二极管芯片的量测装置及量测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种二极管芯片的量测装置及量测方法。二极管芯片设置于热传导元件上。量测装置会先量测二极管芯片的瞬间启动电流，并量测热传导元件的对应于瞬间启动电流的第一温度。当二极管芯片开始操作之后，量测装置再将热传导元件的温度调整至第二温度，以使二极管芯片的电流等于上述的瞬间启动电流。量测装置依据二极管芯片的实功率以及第一温度和第二温度之间的温度差，计算二极管芯片的属性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种，且特别是有关于一种可用以量测交流电驱动的。
技术介绍
近几年来，发光二极管(Light Emitting Diode,LED)半导体技术的发展由于技术的提升，使得芯片发光效率大幅提升，也因此增加在各方面的应用性，例如从投影笔到照明应用等，大幅增加了应用的范围。此外，LED也具有体积小、寿命长、低污染以及低成本等优点，在光学特性上更具有色彩饱和度佳以及动态色彩控制等特点，因此使得LED相关技术成为目前最受瞩目的技术。一般而言，LED最广为人知就是比起传统灯源具有更省电，更环保以及体积更小的优势，交流电驱动LED的出现使得其在照明系统使用上更具竞争力，但是与直流电驱动LED 同样必须面对芯片电与光的转换效率低的问题，目前LED的芯片仍是将大部分的输入电能转换为热能，仅少部分转换为光，因此过热问题仍是LED技术发展的主要议题。在目前LED 芯片发光效率有限的状况下，大部份的电源转换成为热，也使得发热密度大幅提升。过热问题已成为技术发展的瓶颈。而热阻定义为LED芯片接面处的温度(Junction Temperature) 减去环境温度，再除以输入功率所得的值。此一热本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种二极管芯片的量测方法，其特征在于，包括：将该二极管芯片设置在一热传导元件上；将一电压施加在该二极管芯片，且借由一电流量测单元量测该二极管芯片的一瞬间启动电流，并借由一温度量测元件量测该热传导元件的温度为一第一温度；在该电压施加在该二极管芯片后，开始借由一温度控制模块，控制该热传导元件的温度，直到该电流量测单元所量测到该二极管芯片的电流等于该瞬间启动电流为止；以及当控制该热传导元件的温度后，倘若该电流量测单元所量测到该二极管芯片的电流等于该瞬间启动电流，则借由该温度量测元件量测该热传导元件的温度为一第二温度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：戴明吉，李圣良，谭瑞敏，刘君恺，许中彦，林明德，戴光佑，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：71