一种系统管理总线测试装置，包括一扩展卡接口、第一及第二电容，扩展卡接口包括第一及第三金手指引脚，所述第一及第三金手指引脚分别对应扩展卡插口中与系统管理总线的时钟信号线、数据信号线及接地线相连的引脚，第一电容的两端分别与第一及第三金手指引脚电性相连，还分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的时钟信号线上数据的测试探针，第二电容的两端分别与第二及第三金手指引脚电性相连，分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的数据信号线上数据的测试探针。所述系统管理总线测试装置可简单、方便的测试系统管理总线。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试装置，特别涉及一种对系统管理总线(System Management Bus，SMBUS)上的信号进行测试的测试装置。
技术介绍
系统管理总线是电脑主机板上常用的总线，常用来控制电脑主机板上的系统管理总线设备，如一些PCI(Peripheral Component Interconnect，外设部件互连)设备或PCIE设备。在电脑主机板出货前，一般需对系统管理总线进行测试，常见的测试方法是先将一PCI设备或一PCIE设备，如一网卡直接插入电脑主机板上对应的一PCI插口或一PCIE插口上，然后在网卡上找到对应的信号点(包括一数据信号点及一时钟信号点)，并将所述两个信号点通过焊线引出，再连接到测试仪器的探棒上进行测试。但该测试方法存在如下缺点：1.在网卡上用焊线的形式引出测试信号点会对信号的传输品质产生一定的影响，造成测试精度不高。2.焊线焊接的位置无法尽量靠近信号点的末端，造成介入的反射信号较大，同样会使测试精度大大降低。3.如果长时间多次焊接会对网卡造成损坏，进一步提高测试成本。
技术实现思路
鉴于上述内容，本专利技术提供一种可简单、方便测试系统管理总线的测试装置，且该测试装置精度高、成本低。一种系统管理总线测试装置，用于测试一待测电脑主机板上的系统管理总线，所述系统管理总线测试装置包括一板体，所述板体包括一可插接至所述待测电脑主机板上第一扩展卡插口的第一扩展卡接口，所述第一扩展卡接口包括第一及第三金手指引脚，所述第一及第三金手指引脚分别对应所述第一扩展卡插口中与所述系统管理总线的时钟信号线、数据信号线及接地线相连的引脚，所述板体上还设有第一及第二电容，所述第一电容的两端分别与所述第一及第三金手指引脚电性相连，所述第一电容的两端还分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的时钟信号线上数据的测试探针，所述第二电容的两端分别与所述第二及第三金手指引脚电性相连，所述第二电容的两端还分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的数据信号线上数据的测试探针。相较现有技术，所述系统管理总线测试装置通过在所述板体上设置所述第一扩展卡接口，并在所述第一扩展卡接口中设置与所述系统管理总线的时钟信号线、数据信号线及接地线相连的引脚相对应的第一至第三金手指引脚，再通过所述第一及第二电容两端的测试引脚即可方便测试所述系统管理总线的时钟信号线及数据信号线上的数据，测试十分方便，并且无需额外使用网卡等来进行测试，大大节省了成本。另外，由于所述系统管理总线测试装置在测试端加入了第一及第二电容，有效地消除了信号线上的噪音，并可减少信号反射现象的发生，大大提高了测试精度。-->附图说明下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的描述。图1为本专利技术系统管理总线测试装置的较佳实施方式正面的示意图。图2为本专利技术系统管理总线测试装置的较佳实施方式背面的示意图。图3为本专利技术系统管理总线测试装置的较佳实施方式中探针的示意图。图4为利用本专利技术系统管理总线测试装置的较佳实施方式测试一电脑主机板的示意图。主要元件符号说明 板体 10 PCI接口 20 PCIE接口 30 正面 12 背面 14 电容 C1-C4 金手指引脚 21-23、31-34 测试探针 41、42、51、52、61、62、71、72 待测电脑主机板 80 PCI插口 82 测试仪器 90 探棒 91、92具体实施方式请共同参照图1至图3，本专利技术系统管理总线测试装置的较佳实施方式包括一板体10，所述板体10的一边缘设有一PCI接口20，所述板体10的另一边缘设有PCIE接口30，所述板体10的正面12设有两个电容C1及C2，所述板体10的背面14设有两个电容C3及C4。本实施方式中，所述板体10可以为印刷电路板。所述PCI接口20的尺寸符合PCI协议规范，可插接至电脑主机板的PCI插口上，所述PCIE接口30的尺寸符合PCIE协议规范，可插接至电脑主机的PCIE插口(包括1X及16X两种类型)上。所述PCI接口20上设有第一至第三金手指引脚21-23，所述第一至第三金手指引脚21-23分别对应PCI插口上与系统管理总线上的时钟信号线、数据信号线及接地线相连-->的引脚，也就是说，当所述PCI接口20插入一PCI插口上时，系统管理总线中的时钟信号线、数据信号线及接地线分别与所述第一至第三金手指引脚21-23电性相连。