本发明专利技术涉及一种用于监控结构相同的至少三个电发光体中的多个电发光体的方法，包括：ａ．对所述发光体中的多个发光体施加以来自至少一个镇流器的至少一个供给信号，ｂ．分别针对每个单个的发光体读取至少一个参数，ｃ．从不同发光体的所读取的参数的至少一些参数中形成至少一个参考值，ｄ．将参考值与发光体中的单个发光体的参数进行比较，ｅ．针对每个如下发光体生成信号：该发光体的参数相对于参考值超过预先给定的偏差。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于监控多个电发光体的方法以及 用于借助紫外辐射对物质进行消毒的装置本专利技术涉及一种用于监控多个电发光体的方法以及一种根据权利要求19的前序部分所述的用于借助紫外辐射来对物质进行消毒的装置。在对水、例如饮用水、废水、泳池7JC等等进行消毒的领域中已公开如下的装备在这些装备中同时驱动多个结构相同的紫外气体放电管。根据 设备的大小，在此涉及若干个管直至超过10000个管。后面提及的大型设 备例如用于在相应的净化步骤之后将为了净化废水而使用的微生物杀死。 所使用的紫外管成本高昂，并且因此希望的是，将这些紫外管就其寿命进 行优化。另一方面，通常并不合乎目的的是在这种设备工作时直到管完全 故障才维护，因为其工作能力由于多种可能的效应已经事先降低。而在消 毒和杀死微生物的领域中，在任何时候都必须保证设备的完全的功能作 用。已经表明的是，特别是在使用在用于水消毒的设备中时，发光体的当前的工作参数并未给出针对发光体的工作状态的非常可靠的要点。这尤其 是由于这些工作M与外部影响如水温、水的流动速度等等有关的相当大的波动范围而造成的。本专利技术的任务是，提出 一种用于监控至少三个结构相同的电发光体中 的多个电发光体的方法以及一种根据权利要求19的前序部分所述的装 置，其中单个发光体的寿命的利用被分别优化。该任^Ht对开头所提及的方法借助权利要求1的特征来解决。通过将 单个的发光体的参数与由其他发光体的参数中的至少一些参数形成的参 考值进行比较，可以得到关于发光体工作状态的说明，如果这些影响基本 上同样地作用到整个发光体上，则该说明很大程度上与外部的影响无关。 特别地，这涉;5L^光体的工作温度，该工作温度受外部条件影响。如果发 光体之一以其参数与通过一定数量的发光体形成的参考值足够明显地偏 差，则产生相应的信号。该信号可以导致直接更^L光体。根据设备的大 小以及必要时根据其他信息，也可以设计的是，首先收集一些信号或者引入其他的控制例程。在足够数量的发光体和各自寿命足够分散以;M目应频5繁地重复方法步骤的情况下，多个发光体同时表现出其参数的相应大的偏 差的概率是可忽略的，使得不大可能产生故障信号。在优选的实施形式中，参考值简单地为^lt的平均值。参考值特别是可以由所读取的4^P^形成。在足够大量的发光体的 情况下(这些发光体至少多数处于良好的工作状态中)，通过这种方式在 统计上近似了发光体的最优的平均工作值。特别地，在有较少发光体的情 况下，发光体的偏差已经决定性地影响了参考值。在该情况下，可以优选 地设计的是，分别在没有考虑在步骤C.中要与参考值比较的M的情况下 形成参考值。通常有利的是，步骤b至e特别是以相同的时间间隔重复。在此，重 复持续时间有利地明显小于发光体的平均寿命，并且特别有利的是小于不 同的发光体的寿命的平均偏差。在优选的改进方案中，发光体中的每个发光体的M在一个时间间隔 上被多次读取和存储，其中可以确定参数和参考值的时间分布。通过这种 方式，可以特别有利地确定M的改变iUL，这可能可以提供重要的说明。 例如在包含汞齐的紫外气体放电管的情况下，有时导致滴干积聚的汞齐， 这引起管的工作参数的非常短暂的变化。有问题的参数的绝对变化在此可 以完全处于可容忍的范围中，其中信号的高变化速度将该发光体识别为至 少在下一个例行维护的范围中要更换的发光体。在另一例子中，该时间间 隔可以位于在接通设备之后热平衡的调节的范围中。正常工作的发光体分 别具有类似的持续时间来达到热平衡，其中该持续时间可以明显地取决于 环境影响。例如具有蒸镀物并且由此降低了其向外发射的辐射功率的发光 体通常具有对达到其热平衡明显偏差的持续时间。除此之外，在平衡状态 中这种发光体可以以其另外的工作M显得完全不引人注目。此外，可以 测^JL光体的瞬时特性，并且与由其他发光体形成的参考值进行比较。这 种瞬时特性例如可以是在工作参数对例如供给电压的瞬间变化的阶跃响 应中。