浊度测量用传感器组件制造技术

本发明专利技术提供了一种浊度测量用传感器结构，包括发射器和接收器，其特征在于，所述发射器为发散紫外光的发光元件1，所述接收器为受光元件2，所述受光元件2设置于与所述发光元件1相对的位置，所述发光元件1和所述受光元件2保持一定间距。本发明专利技术价格低廉且测量范围的误差较少，能有效地执行浊度的测量，易于设定特定基准值，从而可以更加轻松容易地体现所测量的浊度，同时，在传感器的移动过程中也可以实现浊度的测量。因此，可以广泛地应用于各种流体的浊度测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种传感器组件，具体而言是一种浊度测量用传感器组件。
技术介绍
一般情况下，检测流体的浑浊程度时所使用的浊度测量用传感器包括发散出测量束流(beam)(通常使用高频)的发射器(Transmitter)、用于接收由所述发射器发散出来并通过了流体的束流的接收器(Receiver)。测量时，将发射器发散的测量束流的值与接收器吸纳的通过了待测流体后的束流的值相互进行比较，由此可以测量到流体的透射度，即流体的浊度。但此装置采用了作为高频发散器的发射器(Transmitter)及作为用于吸纳的声波检测器的接收器，其高价格成为问题。不仅如此，由发射器发散出来的高频测量束流在通过流体的传播路径过程中，由于流体的流动或周边的噪声等细微的波长因素，容易造成干扰及散射，这就使得所述接收器吸纳到比实际透射度更多的测量束流，从而发射器发散出来的测量束流的值与通过了流体的束流的值之间产生误差的可能性高。不仅如此，将浊度为零的状态下的基准值设置于接收器的作业、及基于该设置值而体现出浊度的作业也会由于干扰因素而变得非常费事。用于解决上述问题的现有的方法是沿着测量束流的传播方向额外设置一个截面面积较小的用于发散测量束流的发射器，从而防止测量束流的散射，其典型的实例有生成激光束流的发射器。但是，如上所述的生成激光束流的发射器不仅其本身的价格高昂，还需要实施将发射器与接收器精密地进行排列的设置作业，使测量变得十分地费事。此外，现有的浊度测量用传感器可以固定在流体的通道或流体的储存空间中使用，但要沿着流体的储存空间或流体的通道以移动的方式使用是几乎不可能的。因此能采用现有的浊度测量用传感器的领域也会变窄，传感器产品的实用价值会进一步降低。因此，我们需要一种操作简单、价格低廉、易于操作且测量范围的误差小的浊度测量用传感器组件。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种浊度测量用传感器组件。为了解决上述问题本专利技术的技术方案是这样的一种浊度测量用传感器组件，包括发射器和接收器，其特征在于，所述发射器为发散紫外光的发光元件，所述接收器为受光元件，所述受光元件设置于与所述发光元件相对的位置，所述发光元件和所述受光元件保持一定间距。本专利技术的原理是发光元件发射出来的光(紫外线)穿过待测流体后，到达受光元件。待测流体中的异物或污泥成分会吸收或散射一部分由发光元件发散出来的光，受光元件测量出被衰减的透射光或散射光的强度，从而检测出流体的透射度，即流体的浊度。所述受光元件是由多个信道用元件分散设置于受光部位而成。所述发光元件使用紫外线发光二极管，而所述受光元件从光电二极管或光电晶体管中选择其一而使用。所述紫外线发光二极管被广泛地使用于音响或录像机的远程控制(远距离控制器)与计算机的紫外线通信端口，即使使用较低电力也能发散出有效的光能。因此与普通的紫外线灯相比，其发热量与故障较少，同时，可以通过调节电力大小来调节其亮度。所述光二极管是具有光检测功能的半导体二极管。所述光电晶体管具有与结式晶体管相同的构成，为使光能到达基级-集电极的PN结而被置于透明罩内，能如光电二极管一样运转，但对光更加敏感。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是(1)相比于利用了高频的现有的浊度测量用传感器，本专利技术成本低、结构简单。同时，本专利技术不仅利用如高频这样的波长，还同时利用了光能所具有的波动性与粒子性，因此，在使用时几乎不受外界环境干扰，从而有效地实现浊度的测量。