【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及受激发射损耗显微技术，具体涉及一种受激发射损耗显微镜中抑制光 斑的生成方法和装置。
技术介绍
近年来，随着受激发射损耗显微(StimulatedEmission Depletion (STED) microscopy，简称STED)技术的提出，远场光学显微成像的分辨率得到极大的改进，可以在 活细胞上看到纳米尺度的蛋白质。它是从物理上打破衍射光学极限的远场荧光显微技术。 其具体原理为使用一束激光在样品表面聚焦产生一个实心小光斑，仅激发一个点的荧光 基团使其发荧光，然后再用另一束激光在样品表面相同位置区域聚焦产生一个面包圈样的 空心光斑抑制那个点周围的荧光强度，这样就只有中间一个小于衍射极限的点发光并被观 察到了。为了使STED显微镜的分辨能力可以打破远场衍射光学极限，在相关技术中最为 关键的技术是如何形成面包圈样的空心聚焦光斑抑制观察点周围的荧光激发，该空心聚焦 光斑称为抑制光斑。文献Hell 等 Q010)Far-field optical nanoscopy, Single Molecule Spectroscopy in Chemistry, ...
【技术保护点】
１．一种受激发射损耗显微镜中抑制光斑的生成方法，包括以下步骤：（１）将由激光器出射的入射光线调制为径向偏振光；（２）将所述的径向偏振光垂直通过一个０／π四象限位相板表面进行位相编码，使所述的径向偏振光产生相对于初始相位的位相延迟，位相延迟的大小由所述的径向偏振光的圆形横截面内过特定点所处的平面极坐标所决定：当处于或区间时，位相延迟为０，当处于或时，位相延迟为π，其中，为所述的０／π四象限位相板平面上所述的径向偏振光垂直Ｚ轴剖面内位置极坐标矢量与ｘ轴的夹角；（３）将经过步骤（２）位相编码后的径向偏振光进行远场超分辨聚焦，聚焦后在焦平面附近形成一个面包圈样的空心聚焦光斑，为受激...
【技术特征摘要】
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