检测触摸位置的方法、触摸位置检测装置以及显示装置制造方法及图纸

技术编号:6709985 阅读:158 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种检测触摸位置的方法、执行所述方法的触摸位置检测装置以及具有该触摸位置检测装置的显示装置。在检测触摸位置的方法中,发射光。接收来自发射的光的多个光束。所述光束具有彼此不同的路径。所述光束根据触摸被部分地反射。基于接收的光束中的光的量来检测触摸位置。根据本发明专利技术,可以单独地检测几个触摸元件的触摸位置。

【技术实现步骤摘要】

提供了一种检测触摸位置的方法、一种用于执行所述方法的触摸位置检测装置以 及一种具有所述触摸位置检测装置的显示装置。更具体地讲,提供了一种检测多个触摸元 件中的多个触摸位置的方法、一种用于执行所述方法的触摸位置检测装置以及一种具有所 述触摸位置检测装置的显示装置。
技术介绍
触摸面板是一种输入装置,该输入装置在具有显示器的信息通信装置和用户之间 提供界面。用户用手指或笔直接接触触摸面板,从而用户和信息通信装置可以交换信息。使用触摸面板是一种交互的并且相对直观的操作计算机的方式,因为使用触摸面 板与触摸按钮类似,所以触摸面板容易被所有年龄的人使用。因此,触摸面板的使用被广泛 地应用到例如蜂窝式电话、个人数字助理(PDA)、银行的信息板、公共办公场所、医疗中心或 者游客中心导向板等。这种触摸面板通常采用液晶显示(IXD)装置或阴极射线管(CRT)。触摸面板可以通过用于检测触摸的方法来分类,包括例如电阻/压力感应式、电 容/静电式以及红外式等。例如,红外式触摸面板采用光的某些特性,例如,光直线传播并且被障碍物阻挡, 从而检测触摸。红外式触摸面板包括红外射线发光二极管(LED)和面对红外射线LED的光 电晶体管。红外射线LED发射光并且光电晶体管接收光。当挡光物体(例如手指)放在触 摸面板上时,从红外射线LED发射的光被挡光物体阻挡。然后,可以基于光接收元件(例如 光电晶体管)接收到的光的量来检测光被阻挡的单元位置。然而,红外式触摸面板不能区分由不同触摸元件产生的触摸。例如,红外式触摸面 板不能将手指的触摸与笔的触摸区分开,结果可能检测不到笔的触摸位置。专利技术内容提供了一种单独地检测多个触摸元件的多个触摸位置的方法。还公开了一种用于执行上述方法的触摸位置检测装置以及一种具有所述触摸位 置检测装置的显示装置。一方面,发射光。接收来自发射的光的多个光束。所述光束具有彼此不同的路径。 所述光束根据触摸件被部分地反射。基于接收到的光束中的光的量检测触摸位置。可以单独地接收具有彼此不同的路径的光束。所述光束可以被多个触摸元件部分地反射,所述触摸元件可以具有彼此不同的折射率。所述光可以通过均发射一个或多个光束的多个发光元件发射。通过使发射的光穿过光波导的入射表面来从所述发射的光得到所述光束,所述入 射表面具有多个倾斜表面。可以基于第η光束中的光的量来检测第η触摸元件的触摸位置。可以基于第(η_1)光束中的光的量来检测第η触摸元件和第(η-1)触摸元件的触摸位置。可以利用检测到的 第η触摸元件的触摸位置及检测到的第η触摸元件和第(η-1)触摸元件的触摸位置来检测 第(η-1)触摸元件的触摸位置。这里,η是自然数。另一方面,一种触摸位置检测装置包括发光部件、光波导、光接收部件和检测部 件。发光部件发射光。光波导包括光入射表面、触摸表面和光出射表面。光入射表面靠近 发光部件设置。所述光入射到光入射表面。触摸表面被触摸件触摸。光出射表面与光入射 表面相对。多个光束射出光出射表面。所述光束具有彼此不同的路径。所述光束根据所述 触摸件而被部分地反射。光接收表面靠近光出射表面,并且包括分别接收从光出射表面射 出的光束的多个光接收元件。检测部件基于光接收部件接收到的光束中的光的量来检测触 摸位置。所述发光部件可以包括发射光束的多个发光元件。发光元件的发光表面可以具有彼此不同的方向。光入射表面可以基本垂直于光波导的触摸表面。光出射表面可以基本垂直于光波导的触摸表面。光入射表面可以以第一倾斜角连接到光波导的触摸表面。光出射表面以第二倾斜角连接到光波导的触摸表面。第一倾斜角可以基本等于第 二倾斜角。光波导的光入射表面可以包括多个第一倾斜表面。