浊度传感器及浊度测量装置制造方法及图纸

技术编号:11081115 阅读:282 留言:0更新日期:2015-02-25 19:30
本发明专利技术公开了一种浊度传感器,属于液体参数测量技术领域。该浊度传感器包括壳体、光源、光电接收模块,所述壳体为具有一个平面状底面的桶状壳体;所述光源设置于靠近所述底面的壳体侧壁内侧,可向所述底面发射与所述底面的夹角为20°的平行光;所述底面上嵌设有沿光源出射光方向依次排布的两个透明窗镜:第一窗镜、第二窗镜,其中第一窗镜位于光源所发射光线与底面的交点处;所述光电接收模块包括设置于所述壳体内部空间中的两个光电探测器:第一光电探测器、第二光电探测器,分别用于检测从第一窗镜、第二窗镜射入的与光源所发射平行光垂直的光线强度。本发明专利技术还公开了一种浊度测量装置。本发明专利技术具有结构设计简单、精度准确、测量范围宽的优点。

【技术实现步骤摘要】
浊度传感器及浊度测量装置
本专利技术涉及一种浊度传感器,尤其涉及一种基于散射光测量法的浊度传感器,属于液体参数测量

技术介绍
水的浊度是水中不同形状、大小、比重的悬浮物、微生物和胶体物质等杂质对光的吸收和散射作用的一种反映,是水样的一种光学性质。随着人们生活水平的日益提高,以及对生命健康、自然环境的日益关注,对于水质浊度的监测越来越受到人们的重视。浊度不仅是衡量水质良好程度的重要指标之一,而且也是考察水处理效果的重要依据。因此,对水体浊度的在线检测具有非常重要的现实意义。根据浊度的测量原理,浊度的检测方法可分为两种,一种是透射光测量法,另一种是散射光测量法。其中散射光测量法又可分为样品内散射法及样品表面散射法。浊度测量国际标准ISO7027和美国环保标准EPA180.1就是利用样品内散射法测量与入射光方向成90。角的散射光强度来确定浊度值。这种浊度测量方法其线性度好,测量精度高,但由于在高浊度测量时会产生二次散射,90。方向上的散射光已不能正确反映其浊度,进入测量盲区,所以这种测量方法的范围一般在0~200NTU。表面散射法只需测量样品浅表面的散射光,入射光无需在样品内长时本文档来自技高网...
浊度传感器及浊度测量装置

【技术保护点】
一种浊度传感器,包括壳体、光源、光电接收模块,其特征在于,所述壳体为具有一个平面状底面的桶状壳体;所述光源设置于靠近所述底面的壳体侧壁内侧,可向所述底面发射与所述底面的夹角为20°的平行光;所述底面上嵌设有沿光源出射光方向依次排布的两个透明窗镜:第一窗镜、第二窗镜,其中第一窗镜位于光源所发射光线与底面的交点处;所述光电接收模块包括设置于所述壳体内部空间中的两个光电探测器:第一光电探测器、第二光电探测器,分别用于检测从第一窗镜、第二窗镜射入的与光源所发射平行光垂直的光线强度。

【技术特征摘要】
1.一种浊度测量装置,包括浊度传感器及信号处理模块,其特征在于,所述浊度传感器包括壳体、光源、光电接收模块,所述壳体为具有一个平面状底面的桶状壳体;所述光源设置于靠近所述底面的壳体侧壁内侧,可向所述底面发射与所述底面的夹角为20°的平行光;所述底面上嵌设有沿光源出射光方向依次排布的两个透明窗镜:第一窗镜、第二窗镜,其中第一窗镜位于光源所发射光线与底面的交点处;所述光电接收模块包括设置于所述壳体内部空间中的两个光电探测器:第一光电探测器、第二光电探测器,分别用于检测从第一窗镜、第二窗镜射入的与光源所发射平行光垂直的光线强度;所述第一光电探测器、第二光电探测器分别与所述信号处理模块电连接,所述信号处理模块可利用样品表面散射法对第一光电探测器输出的信号进行处理,得到第一浊度值,同时,利用样品内散射法对第二光电探测器输出的信号进行处理,得到第二浊度值。2.如权利要求1所述浊度测量装置,其特征在于,所述信号处理模...

【专利技术属性】
技术研发人员:常建华王志丹郭跃朱成刚桂诗信
申请(专利权)人:南京信息工程大学
类型:发明
国别省市:江苏;32

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