【技术实现步骤摘要】
本申请是申请号为201010152216.1的名称为“位置侦测的装置及方法”的专利技术专利申请的分案申请,原申请的申请日是2010年4月16日。
本专利技术涉及一种位置侦测的装置与方法,特别是涉及一种压触式的位置侦测的装置与方法。
技术介绍
美国专利公开号US2007/0198926中,Jouget et al.揭示了一种压触式位置侦测的装置,包括一上电极层与一下电极层,上、下电极层分别包括多数条不同方向的平行排列导线,并且上下层间分布绝缘粒子(spacer),藉以将上、下电极层隔开。因此当上电极层受到下压时,部份上电极层的导线会与下电极的导线接触,其中所有下电极层导线接地。上电极层的导线是循序被驱动,并且在任一条上电极层导线被驱动时,所有下电极层导线皆会被循序侦测一次,藉此可侦测所有上、下电极层导线相交的相叠点。因此被驱动的上电极层导线与被侦测的下电极层导线因下压而接触时,电流会由被驱动的电极层导线流向被侦测的下电极层导线,藉由侦测下电极层导线的讯号,便可以侦测到哪些相叠点被压触。然而如图1所示,当手指压触时可能同时造成一群相叠点同时被压触,在侦测的过程中会造成在后被侦测的下电极层导线的讯号变小,因此必须针对不同位置的相叠点给予不同的比较值,才能在讯号较小时仍可分辨是否被压触。然而这样的解决办法还是可能因为在前被压触的相叠点数过多而不准确,显然地,各相叠点的比较值的建立、储存都需要花上许多成本,但却又无法保证准确度。此外,当分辨率要求比较高时,就必须增加导线的密度,相对地侦测的频率就必须降低。由此可见,上述现有技术显然存在有不便与缺陷,而极待加以进一步改 ...
【技术保护点】
一种校正位置误差的装置,其特征在于包括:一感应器,包括多数条导电条相叠构成的多数个相叠区,其中相叠于任一相叠区的一对被压触导电条因电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区;一驱动器,分别提供一高电位与一低电位;一侦测器,侦侧至少一导电条之一讯号;一选择器,操作性耦合该些导电条于该驱动器与该侦测器;以及一控制器,藉由控制该驱动器、该侦测器与该选择器进行至少以下作业:侦测每一导电条的一端的一未压触电位;侦测每一被压触导电条在该端的一被压触电位;以及依据该未压触电位、该被压触电位判断每一条被压触导电条上的该接触点的一误差比例。
【技术特征摘要】
US 2009-9-23 61/245,063;US 2010-2-5 61/301,6611.一种校正位置误差的装置,其特征在于包括:一感应器,包括多数条导电条相叠构成的多数个相叠区,其中相叠于任一相叠区的一对被压触导电条因电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区;一驱动器,分别提供一高电位与一低电位;一侦测器,侦侧至少一导电条之一讯号;一选择器,操作性耦合该些导电条于该驱动器与该侦测器;以及一控制器,藉由控制该驱动器、该侦测器与该选择器进行至少以下作业:侦测每一导电条的一端的一未压触电位;侦测每一被压触导电条在该端的一被压触电位;以及依据该未压触电位、该被压触电位判断每一条被压触导电条上的该接触点的一误差比例。2.如权利要求1所述的校正位置误差的装置,其特征在于该未压触电位与该被压触电位的侦测包括:轮流选择该些导电条之一成为一被驱动导电条;电性耦合一延伸电阻与该被驱动导电条以构成一延伸导电条;在该延伸导电条未压触时提供该高电位与该低电位于该延伸导电条以侦测该延伸电阻与该被驱动导电条间的电位作为该未压触电位;以及在该延伸导电条被压触时提供该高电位与该低电位于该延伸导电条以侦测该延伸电阻与该被驱动导电条间的电位作为该被压触电位。3.如权利要求2所述的校正位置误差的装置,其特征在于该误差比例为其中VH、VL、Vd与Vu分别为该高电位、该低电位、该被压触电位与该未压触电位。4.如权利要求1所述的校正位置误差的装置,其特征在于该控制器更包括藉由控制该驱动器、该侦测器与该选择器进行至少以下作业:侦测每一接触点的一位置,当该被压触导电条存在一跨同层导电条的接触阻抗时,该未校正位置存在因该跨同层导电条的接触阻抗造成的一误差;以及依据该未校正位置、该偏差比例校正该误差。5.如权利要求4所述的校正位置误差的装置,其特征在于该接触点位置的侦测包括:轮流选择该对被压触导电条之一与另一分别作为一被驱动导电条与一被侦测导电条;在提供一高电位与一低电位于该被驱动导电条两端时侦测该被侦测导电条的电位作为一侦测电位;以及依据该对被压触导电条的该些侦测电位判断出该位置。6.如权利要求5所述的校正位置误差的装置,其特征在于该接触点位置的侦测包括:电性耦合一延伸电阻与该被驱动导电条以构成一延伸导电条;在该延伸导电条未压触时提供该高电位与该低电位于该延伸导电条的两端以侦测该延伸电阻与该被驱动导电条间的电位作为该未压触电位;以及在该延伸导电条被压触时提供该高电位与该低电位于该延伸导电条以侦测该延伸电阻与该被驱动导电条间的电位作为该被压触电位。7.如权利要求6所述的校正位置误差的装置,其特征在于该对导电条之一上的该接触点位于该跨同层导电条的接触阻抗与被提供高电位的该端间时,该被压触导电条之一上的该位置经校正该误差后为其中VP、VH、VL、Vd与Vu分别为该侦测电位、该高电位、该低电位、该被压触电位与该未压触电位。8.如权利要求6所述的校正位置误差的装置,其特征在于该对导电条之一上的该接触点位于该跨同层导电条的接触阻抗与被提供低电位的该端间时,该被压触导电条之一上的该位置经校正该误差后为其中VP、VH、VL、Vd与Vu分别为该侦测电位、该高电位、该低电位、该被压触电位与该未压触电位。9.一种校正位置误差的方法,其特征在于包括:提供多数条导电条相叠构成的多数个相叠区,其中相叠于任一相叠区的一对被压触导电条在电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区;侦测每一导电条的一端在未压触时的一未压触电位;侦测每一被压触导电条在该端的一被压触电位;以及依据该未压触电位、该被压触电位判断每一条被压触导电条上的该接触点的一误差比例。10.如权利要求9所述的校正位置误差的方法,其特征在于该未压触电位与该被压触电位的侦测包括:轮流选择该些导电条之...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶尚泰,陈家铭,何顺隆,
申请(专利权)人:禾瑞亚科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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