(2)由于本专利技术可以在几乎不受外界环境干扰的情况下实现浊度的测量，因此，可以先利用发光元件及受光元件测量出不存在待测流体的情况下的光的强度，并将该强度设定为基准值，然后将所述基准值与通过了待测流体的光的强度值进行比较，从而可以更加轻松容易地体现出流体的浊度。(3)本专利技术的浊度测量用传感器组件不仅能在固定的位置上进行流体浊度的测量，还可以在沿着流体内部移动的同时实现流体浊度的测量。由此进一步确保了浊度测量用传感器的适用范围，从而可以大大提高传感器产品的实用价值。附图说明下面结合附图和具体实施方式来详细说明本专利技术；图1和图2为本专利技术的浊度测量用传感器组件的运转原理示意图。图3为同时设置有本专利技术的传感器组件与控制组件的状态的配线图。图4 (a)及(b)为根据本专利技术的传感器组件的固定方式的设置状态图。图5为根据本专利技术的传感器组件的移动方式的设置状态图。图中标号为1一发光元件；2—受光元件、2 2b, 2c—信道用元件；3—流体通道；4一透明管、4a—流体管道；5—CPU ；6—电池；7—A/D转换器；8— LCD监视器；9一控制组件；10—传感器组件；11 一组件罩、Ila—电缆；12—储存槽、12a—排出管；13—导轨、13a—引导支架； 14 一导线。具体实施例方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本专利技术。如图1所示，本专利技术的浊度测量用传感器组件包括发散紫外线的发光元件1和受光元件2。所述受光元件2设置于与所述发光元件1相对的位置上，且所述发光元件1与所述受光元件2保持一定的间距。优选地，所述发光元件1采用紫外线发光二极管(LED)，所述受光元件2从光电二极管(Photo diode)或光电晶体管(Photo transistor)中选择其一。所述紫外线发光二极管被广泛地使用于音响或录像机的远程控制(远距离控制器)与计算机的紫外线通信端口，即使使用较低电力也能发散出有效的光能。因此与普通的紫外线灯相比，其发热量与故障较少，同时，可以通过调节电力大小来调节其亮度。更优选地，本专利技术采用的紫外线发光二极管是与普通的电阻不同的、具有自身的内部电阻的发光二极管，例如韩国K0DENSHI株式会社(Kodenshi Korea Co. , Ltd)的紫外线发光二极管，其商品名称为CL-IKL3、发光角度为士 17度。所述受光元件2的光电二极管也称光二极管，是具有光检测功能的半导体二极管。优选地，可以采用市场上销售的韩国KODENSHI株式会社(Kodenshi Korea Co.，Ltd) 的商品名称为HP-202的光电二极管产品。所述HP-202光电二极管的输出的直线范围广、 光谱敏感度的特性比光电晶体管优秀。不仅如此，由于利用光生伏打效应，因此元件的特征在于不需要偏置(为了给予元件的运转点而对电极施加一定的电流或电压)。所述光电晶体管具有与结式晶体管相同的构成，为使光能到达基级-集电极的PN 结而被置于透明罩内。光电晶体管能如光电二极管一样运转，但对光更加敏感。如上所述，构成本专利技术的浊度测量用传感器组件的发光元件1与受光元件2，可以采用市场上广泛销售的紫外线发光二极管或光电二极管或光电晶体管。由于这些部件的价格非常低廉，因此可以提供几乎不受外界环境的干扰而实现浊度的测量且价格合理的传感器。不仅如此，由于本专利技术的浊度测量用传感器组件几乎不受外界环境的干扰，因此可以先利用发光元件1及受光元件2测量出不存在有待测流体的情况下的光的强度，将该强度设定为基准值，然后与通过了流体的光的强度值进行比较，从而可以更加轻松容易地体现出流体的浊度。如图1及图2所示，将待测流体置于发光元件1与受光元件2中间后，发光元件1 与受光元件2可以采用任何设置形态。待测流体处本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种浊度测量用传感器组件，包括发射器和接收器，其特征在于，所述发射器为发散紫外光的发光元件１，所述接收器为受光元件２，所述受光元件２设置于与所述发光元件１相对的位置，所述发光元件１和所述受光元件２保持一定间距。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：朴成进，金仁洙，郑柄健，
申请(专利权)人：南亮压力容器技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31