所述电容C1的两端分别与所述第一及第三金手指引脚21及23电性相连，所述电容C1的两端还分别向外延伸两测试探针41及42。所述电容C2的两端分别与所述第二及第三金手指引脚22及23电性相连，所述电容C2的两端还分别向外延伸两测试探针51及52。所述PCIE接口30上设有第四至第七金手指引脚31-34，所述第四至第七金手指引脚31-34分别对应PCIE插口上与系统管理总线上的接地线、时钟信号线、数据信号线及接地线相连的引脚，也就是说，当所述PCIE接口30插入一PCIE插口上时，系统管理总线中的接地线、时钟信号线、数据信号线及接地线分别与所述第四至第七金手指引脚31-34电性相连。所述电容C3的两端分别与所述第五及第四金手指引脚32及31电性相连，所述电容C3的两端还分别向外延伸两测试探针61及62。所述电容C4的两端分别与所述第六及第七金手指引脚33及34电性相连，所述电容C4的两端还分别向外延伸两测试探针71及72。图3中仅示出了电容C1及与其相连测试探针41及42，其他电容C2-C4与对应的测试探针51、52、61、62、71、72均具有相同的结构，此处不一一给出。请参照图4，当应用本专利技术系统管理总线测试装置来测试一待测电脑主机板80上的系统管理总线时，将所述系统管理总线测试装置的PCI接口20插接至所述待测电脑主机板80的一PCI插口82上，此时所述待测电脑主机板80上的系统管理总线中的时钟信号线、数据信号线及接地线分别与所述PCI接口20上的第一至第三金手指引脚21-23电性相连，用一测试仪器90(如示波器)上的两个探棒91及92直接接触所述电容C1两端的测试探针41及42即可测试出所述待测电脑主机板80上的系统管理总线中的时钟信号线上的数据，再将探棒91及92直接接触所述电容C2两端的测试探针51及52即可测试出所述待测电脑主机板80上的系统管理总线中的数据信号线上的数据。同理，如果所述系统管理总线测试装置的PCIE接口30插接至所述待测电脑主机板80的一PCIE插口(未示出)上，再用测试仪器90上的探棒91及92直接接触所述电容C3两端的测试探针61及62即可测试出所述待测电脑主机板80上的系统管理总线中的时钟信号线上的数据，再将探棒91及92直接接触所述电容C4两端的测试探针71及72即可测试出所述待测电脑主机板80上的系统管理总线中的数据信号线上的数据。应用本专利技术系统管理总线测试装置对电脑主机板上的系统管理总线进行测试十分方便，并且无需额外使用网卡来进行测试，大大节省了成本。另外，由于所述系统管理总线测试装置在测试端加入了电容C1-C4，有效地消除了信号线上的噪音，并可减少信号反射现象的发生，大大提高了测试精度。-->本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种系统管理总线测试装置，用于测试一待测电脑主机板上的系统管理总线，所述系统管理总线测试装置包括一板体，所述板体包括一可插接至所述待测电脑主机板上第一扩展卡插口的第一扩展卡接口，所述第一扩展卡接口包括第一及第三金手指引脚，所述第一及第三金手指引脚分别对应所述第一扩展卡插口中与所述系统管理总线的时钟信号线、数据信号线及接地线相连的引脚，所述板体上还设有第一及第二电容，所述第一电容的两端分别与所述第一及第三金手指引脚电性相连，所述第一电容的两端还分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的时钟信号线上数据的测试探针，所述第二电容的两端分别与所述第二及第三金手指引脚电性相连，所述第二电容的两端还分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的数据信号线上数据的测试探针。
【技术特征摘要】
1.一种系统管理总线测试装置，用于测试一待测电脑主机板上的系统管理总线，所述系统管理总线测试装置包括一板体，所述板体包括一可插接至所述待测电脑主机板上第一扩展卡插口的第一扩展卡接口，所述第一扩展卡接口包括第一及第三金手指引脚，所述第一及第三金手指引脚分别对应所述第一扩展卡插口中与所述系统管理总线的时钟信号线、数据信号线及接地线相连的引脚，所述板体上还设有第一及第二电容，所述第一电容的两端分别与所述第一及第三金手指引脚电性相连，所述第一电容的两端还分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的时钟信号线上数据的测试探针，所述第二电容的两端分别与所述第二及第三金手指引脚电性相连，所述第二电容的两端还分别向外延伸两个用于测试所述系统管理总线的数据信号线上数据的测试探针。2.如权利要求1所述的系统管理总线测试装置，其特征在于：所述第一扩展卡接口为一PCI接口或一...
【专利技术属性】
技术研发人员：于义筱，王太诚，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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