第一倾斜表面可以将从发光部 件发射的光转换为光束。光波导的光出射表面可以包括多个第二倾斜表面。第二倾斜表面可以分别面对第 一倾斜表面。又一方面,一种显示装置包括发光部件、光波导、光接收部件、检测部件和显示面 板。发光部件发射光。光波导包括光入射表面、触摸表面和光出射表面。光入射表面靠近 发光部件设置。所述光入射到光入射表面。触摸表面被触摸件触摸。光出射表面与光入射 表面相对。多个光束射出光出射表面。所述光束具有彼此不同的路径。所述光束根据所述 触摸件而被部分地反射。光接收表面靠近光出射表面,并且包括分别接收从光出射表面射 出的光束的多个光接收元件。检测部件基于光接收部件接收到的光束中的光的量来检测触 摸位置。显示面板设置在光波导的下方,并且根据触摸位置显示图像。所述发光部件可以包括发射光束的多个发光元件。光入射表面可以以第一倾斜角连接到光波导的触摸表面。光出射表面可以以第二 倾斜角连接到光波导的触摸表面。第一倾斜角可以基本等于第二倾斜角。光波导的光入射表面可以包括多个第一倾斜表面。第一倾斜表面可以将从发光部 件发射的光转换为光束。光波导的光出射表面可以包括多个第二倾斜表面。第二倾斜表面可以分别面向第 一倾斜表面。可以利用被部分反射并且具有彼此不同路径的光束来单独地检测触摸元件的触 摸位置。因此,可以单独使用几个触摸元件。另外,当同时施加各种触摸时,可以准确地区 分触摸元件的触摸。附图说明通过参照附图对示例实施例进行描述,以上和其它特征及优点将变得更加清楚, 附图中图1是示出根据示例实施例的显示装置的透视图;图2是示出图1中的触摸位置检测装置的平面图;图3A至图3C是示出根据图2中的光波导、空气和触摸元件的第一折射率比的第 一光束在光波导中的传输条件的图;图4A至图4C是示出根据图2中的光波导、空气和触摸元件的第一折射率比的第 二光束在光波导中的传输条件的图;图5A至图5C是示出根据图2中的光波导、空气和触摸元件的第二折射率比的第 一光束在光波导中的传输条件的图;图6A至图6C是示出根据图2中的光波导、空气和触摸元件的第二折射率比的第 二光束在光波导中的传输条件的图;图7是沿着图2中的线1-1’截取的触摸位置检测装置的剖视图;图8是示出图7中的第一光束和第二光束的光前进角的图;图9是示出通过图7中的触摸位置检测装置执行的检测触摸位置的方法的流程 图;图10是示出根据另一示例实施例的触摸位置检测装置的剖视图;图11是示出图10中示出的第一光束和第二光束的光前进角的图;图12是通过图10中示出的触摸位置检测装置执行的检测触摸位置的方法的流程 图;图13是示出根据另一示例实施例的触摸位置检测装置的剖视图;图14是示出图13中示出的第一光束和第二光束的光前进角的图;图15是通过图13中示出的触摸位置检测装置执行的检测触摸位置的方法的流程 图。具体实施例方式在下文中,参照附图更加充分地描述示例实施例。然而,本专利技术可以以许多不同的 形式实施,而不应被理解为限于在此提出的示例实施例。相反,提供这些示例实施例,使得 本公开将是彻底的,并且将把本专利技术的范围传达给本领域技术人员。在图中,为了清晰起 见,可以夸大层和区域的尺寸和相对尺寸。应该理解,当元件或层被称作“在”另一元件或层“上”、“连接到”另一元件或层、或 者“结合到”另一元件或层时,该元件或层可以直接在所述另一元件或层上、直接连接到所 述另一元件或层、或者直接结合到所述另一元件或层,或者可以存在中间元件或层。相反, 当元件被称作“直接在”另一元件或层“本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测触摸位置的方法,所述方法包括以下步骤:发射光;接收来自所述光的多个光束,所述光束具有彼此不同的路径,所述光束根据触摸被部分地反射;基于接收到的光束中的光的量检测触摸位置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:金局炫
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR

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