用于光学信息再现装置的跟踪装置制造方法及图纸

一种用于光学信息再现装置的跟踪装置包括下列部件：光电检测器（１），其中会聚在记录介质上的光点的远场图案形成在整个被划分的光接收单元上；运算单元（２），用于由所述光电检测器（１）的所述输出中输出至少一对运算信号；相位比较器（４），用于检测所述运算单元（２）的输出信号之间的相位差；绝对值检测器（８），用于检测所述相位比较器（４）的所述输出信号的绝对值；电平检测器（９），用于通过对所述绝对值检测器（８）的所述输出信号变得大于预定值检测预定次数或者更多次来生成表示所述光点的会聚位置是否偏离信息轨道的信号；灵敏度检测器（１０），用于通过观测所述电平检测器（９）的所述输出信号来检测并输出所述电平检测器（９）的所述灵敏度；以及控制器（１１），用于调整所述电平检测器（９）的所述检测条件，使得所述灵敏度检测器（１０）的所述输出为预定值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于光学信息再现装置的跟踪装置，该光学信息再现 装置光学地读取来自记录介质的信息。
技术介绍
近年来，用于光学地读取来自诸如光盘(CD)和DVD的记录介质的 信息的光学信息再现装置已得到经常使用。在这些记录介质中，信息被记 录在具有很小宽度的信息轨道上，且通常要求精确的跟踪控制以再现来自 信息轨道的信息，需要检测跟踪误差以执行跟踪控制，并且通常使用光学 手段来执行所述检测。存在几种已知的用于光学检测跟踪误差的方法。在 一种方法中，使用包括被划分的光接收单元的光电检测器。通过由每个光 接收单元检测到的光输出电信号，并且经由输出信号之间的相位差捡测出 跟踪误差。在下文中，将该方法称为"相位差方法"。此外，还有已知的三 光束法，该方法中除了用于接收读取信息的主光束的光电检测器之外，还 使用用于接收一对检测跟踪误差的子光束的光电检测器来从信号之间的电 平差检测出跟踪误差。光学信息再现装置的一个主要优点是对目标信息的访问时间短。为了 利用这一优点，在目标信息轨道上迅速和稳定地执行跟踪伺服是很重要的。在下文中，将参照附图描述用于上述常规的光学信息再现装置的跟踪 装置的示例。图4示出了采用相位差方法的常规光学信息再现装置的跟踪装置中的 跟踪控制信号检测器。在图4中，附图标记l代表光电检测器，2代表运算 单元，4代表相位比较器，5代表低通滤波器，6代表比较器，7代表前置 放大器，8代表绝对值检测器以及9代表电平检测器。在下文中，将描述图4中所示的常规跟踪控制信号检测器的配置和操作。如图4所示，光电检测器1包括通过与信息轨道映射延伸的方向基本 平行的分界线和基本垂直于前述分界线的分界线而彼此分开的四个光接收 单元A、 B、 C和D。运算单元2对这四个光接收单元的输出进行计算，使 得能够检测跟踪相位差。因此，运算单元2输出至少一对运算信号。相位 比较器4对该对运算信号的相位进行比较并且输出跟踪相位差信号(信号 J)。此外，低通滤波器5去除信号J中的波纹(ripple)分量并且输出跟踪 误差信号。比较器6将所述跟踪误差信号与基准电平进行比较，并因此能 够输出表示光点已经跨过信息轨道的跨过信号(cross signal) (JP S52-93222A， JP S57-181433A)。绝对值检测器8接收相位比较器4的输出并且输出跟踪相位差绝对值 信号(信号K)。电平检测器9对己经变得大于预定值的信号K检测预定的 次数或者更多次，并且输出信号(所谓的偏离轨道信号)，即当光点定位于 信息轨道时输出"L"电平的信号，或者在光点定位于信息轨道之间时输出 "H"电平的信号(JP2701322A)。除了 "偏离轨道信号"之外，还可以使 用其他术语来描述表示光点是否定位于信息轨道的信号。如上所述，在本 说明书中，将该信号称为"偏离轨道信号"。由光电检测器1的输出获得信息再现信号并通过前置放大器7将其放 大为RF信号。跨过信号用于对读取信息的光点在访问目标信息轨道时跳过的轨道数 进行计数，或者用于检测在诸如暂停操作的假动作(trickplay)中跳过的轨 道。偏离轨道信号例如用于确定跟踪伺服的稳定性。从跨过信号和偏离轨道信号之间的相位关系能够检查出方向信号，所 述方向信号表示光点在访问目标信息轨道时移动的方向。通过使用这一方 向信号，可以对能够在短时间内收敛跟踪装置的机械振动的跟踪中断设备 进行操作。另外，如果使用跨过信号和偏离轨道信号来执行波形整形以去 除边缘噪声，则能够更精确地对跳过的轨道数进行计数。
