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本发明提供一种温度试验方法及设备，其中方法包括：为电子设备整体提供第一温度；将局部温度调节单元移动到与所述电子设备中的目标局部元件之间在预设距离之内的位置；控制局部温度调节单元对所述目标局部元件的温度进行调节，并检测与所述目标局部元件相对应...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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