一种过零检测电路制造技术

技术编号:6691805 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种过零检测电路,市电网络的火线连接一桥式整流电路D的第一引脚所述市电网络的零线接所述桥式整流电路D的第三引脚,所述桥式整流电路D的第二引脚通过一电阻R1连接一光耦IC1的一输入端,所述桥式整流电路D的第四引脚连接所述光耦IC1的另一输入端,所述光耦IC1的一输出端接电源,所述光耦IC1的另一输出端通过一电阻R2连接三极管Q1的基极并通过电阻R5接地,所述三极管Q1的集电极通过一电阻R3连接三极管Q1的基极,所述三极管Q1的集电极接检测端口P1.0,本实用新型专利技术的电路结构简单,使用方便。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种应用电路,具体的涉及一种过零检测电路
技术介绍
现有的电路中的过零检测电路形形色色种类繁多,但大多结构复杂,功能复杂,而 在一些只需要功能单一的应用场合下,往往是采用复杂电路结构的过零检测电路来完成单 一的过零检测功能,这样一方面成本会有所提高,另外一方面,电路结构一旦复杂化后,其 背后的不稳定因素也在增加,如此便在无形之中降低了产品合格率。
技术实现思路
为克服现有技术中的不足,本技术的目的在于提供一种结构简单的过零检测 电路。为了解决上述技术问题,实现上述目的,本技术采用了如下技术方案一种过零检测电路,市电网络的火线连接一桥式整流电路D的第一引脚所述市电 网络的零线接所述桥式整流电路D的第三引脚,所述桥式整流电路D的第二引脚通过一电 阻Rl连接一光耦ICl的一输入端,所述桥式整流电路D的第四引脚连接所述光耦ICl的另 一输入端,所述光耦ICl的一输出端接电源,所述光耦ICl的另一输出端通过一电阻R2连 接三极管Ql的基极并通过电阻R5接地,所述三极管Ql的集电极通过一电阻R3连接三极 管Ql的基极,所述三极管Ql的集电极接检测端口 Pl. 0。进一步的,所述光耦ICl本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种过零检测电路,其特征在于:市电网络的火线连接一桥式整流电路D的第一引脚(1),所述市电网络的零线接所述桥式整流电路D的第三引脚(3),所述桥式整流电路D的第二引脚(2)通过一电阻R1连接一光耦IC1的一输入端,所述桥式整流电路D的第四引脚(4)连接所述光耦IC1的另一输入端,所述光耦IC1的一输出端接电源,所述光耦IC1的另一输出端通过一电阻R2连接三极管Q1的基极并通过电阻R5接地,所述三极管Q1的集电极通过一电阻R3连接三极管Q1的基极,所述三极管Q1的集电极接检测端口P1.0。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:胡国良魏王江
申请(专利权)人:苏州合欣美电子科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:32

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