一种键盘模块测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术适用于测试装置领域，尤其涉及一种键盘模块测试装置，提供了一种键盘模块测试装置，所述键盘模块测试装置，包括：主控模块；与所述主控模块连接的、接受主控模块的测试命令并向主控模块反馈测试键位编码信号的多连板选择模块；与所述主控模块连接的、接受主控模块的模拟按键操作的命令并向主控模块反馈待测键位码值的模拟按键模块；与所述主控模块连接的、显示主控模块测试结果数据的显示模块。本实用新型专利技术通过以模拟按键代替人工按键的设计，解决了现有键盘模块测试技术中存在的测试效率低的问题，可以有效提高测试的效率。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测试装置领域，尤其涉及一种键盘模块测试装置。
技术介绍
传统邦定工序中测试电脑键盘模块的方式是将电脑的成品键盘中的键盘模块拆 除，然后引线至测试架上，将待测的键盘模块装载在测试架上，再运行电脑上的键盘测试软 件，然后通过人工敲击键盘各个按键与电脑屏幕上的所显示被按下的按键对比，检查是否 一一对应，以此来判断键盘模块的好坏。由于电脑键盘按键数量众多，采取人工依次按键测试的方式使电脑键盘模块的测 试工序显得效率低下。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种键盘模块测试装置，旨在解决现有键盘模块测试 技术中存在的测试效率低的问题。本技术是这样实现的，一种键盘模块测试装置，所述键盘模块测试装置包 括主控模块；与所述主控模块连接的、接受主控模块的测试命令并向主控模块反馈测试键位编 码信号的多连板选择模块；与所述主控模块连接的、接受主控模块的模拟按键操作的命令并向主控模块反馈 待测键位码值的模拟按键模块；与所述主控模块连接的、显示主控模块测试结果数据的显示模块。进一步地，所述主控模块包括型号为AVR MEGA16的单片机的微处理器。进一步地，所述多连板选择模块兼容PS\2和USB接口。进一步地，所述多连板选择模块包括多个键盘模块接口。进一步地，所述模拟按键模块包括半导体模拟选择器；所述半导体模拟选择器包括16通道模拟开关以及8通道模拟开关。进一步地，所述16通道模拟开关的型号为⑶4051，所述8通道模拟开关的型号为 CD4067。进一步地，所述显示模块包括LED显示模块以及IXD显示模块。进一步地，所述键盘模块测试装置包括与所述主控模块、所述模拟按键模块以及 所述显示模块分别连接的电源稳压滤波模块；所述电源稳压滤波模块包括104贴片电容组。本技术通过以模拟按键代替人工按键的设计，解决了现有键盘模块测试技术 中存在的测试效率低的问题，可以有效提高测试的效率图3是本技术实施例提供的电 源稳压滤波模块的电路图；附图说明图1是本技术实施例提供的键盘测试装置的结构原理图；图2是本技术实施例提供的模拟按键模块的结构图；图3是本技术实施例提供的电源稳压滤波模块的电路图；图4是本技术实施例提供的电源稳压滤波模块中104贴片电容组的电路图；具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施 例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释 本技术，并不用于限定本技术。本技术实施例通过以模拟按键代替人工按键的设计，解决了现有键盘模块测 试技术中存在的测试效率低的问题，可以有效提高测试的效率。本技术实施例提供了一种键盘测试装置，所述键控板测试装置包括主控模块；与所述主控模块连接的、接受主控模块的测试命令并向主控模块反馈测试键位编 码信号的多连板选择模块；与所述主控模块连接的、接受主控模块的模拟按键操作的命令并向主控模块反馈 待测键位码值的模拟按键模块；与所述主控模块连接的、显示主控模块测试结果数据的显示模块。实施例一图1示出了本技术实施例提供的键盘模块测试装置的结构原理图，为了便于 说明只示出了与本技术相关的部分。主控模块11;与所述主控模块连接的、接受主控模块的测试命令并向主控模块反馈测试键位编 码信号的多连板选择模块12 ；与所述主控模块连接的、接受主控模块的模拟按键操作的命令并向主控模块反馈 待测键位码值的模拟按键模块13 ；与所述主控模块连接的、显示主控模块测试结果数据的显示模块14。