影像测量仪制造技术

技术编号:6620292 阅读:161 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种影像测量仪,包括主机和设置在主机上的显微镜、显微镜倍数自动调整装置以及测量系统,显微镜倍数自动调整装置包括步进马达、编码器和由第一、第二、第三齿轮依次啮合组成的传动系统,步进马达和编码器固定在主机上,第一齿轮设置在步进马达上,第二齿轮设置在编码器上,第三齿轮设置在显微镜的套筒上,控制系统发出控制信号控制步进电机转动,并经传动系统调整所述显微镜的放大倍数,编码器根据第二齿轮的转动角度获得显微镜的放大倍数,并将显微镜的放大倍数发送给主机内的图形生成系统。本实用新型专利技术,通过显微镜倍数自动调整装置自动调整显微镜的放大倍数,进行影像校正,操作方便,大大提高了工作效率。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及影像测量仪
技术介绍
影像测量仪又名精密影像式测绘仪,它是集光、机、电、计算机图像技术于一体的新型高精度、高科技测量仪器。由光学显微镜对待测物体进行高倍率光学放大成像,经过 CCD摄像系统将放大后的物体影像送入计算机后,能高效地检测各种复杂工件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置,特别是精密零部件的微观检测与质量控制,并可将测量数据直接输入到AUTOCAD中,成为完整的工程图。广泛适用于以二坐标测量为目的机械、电子、仪表、 五金、塑胶等行业。影像测量仪在实际使用中,由于被测的工件大小不一,需要用不同的放大倍数进行测量,所以影像测量仪多数采用可连续变倍数的显微镜。目前在市场上和影像测量仪行业内,常用的影像测量仪都是用普通变倍显微镜,当用户在测量过程中需要放大或缩小倍数时,只能通过手动旋转显微镜,调整到需要的倍数。但用户每次手动变倍后需重新进行影像校正,才能保证测量输出的图形前后比例一致。因此操作麻烦,工作效率低。针对这种情况,美国NAVITAR光学系统制造商开发出一种全自动变倍显微镜控制系统,用专用的伺服电机和专用的驱动系统来控制显微镜倍数的变化,但是,这套系统结构复杂,价格高。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是解决影像测量仪操作麻烦,工作效率低,结构复杂,价格高的问题。为了解决上述技术问题,本技术所采用的技术方案是提供一种影像测量仪, 包括主机和设置在主机上的显微镜、显微镜倍数自动调整装置以及测量系统,所述主机内设有用于根据测量系统的测量数据生成图形文件的图形生成系统和控制系统,所述显微镜倍数自动调整装置包括步进马达、编码器和由第一、第二、第三齿轮依次啮合组成的传动系统,所述步进马达和所述编码器固定在所述主机的机座平台上,所述第一齿轮设置在所述步进马达的输出轴上,所述第二齿轮设置在所述编码器的转动轴上,所述第三齿轮设置在所述显微镜的套筒上,所述控制系统发出控制信号控制所述步进电机转动,并经所述传动系统调整所述显微镜的放大倍数,所述编码器根据所述第二齿轮的转动角度获得所述显微镜的放大倍数,并将所述显微镜的放大倍数发送给所述主机内的图形生成系统。在上述方案中,所述第三齿轮上设有第一、第二磁铁,所述显微镜上设有磁应感应器,所述控制系统根据所述磁感应器接近所述第一或第二磁铁发出控制信号,控制所述步进电机停止转动。在上述方案中,所述第三齿轮的上端面上设有轴套,所述第一、第二磁铁设置在所述轴套的外圆周面上,且二者与所述磁感应器高度相同。本技术,通过显微镜倍数自动调整装置自动调整显微镜的放大倍数,进行影像校正,操作方便,大大提高了工作效率。附图说明图1为本技术的立体结构示意图;图2为本技术中显微镜倍数自动调整装置的结构示意图;图3为本技术中第三齿轮的结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本技术作出详细的说明。如图1所示,本技术提供的影像测量仪具有自动变倍功能,包括主机1以及设置在主机上的显微镜2、测量系统3,主机1内设有用于根据测量系统3的测量数据生成图形文件的图形生成系统以及控制系统。该影像测量仪还包括显微镜倍数自动调整装置,显微镜倍数自动调整装置如图2 所示,包括步进马达21、编码器22和由第一、第二、第三齿轮23、24、25依次啮合组成的传动系统。步进马达21和编码器22固定在主机1的机座平台11上,第一齿轮23设置在步进马达21的输出轴上,第二齿轮M设置在编码器22的转动轴上,第三齿轮25设置在显微镜 2的套筒上,套筒左右转动可以调整显微镜的放大倍数,如套筒左转,显微镜倍数放大,套筒右转,显微镜倍数减小。