一种测试多入多出设备的多通道辐射特性的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种测试多入多出设备的多通道辐射特性的装置及方法，该方法包括：建立测试通路，将被测终端接收机各通道电路接收的测试数据进行存储，采集测试数据完毕后对存储的各通道的测试数据进行分析得出所述被测终端的多通道特性。该装置包括信号发生器、被测终端、存储设备及信号分析设备；所述信号发生器，用于发射测试信号；所述被测终端，用于接收所述测试信号以及将各通道电路接收的测试数据存储至所述存储设备；所述信号分析设备，用于所述被测终端采用测试数据完毕后对存储的各通道电路接收的测试数据进行分析得出所述被测终端的多通道特性。采用本发明专利技术技术方案，可准确地分析出终端各通道的特性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
１．一种测试多入多出设备的多通道辐射特性的方法，包括：建立测试通路，将被测终端接收机各通道电路接收的测试数据进行存储，采集测试数据完毕后对存储的各通道的测试数据进行分析得出所述被测终端的多通道特性。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄旭，禹忠，彭宏利，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]