明显与参考值有偏差的阶跃响应可以是识别有缺陷的或者接近其寿 命终点的发光体的提前指示。原则上，根据本专利技术的方法的术语"M" 和"参考值，，也应当理解为这种响应曲线的微分分析或者一般地为在时间 间隔上获得的值的集合的微分分析。在一个优选的实施形式中，镇流器的供给信号根据额定值来被调节。 常见的紫外气体放电管通常用这种方式来描述。例如，发光体可以被调节 到作为额定值的恒定电流强度上，其中供^HT号或者供给电压是要调节的量。有利的是，在此从施加在发光体上的供给信号得到发光体的参数。简 单的是，^t为发光体的有效的供给电压。在根据本专利技术的方法的一个可简单地实现并且可靠的实施形式中，参考值Aic光体的有效的供给电压的 平均值，其中预先给定的偏差不超过平均值的大约10%，特别是平均值的大约5%。在特别优选的实施形式中，额定值^JL光体中的 一个或多个发光体的 有效电流强度。可替选地，额定值也可以pUL光体中的一个或多个发光体 的电功率。在一个可有利地实现的实施形式中，供给信号通过脉宽调制来调节。 优选的是，在此可以通过供给信号的占空比来调节有效的供给电压，其中 供给信号特别是恒定幅度的矩形电压。供给信号的这种控制可以以特别简 单和成本低廉的方式借助镇流器中的数字电子设备来实现。在优选的实施形式中，发光体分别是气体放电管。气体放电管成本高 昂，并且在其寿命上表现出比较复杂的特性。此外，它们在其工作M方 面对于外部影响如环境温度相当敏感，使得根据本专利技术的方法能够有利地 以特别的方式与气体放电管结合。当所述多个发光体包括至少10个、特别为至少100个发光体时，通 过实施根据本专利技术的方法，可以特别有效地优化运行成本和运行安全性。 原则上，该方法在三个分离的、结构相同的发光体情况下也已经可以使用， 因为在假设三个发光体中的两个发光体位于额定状态中时，可以明确地确 定第三发光体的偏差。在有利的实施形式中，发光体中的每个发光体都在独立的供给信号的 意义上与一个镇流器关联。原则上，镇流器也可以驱动所述多个发光体中 的全部发光体或者驱动所述多个发光体中的小组。例如，于是可以调节通 过镇流器驱动的发光体的恒定的总电流。为了能够在这种装置中读取各发 光体的^lt,通常需要分别测量例如单个发光体的供给电压。如果每个发 光体都在分离的供给电压的意义上与分离的镇流器关联，则供给电压或者 另一工作参数可以被直接地从镇流器中读取，例如通过数字总线系统来读取。在该意义中，供^ft号的分离应当理解为，不同的发光体的各个镇流 器可以完全集成于共同的壳体中或者集成在电路板上。重要的仅仅是分离 发光体的供^ff号。对于开头所提及的装置，本专利技术的任务通过权利要求19规定的特征来解决。通过在用于对物质进行消毒的装置的处理计算机上实施根据权利要求1至18中的任一项所述的方法， 一方面可以最优地利用单个发光体 的寿命，并且另一方面可以保证装置的最优功能。在优选的实施形式中，通it^L光体的紫外辐射产生臭氧，其中物质的 消毒至少部分地通过所产生的臭氧来进行。在特别适合的装置中，该物质 为水，特别A^7jC或者饮用水。在这种设备中，发光体通常受到由于水引 起的显著的热影响。水温的改变或者流动速度特别是在气体放电管的情况 下明显影响了发光体，使得将本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于监控结构相同的至少三个电发光体（１，２，３）中的多个电发光体的方法，包括： ａ．对所述发光体（１，２，３）中的多个发光体施加以来自至少一个镇流器（４，６，７，８）的至少一个供给信号， ｂ．分别针对每个单个的发光体（１，２ ，３）读取至少一个参数， ｃ．从不同发光体（１，２，３）的所读取的参数的至少一些参数中形成至少一个参考值， ｄ．将所述参考值与发光体（１，２，３）中的单个发光体的参数进行比较， ｅ．针对每个如下发光体（１，２，３）生成信号 ：所述发光体的参数相对于参考值超过预先给定的偏差。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：扬鲍里斯勒森贝克，
申请(专利权)人：韦德科公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]
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