粒子分析仪制造技术

本发明专利技术公开一种粒子分析仪，其包括以下部分：流动池，让含有拍摄目标一多个粒子的试样流过；成像器件，拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第一特征值、关于粒度的第二参数的第二特征值、关于粒度的第三参数的第三特征值；控制部件，生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种通过对粒子图像进行图像解析以获取粒子大小和形状的相关信 息的粒子分析仪。
技术介绍
人们已经知道以前有一种粒子分析仪将粒子悬浊液流入鞘流池，拍摄在该鞘流池 流动的粒子悬浊液中的粒子，解析所摄粒子图像，并显示解析结果(参照特开平8-136439 号和特开平10-318904号)。特开平8-136439号上记述的粒子分析仪根据表示粒子特征的 二个参数(等效圆直径和圆形度)显示二维散点图。特开平10-318904号上记述的粒子分 析仪根据表示粒子特征的三个参数(等效圆直径、圆形度和纵横比)显示三维散点图。等 效圆直径是关于粒度的参数，圆形度和纵横比是关于粒子形状的参数。在粒子分析当中，通过比较关于粒度的三个以上参数往往能得到有用的信息。比 如当比较关于粒度的二个参数判断二个粒子大小基本相同时，在此基础上再加上关于粒度 的第三个参数，则有可能发现二个粒子的大小和形状有显著差别。因此，要更确切地进行粒 子分析，最好能够就粒度比较三个以上参数。这一点在粒子形状的参数上也同样。然而，特开平8-136439号和特开平10-318904号关于粒度或粒子形状都没有比较 三个以上参数。
技术实现思路
本专利技术的范围只由后附权利要求书所规定，在任何程度上都不受这一节
技术实现思路
的陈述所限。本专利技术的粒子分析仪包括以下形态(1) 一种粒子分析仪，包括流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第 一特征值、关于粒度的第二参数的第二特征值和关于粒度的第三参数的第三特征值；控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。本形态涉及的粒子分析仪在同一界面上显示关于粒度的三个参数的特征值，因 此，可以就所摄粒子获得有用的信息。(2)上述⑴所述粒子分析仪，其中所述第一参数是等效圆直径，所述第二参数是长轴径，所述第三参数是短轴径。以此结构，除容易掌握粒子的大小外，还容易掌握粒子外形。(3) 一种粒子分析仪，包括流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒子形状的第一参数 的第一特征值、关于粒子形状的第二参数的第二特征值和关于粒子形状的第三参数的第三 特征值；控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。本形态涉及的粒子分析仪在同一界面上显示关于粒子形状的三个参数的特征值， 因此，可以就所摄粒子获得有用的信息。(4)上述(3)所述粒子分析仪，其中所述第一参数是圆形度，所述第二参数是纵横比，所述第三参数是包络度。(5)上述(1)到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其特征在于所述界面包含雷达图表、折线图、或直线图。以此结构，更易于直观地掌握粒子的特征。(6)上述⑴到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其中所述成像器件拍摄多个粒子，获得多个粒子图像，所述图像处理部件根据所得的多个粒子图像获取所述第一至第三特征值。以此结构，可以根据从多个粒子图像获得的特征值，以数据形式掌握试样的特征。(7)上述(6)所述粒子分析仪，其中所述图像处理部件就所述多个粒子图像分别获取所述第一至第三参数的特征值， 并分别求出获取的所述第一至第三参数的特征值的平均值，将其作为所述第一至第三特征 值。(8)上述⑴到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其中所述成像器件拍摄多个粒子，获得多个粒子图像，所述图像处理部件根据所得各个粒子图像获取所述第一至第三特征值。以此结构，可以比较各个粒子的特征值。(9)上述⑶所述粒子分析仪，其中所述控制部件针对从显示有所述多个粒子的一览表中选择的所述粒子，输出所述界面。以此结构，可以有比较性地显示操作者所指定的粒子的特征。(10)上述⑴到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其中所述界面同时显示就第一试样获取的第一至第三特征值和就第二试样获取的第 一至第三特征值。以此结构可以同时比较二个试样的特征。(11)上述⑴到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其中所述控制部件还有一个输入接受部件，所述输入接受部件用于接受输入以设定所述第一至第三参数。