步进电机21的转动通过控制系统发出的控制信号控制,步进电机 21的转动通过传动系统带动套筒转动,套筒转动从而调整显微镜2的放大倍数。编码器22 根据第二齿轮M的转动角度获得显微镜2的放大倍数,并将获得到的显微镜的放大倍数发送给主机1内的图形生成系统,于是,主机的图形系统可以自动获知显微镜的放大倍数,解决了传统影像测量仪需要人工重新进行影像校正的问题,从而实现了全自动测量,大大提高了工作效率。为了保护显微镜,本技术中设有限位装置,具体结构为第三齿轮25的上端面上设有轴套四,轴套四的外圆周面上设有第一、第二磁铁沈、27(如图3所示),显微镜 2上设有磁应感应器观,第一、第二磁铁沈、27以及磁应感应器28的高度相同,控制系统根据磁感应器观接近第一或第二磁铁沈、27发出控制信号,控制步进电机21停止转动。具体来说,当第三齿轮25向右转动至显微镜最小倍数时,第一磁铁沈与磁感应器观相对,于是磁感应器观输出信号至控制系统,控制系统发出控制系统控制步进电机停止转动;当第三齿轮25向左转动至显微镜最大倍数时,第二磁铁27与磁感应器28相对,于是磁感应器观输出信号至控制系统,控制系统发出控制系统控制步进电机停止转动,从而达到限位作用,防止显微镜倍数调整过度,避免损坏显微镜。本技术不局限于上述最佳实施方式,任何人应该得知在本技术的启示下作出的结构变化,凡是与本技术具有相同或相近的技术方案,均落入本技术的保护范围之内。权利要求1.影像测量仪,包括主机以及设置在主机上的显微镜和测量系统,所述主机内设有用于根据测量系统的测量数据生成图形文件的图形生成系统,其特征在于还包括显微镜倍数自动调整装置,所述主机内还设有控制系统,所述显微镜倍数自动调整装置包括步进马达、 编码器和由第一、第二、第三齿轮依次啮合组成的传动系统,所述步进马达和所述编码器固定在所述主机的机座平台上,所述第一齿轮设置在所述步进马达的输出轴上,所述第二齿轮设置在所述编码器的转动轴上,所述第三齿轮设置在所述显微镜的套筒上,所述控制系统发出控制信号控制所述步进电机转动,并经所述传动系统调整所述显微镜的放大倍数, 所述编码器根据所述第二齿轮的转动角度获得所述显微镜的放大倍数,并将所述显微镜的放大倍数发送给所述主机内的图形生成系统。2.如权利要求1所述的影像测量仪,其特征在于所述第三齿轮上设有第一、第二磁铁, 所述显微镜上设有磁应感应器,所述控制系统根据所述磁感应器接近所述第一或第二磁铁发出控制信号,控制所述步进电机停止转动。3.如权利要求2所述的影像测量仪,其特征在于,所述第三齿轮的上端面上设有轴套, 所述第一、第二磁铁设置在所述轴套的外圆周面上,且二者与所述磁感应器高度相同。专利摘要本技术公开了一种影像测量仪,包括主机和设置在主机上的显微镜、显微镜倍数自动调整装置以及测量系统,显微镜倍数自动调整装置包括步进马达、编码器和由第一、第二、第三齿轮依次啮合组成的传动系统,步进马达和编码器固定在主机上,第一齿轮设置在步进马达上,第二齿轮设置在编码器上,第三齿轮设置在显微镜的套筒上,控制系统发出控制信号控制步进电机转动,并经传动系统调整所述显微镜的放大倍数,编码器根据第二齿轮的转动角度获得显微镜的放大倍数,并将显微镜的放大倍数发送给主机内的图形生成系统。本技术,通过显微镜倍数自动调整装置自动调整显微镜的放大倍数,进行影像校正,操作方便,大大提高了工作效率。文档编号G01B11/00GK201983759SQ20112003407公开日2011年9月21日 申请日期2011年2月1日 优先权本文档来自技高网...

【技术保护点】
信号控制所述步进电机转动,并经所述传动系统调整所述显微镜的放大倍数,所述编码器根据所述第二齿轮的转动角度获得所述显微镜的放大倍数,并将所述显微镜的放大倍数发送给所述主机内的图形生成系统。和由第一、第二、第三齿轮依次啮合组成的传动系统,所述步进马达和所述编码器固定在所述主机的机座平台上,所述第一齿轮设置在所述步进马达的输出轴上,所述第二齿轮设置在所述编码器的转动轴上,所述第三齿轮设置在所述显微镜的套筒上,所述控制系统发出控制1.影像测量仪,包括主机以及设置在主机上的显微镜和测量系统,所述主机内设有用于根据测量系统的测量数据生成图形文件的图形生成系统,其特征在于还包括显微镜倍数自动调整装置,所述主机内还设有控制系统,所述显微镜倍数自动调整装置包括步进马达、编码器

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张松涛黄志良
申请(专利权)人:珠海市怡信测量科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:44

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