2金属螺帽安装方向。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术进行详细描述。 参见图1 图10，该高压设备绝缘性等温松弛电流法微电流测试转接器，由转接器A部分7和转接器B部分14组成；其中转接器A部分7的结构为内部设有有第1铜芯 10，第1铜芯10的外部为第1内绝缘件8，第1内绝缘件8的外部为第1金属屏蔽外壳9 ； 转接器B部分14的结构为内部有第2铜芯17，第2铜芯17的外部为第2内绝缘件15，第 2内绝缘件15的外部为第2金属屏蔽外壳16 ；第1铜芯10的左端设有第1插线孔11，右端设有针形尖端13 ；第2铜芯17的右端设有第2插线孔18，另一端设有针形尖端插孔20 ； 在转接器A部分7和B部分14配合状态时，针形尖端13和针形尖端插孔20配合，第1内绝缘件8和第2内绝缘件15搭配，第1金属外壳9和第2金属外壳16螺纹配合；其内绝缘结构的绝缘强度大于等于50kV/mm 本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种高压设备绝缘性能等温松弛电流法微电流测试转接器，其特征在于由转接器Ａ部分（７）和转接器Ｂ部分（１４）组成；其中转接器Ａ部分（７）的结构为：内部设有有第１铜芯（１０），第１铜芯（１０）的外部为第１内绝缘件（８），第１内绝缘件（８）的外部为第１金属屏蔽外壳（９）；转接器Ｂ部分（１４）的结构为：内部有第２铜芯（１７），第２铜芯（１７）的外部为第２内绝缘件（１５），第２内绝缘件（１５）的外部为第２金属屏蔽外壳（１６）；第１铜芯（１０）的左端设有第１插线孔（１１），右端设有针形尖端（１３）；第２铜芯（１７）的右端设有第２插线孔（１８），另一端设有针形尖端插孔（２０）；在转接器Ａ部分（７）和Ｂ部分（１４）配合状态时，针形尖端（１３）和针形尖端插孔（２０）配合，第１内绝缘件（８）和第２内绝缘件（１５）搭配，第１金属外壳（９）和第２金属外壳（１６）螺纹配合；其内绝缘结构的绝缘强度大于等于５０ｋＶ／ｍｍ。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高树国，潘瑾，范辉，尹毅，王志浩，刘宏亮，吴建东，纪哲强，
申请(专利权)人：河北省电力研究院，
类型：发明
国别省市：13
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