以此结构，可以根据要比较的参数显示比较界面。 附图说明图1为实施方式涉及的粒子分析仪的结构图2为实施方式涉及的信息处理装置显示器上显示的记录一览表界面的例示图；4图3为实施方式涉及的信息处理装置显示器上显示的解析结果界面的例示图4为实施方式涉及的信息处理装置显示器上显示的解析结果界面的例示图5为实施方式涉及的信息处理装置显示器上显示的显示参数设定界面的例示 图6A为实施方式涉及的试样名和参数值的显示图6B为实施方式涉及的试样名和参数值的显示图6C为实施方式涉及的试样名和参数值的显示图7A为实施方式涉及的雷达图表的例示图7B为实施方式涉及的雷达图表的例示图8A为实施方式涉及的雷达图表的例示图8B为实施方式涉及的雷达图表的例示图9A为实施方式涉及的雷达图表的例示图9B为实施方式涉及的雷达图表的例示图9C为实施方式涉及的雷达图表的例示图IOA为实施方式涉及的雷达图表的例示图IOB为实施方式涉及的雷达图表的例示图IOC为实施方式涉及的雷达图表的例示图IlA为实施方式涉及的雷达图表的例示图IlB为实施方式涉及的雷达图表的例示图IlC为实施方式涉及的雷达图表的例示图IlD为实施方式涉及的雷达图表的例示图12为实施方式涉及的信息处理装置显示器上显示的粒子图像一览界面的例示 图13为实施方式涉及的信息处理装置显示器上显示的个别粒子显示界面的例示 图14A为实施方式涉及的粒子名和参数值的显示图14B为实施方式涉及的粒子名和参数值的显示图15A为实施方式涉及的雷达图表的例示图15B为实施方式涉及的雷达图表的例示图15C为实施方式涉及的雷达图表的例示图16A为实施方式涉及的雷达图表的例示图16B为实施方式涉及的雷达图表的例示图16C为实施方式涉及的雷达图表的例示图17A为实施方式涉及的雷达图表的例示图17B为实施方式涉及的雷达图表的例示图17C为实施方式涉及的雷达图表的例示图18A为实施方式涉及的雷达图表的例示图18B为实施方式涉及的雷达图表的例示图18C为实施方式涉及的雷达图表的例示图19A为实施方式涉及的雷达图表的例示图19B为实施方式涉及的雷达图表的例示图19C为实施方式涉及的雷达图表的例示图20为实施方式涉及的信息处理装置的结构图21A为实施方式涉及的粒子图像处理的流程图21B为实施方式涉及的解析结果1的显示处理的流程图22A为实施方式涉及的解析结果2的显示处理的流程图22B为实施方式涉及的个别粒子的解析显示处理的流程图23A为实施方式涉及的雷达图表的变更例显示图2 为实施方式涉及的雷达图表的变更例显示图。具体实施例方式本专利技术的效果及意义通过以下所示实施方式的说明将会更加明晰。但是，以下所 示实施方式归根到底只是将本专利技术具体实施时的一例，本专利技术绝不受以下实施方式的任何 限制。下面参照附图，就本实施方式涉及的粒子分析仪进行说明。图1为本实施方式涉及的粒子分析仪的结构图。粒子分析仪有测定装置1和信息 处理装置2。测定装置1使试样流过流动池，拍摄流到流动池中的试样本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粒子分析仪，包括：流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第一特征值、关于粒度的第二参数的第二特征值和关于粒度的第三参数的第三特征值；控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。

【技术特征摘要】
JP 2009-9-29 2009-2256261.一种粒子分析仪，包括流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过； 成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第一特 征值、关于粒度的第二参数的第二特征值和关于粒度的第三参数的第三特征值； 控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。2.根据权利要求1所述的粒子分析仪，其特征在于所述第一参数是等效圆直径，所述第二参数是长轴径，所述第三参数是短轴径。3.一种粒子分析仪，包括流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过； 成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒子形状的第一参数的第 一特征值、关于粒子形状的第二参数的第二特征值和关于粒子形状的第三参数的第三特征 值；控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。4.根据权利要求3所述的粒子分析仪，其特征在于所述第一参数是圆形度，所述第二参数是纵横比，所述第三参数是包络度。5.根据权利要求1 4中...

【专利技术属性】
技术研发人员：井塚宗久，
申请(专利权)人：希森美康株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]