【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及温度试验
，尤其涉及一种温度试验方法及设备。
技术介绍
环境温度试验是将电子设备在预先设置的环境温度下，测试电子设备正常工作的 持续时间、电子设备的性能等的试验。环境温度参数是电子设备的一个重要指标。大多数 电子设备都需要进行环境温度试验。电子设备都是以整机的形式工作，因此现有技术中对电子设备的环境温度试验也 是对电子设备整机进行。通常，环境温度试验设备是试验温箱，该试验温箱提供一个密闭的 空间，在特定时刻该密闭空间提供一个均勻一致或近似均勻一致的温度。被试验的电子设 备放置在试验温箱内，试验温箱控制箱内的温度，从而测试电子设备整机对于温度的适应 能力。不过，在一些特定的应用场合，例如在一些需要掌握电子设备中某个关键部件的 环境温度参数的场合，就需要对电子设备内的某个关键部件的环境温度进行试验。而采用 现有的温度试验方法则无法对电子设备中的局部元件进行环境温度试验。因为现有技术中 的试验温箱之类的环境温度试验设备只能为电子设备整机提供一个统一的温度，而无法对 电子设备的局部元件提供各自所需的试验温度，以进行差异化的温度试验。专利技术内...
【技术保护点】
１．一种温度试验方法，其特征在于，包括：为电子设备整体提供第一温度；将局部温度调节单元移动到与所述电子设备中的目标局部元件之间在预设距离之内的位置；控制所述局部温度调节单元对所述目标局部元件的温度进行调节，并检测与所述目标局部元件相对应的局部区域的温度；在检测到所述局部区域的温度达到第二温度时，控制所述局部温度调节单元停止温度调节；对所述电子设备进行检测以获取其工作状态信息。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：于万瑞，王淬寒，杨勇，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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