【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数字图像测量
，特别是采用计算机摄像头测量物体的二维微小位移的方法及其装置。
技术介绍
为了发挥计算机摄像头的光电传感器阵列的功能，最近提交的专利技术专利“以二 维三基色对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置”(申请号=200910191320. 9)分解 图像帧为三幅基色帧，分别提取它们各自的基色对比度作为其图像的特征，并应用关联匹 配技术测量物体的微小的位移，取其平均值作为测量结果，充分地利用光电探测传感器的 性能。另一份专利技术专利“以二维对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置”(申请号 200910190925. 6)提取图像帧的明暗对比度作为图像的特征，应用关联匹配技术测量物体 微小位移。所述两份专利的测量方法新颖，但是，前者的分析运算量较大，影响测量速度，后 者会受到测量环境中有关波长光照及其变化的影响。
技术实现思路
鉴于上述情况，本专利技术提供一种以二维单基色对比度为特征帧匹配测量位移的方 法及装置，它利用计算机摄像头，通过拍摄，测量物体在与摄像头的光轴相垂直的平面上的 二维位移矢量和速度矢量。本专利技术解决其技术问题所采用的技术...
【技术保护点】
１．以二维单基色对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置，由一台计算机及其摄像头组成，其特征在于，所述计算机还配置有摄像头拍摄及二维单基色边方向数据帧匹配测量位移程序。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曾艺，张海明，徐其明，
申请(专利权)人：重庆工商大学，
类型：发明
国别省市：85[中国|重庆]
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