【技术实现步骤摘要】
本实用新 型涉及一种用于Y谱仪样品测量和实验的测量装置,特别是Y谱仪样 品测试架。
技术介绍
目前,公知的Y谱仪测试架国内外较少,主要是因为一般实验室只有某种实验需 求时,才制作相应的测试架,且测试架构造简单,只能满足单一的功能需求,不具有实用性、 通用性及结构简单等特点,因此不能推广应用。国外用于承载探头的反康Y谱仪升降架构 造较为复杂,设计较为新颖和科学,可以升降。但是它的固定方式为螺母固定,只能满足单 一功能即只承载质量较小的上端探头,因此不能直接推广应用到普通Y谱仪。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种Y谱仪样品测试架,结构简单,易于制造,能用 来承载测量大质量样品或物体,通用性好,实用性强。本技术的目的是这样实现的一种Y谱仪样品测试架,包括上、下底座,上、 下底座均呈圆环形,在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆,在上底座上 竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管,套管与固定杆配合套装在一起,在每根固定杆 的下部都分别配合套装设置着垫圈,垫圈的外径与套管的外径相同,两垫圈的高度相同。本技术测试架通过加垫圈来改变套管套入固定杆的深度。下底座的中心孔作 用是使底座能通过探头并放置在屏蔽室底部,下底座作用是固定整个测试架,上底座用来 放置样品或承重铅准直器等,上底座中的中心孔作用是使样品中的射线透过进入探头。本 技术一方面在测量放射性活度较强的样品时可以方便地通过增加垫圈来调节样品高 度,以减小Y谱死时间对测量结果的影响;另一方面可以承重最多50公斤左右的重量,因 此可以用于大质量样品测量或用类似铅准直器等较重物体进行的实验研究。本技术测 试 ...
【技术保护点】
一种γ谱仪样品测试架,包括上、下底座,其特征是:上、下底座均呈圆环形,在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆,在上底座上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管,套管与固定杆配合套装在一起,在每根固定杆的下部都分别配合套装设置着垫圈,垫圈的外径与套管的外径相同,两垫圈的高度相同。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:田自宁,成智威,贾明雁,
申请(专利权)人:中国人民解放军六三六五三部队,
类型:实用新型
国别省市:65[中国|新疆]
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