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，如上所述的常规配置具有下列问题由于偏离轨道信号是由跟踪相位差绝对值信号(信号K)获得的，所以如果由于例如产生光点偏差 而造成相邻轨道的信息信号与正常信息信号混合时，即使在光点与信息轨 道有小的偏离的情况下跟踪相位差信号(信号J)也会变得更大，并且跟踪 相位差绝对值信号(信号K)也会变得更大，其中所述光点偏差是由记录 介质的翘曲、光学特性的偏差或者用作信息读取手段的光拾取器的光轴倾 斜引起的。因此，如图5所示，表示光点定位于信息轨道之间的"H"电平 的偏离轨道信号的占空比大大增加，而不能成功地检测到信号。如果偏离 轨道信号的占空比不平衡并且错误地检测到方向信号，则跟踪装置的操作 变得不稳定。在包括多层信息记录表面以记录更多信息的光盘，例如己经在DVD中 实际使用的双层光盘的情况下，通过光拾取器的聚焦致动器的移动来选择 信息记录表面中的一个，从而再现信息。然而，与上述情况类似，如果由 于聚焦致动器的移动造成光拾取器的光轴略微倾斜，则不能成功地获得偏 离轨道信号。这会妨碍未来记录介质的层数的进一步增加。考虑到这些情况，本专利技术的目的在于提供一种用于光学信息再现装置 的跟踪装置，其能够稳定地操作而不受记录介质的翘曲、光学特性的偏差 或者用作信息读取手段的光拾取器的光轴倾斜的干扰。解决问题的手段为了实现上述目的，根据本专利技术的用于光学信息再现装置的跟踪装置 包括下列部件光电检测器，包括通过与记录介质的信息轨道的映射延伸 的方向基本平行的分界线和基本垂直于前述分界线的分界线而被划分为至 少四个区域的光接收单元，在所述记录介质上光学地记录有信息，其中会 聚在所述记录介质上的光点的远场图案形成在所划分的光接收单元的整个 区域上；运算单元，用于接收所述光电探测器的输出并且输出至少一对运 算信号，从而能够检测跟踪相位差；相位比较器，用于检测所述运算单元 的输出信号之间的相位差；绝对值检测器，用于所述相位比较器的输出信 号的绝对值；电平检测器，用于通过检测绝对值检测器的输出信号的过阈 值频率变得大于预定值来生成表示光点的会聚位置是否偏离记录介质的信 息轨道的信号；灵敏度检测器，用于通过观测由所述电平检测器输出的信号来检测和输出所述电平检测器的灵敏度；以及控制器，用于调整所述电 平检测器的检测条件，使得所述灵敏度检测器的输出为预定值。专利技术效果在本专利技术的光学信息再现装置的跟踪装置中，灵敏度检测器观测电平 检测器输出的信号，并且控制器调整电平检测器的检测条件使得电平检测 器的输出信号最佳。因此，电平检测器的输出信号较少地受到记录介质的 翘曲、光学特性的偏差、或者设置于光学信息再现装置中的光拾取器的光 轴倾斜的干扰。因此，可以显著地改善能够应对记录介质的变化等的跟踪 装置的稳定性。附图说明图1是具体示出在根据本专利技术第一实施例的光学信息再现装置的跟踪 装置中用于检测跟踪控制信号的部分的功能配置的方框图。图2是示出图1中所示的方框的主要输出信号的波形的信号波形图。图3是具体示出在根据本专利技术第二实施例的光学信息再现装置的跟踪 装置中用于检测跟踪控制信号的部分的功能配置的方框图。图4是示出在常规光学信息再现装置的跟踪装置中用于检测跟踪控制 信号的部分的功能配置的方框图。图5是示出在常规跟踪控制信号检测器中诸如光轴倾斜的不利条件的 信号波形图。具体实施例方式本专利技术的光学信息再现装置的跟踪装置包括电平检测器，其用于通过 检测绝对值检测器的输出信号的过阈值频率变得大于预定值来生成表示光 点的会聚位置是否偏离记录介质的信息轨道的信号；灵敏度检测器，其用 于通过观测由所述电平检测器输出的信号来检测并输出电平检测器的灵敏 度；以及本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光学信息再现装置的跟踪装置，包括：　光电检测器，包括通过与记录介质的信息轨道的映射延伸的方向基本平行的分界线和基本垂直于前述分界线的分界线而被划分为至少四个区域的光接收单元，在所述记录介质上光学地记录有信息，其中会聚在所述记录 介质上的光点的远场图案形成在所划分的光接收单元的整个区域上；　运算单元，用于接收所述光电检测器的输出并且输出至少一对运算信号，从而能够检测跟踪相位差；　相位比较器，用于检测所述运算单元的输出信号之间的相位差；　绝对值检测器 ，用于检测所述相位比较器的输出信号的绝对值；　电平检测器，用于通过检测所述绝对值检测器的输出信号的过阈值频率变得大于预定值来生成并输出表示所述光点的会聚位置是否偏离所述记录介质的信息轨道的信号；　灵敏度检测器，用于通过观测由所述 电平检测器输出的信号来检测并输出所述电平检测器的灵敏度；以及　控制器，用于调整所述电平检测器的检测条件，使得所述灵敏度检测器的输出为预定值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：中村正义，西冈昭彦，中田康夫，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]