在实际工作中，电脑键盘内部其实是一个矩阵扫描电路，其行线和列线有上下两 张导电薄膜构成，当触压某一按键时，即接通某一行和某一列的导线，其位置就能被键盘模 块内部的扫描电路立即测试，从而输出相应的编码信号。在本实施例中，多连扳选择模块12 接上待测键盘模块后，由主控模块11向模拟按键模块13发出模拟按键操作的命令，模拟按 键模块13随即向主控模块11反馈对应于待测键盘模块上某键位的信号。主控模块11根 据该信号向多连板选择模块12发出测试待测键盘上该键位的命令，根据该命令，即可接通 与来自模拟按键模块13的信号相对应的键位上某一行和某一列的导线(等效于按下测试 键盘上的相应键位)，其位置就能被键盘模块内部的扫描电路立即测试，从而输出相应的编 码信号，并向主控模块11反馈该编码信号。主控模块对该编码信号解码后判断该编码是否 与由按键编码组成的键码表相匹配。如果匹配，则继续进行下一个键的测试；如果不匹配， 系统不会马上报错，而是自动进行软件初始化后在重试，当重试后，仍然不匹配，且该不匹 配次数达到50次以上后才通过显示模块进行报错，以排除其他因素导致的脉冲计量错误。4当测试完毕后，主控模块11将分析处理结果发送至显示模块14显示测试结果。本技术实施例通过以模拟按键代替人工按键的设计，解决了现有键盘模块测 试技术中存在的测试效率低的问题，可以有效提高测试的效率。实施例二 作为本技术的一个实施例，选用型号为AVR MEGA16的单片机为主控模块11 的微处理器。该单片机具有16MIPS的处理速度，极低的功耗、32个可编程IO 口，内部拥有 2个8位定时器，1个16位定时/记数器，完全满足测试装置设计的需要。实施例三在本实施例中，多连扳选择模块12兼容PS\2和USB接口，可以通过拨码开关根据 待测键盘模块的接口在切换PS\2模式和USB模式之间进行切换，在实际工作中，系统上电 初始化时，判断系统的工作模式，如果是PS\2模式，则直接对键盘模块进行按键测试；如果 是USB模式，则还需要测量晶振频率是否合格，如果不合格则通过显示模块提示键盘模块 为坏品；如果合格，则继续对键盘模块进行按键测试。在PS\2型测试模式下，测试时间为1 2秒/个；在USB型测试模式下，测试时间 为2 3秒/个；与传统测试模式相比，这两种测试模式极大提高了测试的效率。实施例四本实施例考虑了单、多板测试的兼容问题，使多连扳选择模块12具有多个键盘 模块接口可以实现多块连扳键盘模块的测试。在PS\2接口使用一个信号切换装置，使输入端接入各个待测键盘模块的PS\2时 钟和数据信号，使公共输出端接入单片机。优选地，在PS\2接口使用型号为CD4052的16 通道模拟开关。在USB接口，系统同样使用一个信号切换装置。优选地，使用74LS125三态输出高 有效四总线缓冲门，意味着可以将四路输出信号并联而不影响其他路的信号。另外，使用 TTL电平的数字电路做选通器还可以将正弦的晶振信号整形为方波，方便后面的计数器测 量脉冲。在本实施例中，通过多连扳选择模块可以实现同时测试多个键盘模块，提高了测 试的效率。而且具备PS\2以及USB接口，增强了测试装置的兼容性。实施例五在本技术实施例中，模拟按键模块13用以测试行数为8行，列数为18列的键 盘模块，其中18根列扫描线由一片16通道模拟开关和一片8通道模拟开关组成；8根行扫 描线由另一片8通道模拟开关组成。各模拟开关的通道分别连接到键盘模块对应位置的金 手指上，各模拟开关的公共端全部连接在一起，这样同时选中了某一行线和某一列线时就 会导通。优选地，本实施例的模拟开关分别选用型号为CD4051的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘模块测试装置，其特征在于，所述键盘模块测试装置包括：　　主控模块；　　与所述主控模块连接的、接受主控模块的测试命令并向主控模块反馈测试键位编码信号的多连板选择模块；　　与所述主控模块连接的、接受主控模块的模拟按键操作的命令并向主控模块反馈待测键位码值的模拟按键模块；　　与所述主控模块连接的、显示主控模块测试结果数据的显示模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：舒雄，韦敏荣，
申请(专利权)人：深圳安博电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]