蒸发光散射检测器制造技术

公开了适用于蒸发光散射检测器和其它装置中的构件。还公开了制造和使用适用于蒸发光散射检测器和其它装置中的构件的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】蒸发光散射检测器 制月令页M 本专利技术涉及适于在分析装置如蒸发光散射检测器(ELSD)中使用的多种构件。本 专利技术还涉及制造和使用如蒸发光散射检测器(ELSD)装置中的各种构件的方法。 制月體 在本领域中存在对适于在分析装置如蒸发光散射检测器(ELSD)中使用的各种构 件的需要，以便提供改进的装置性能。 专利技术概沭 本专利技术通过探索适用于分析装置包括，但不局限于，蒸发光散射检测器(ELSD)中 的构件来解决上面所讨论的一些困难和问题。相对于在分析装置中所使用的公知构件，本 专利技术的构件提供了一个或多个优点。该一个或多个优点可以包括，但不局限于，沿着管状部 件如漂移管的长度提供更稳定的加工温度的能力；沿着管状部件如漂移管的长度监测和/ 或调节加工温度的能力；为了清洁单个构件而有效和高效地拆卸构件的能力；以及放大被 输入的电压信号以便提供具有电压分量的输出电压的能力，该电压分量独立于施加到输入 电压信号上的增益。 在一个示范性实施例中，本专利技术的构件包括组合式管状部件，该组合式管状部件包括具有第一端部、第二端部、面向管状壁结构的内部的内壁表面、以及外壁表面的管状壁结构，该管状壁结构包括第一金属的内层和第二金属的外层，该第二金属与第一金属相比具有更高的传热系数。该内层可以包括，例如不锈钢，而该外层可以包括，例如铜。 在另一个示范性实施例中，本专利技术的构件包括管状部件，该管状部件包括具有第一端部、第二端部、长度L、面向管状壁结构的内部的内壁表面、以及外壁表面的管状壁结构；沿着管状壁结构的长度L定位的两个或多个温度传感器；和沿着管状壁结构的长度L定位在外壁表面上方的加热元件。在一个理想的实施例中，加热元件能够维持沿着长度L小于大约『C的平均温度梯度。管状部件可以进一步包括沿着管状壁结构的长度L定位在外壁表面上方的一个或多个加热元件。 本专利技术进一步涉及适合与漂移管和蒸发光散射检测器一起使用的筒/撞击器 (cartridge/impactor)组件，其中该筒/撞击器组件包括(1)筒，该筒包括(i)具有一定大 小的筒插入部，以便可沿着漂移管的内壁表面在漂移管的第一端部中延伸，和(ii)沿着筒 插入部的长度的撞击器定位部件，该撞击器定位部件能够暂时地将撞击器紧固在筒插入部 中，以便占据经过筒插入部的一部分流动截面面积；和(2)至少一个可选的撞击器，该撞击 器大小定制成以便可经由撞击器定位部件而定位在筒插入部中。在一个理想的实施例中， 撞击器是属于具有大小和几何形状变化的一组撞击器中的一个撞击器，该组撞击器在筒插 入部中是可互换的，以便可以调节经过筒插入部的流动截面面积。例如，可以设计成组的撞 击器，以便占据经过筒插入部从大约25%到大约75%之间的总流动截面面积。 本专利技术还涉及适用于将一个或多个可选的撞击器定位在漂移管中的一个或多个 固定位置处的筒，该筒包括(i)筒插入部，其大小定制成以便可沿着漂移管的内壁表面在 漂移管的第一端部中延伸，和(ii)沿着筒插入部的长度的至少一个撞击器定位部件，该撞击器定位部件能够暂时地将撞击器紧固在筒插入部中，以便该撞击器占据经过筒插入部的一部分流动截面面积。如上面所讨论的，筒可以包括属于一组撞击器中的一个撞击器，其中，该组撞击器包括具有各种不同的撞击器大小的两个或多个撞击器，在该组撞击器中的各个撞击器均经由撞击器定位部件而可移除地附接到筒插入部上，以便占据经过筒插入部的一部分流动截面面积。 本专利技术甚至进一步涉及电子电路，该电子电路包括能够给输入的电压信号提供电压增益的电压放大器；与电压放大器串联的输出电阻器；给输出电阻器提供恒定电流的电流源；和与电流源串联的电流导引二极管，该电流导引二极管提供从电流源到输出电阻器的恒定电流的单向流；该电子电路能够提供包括电压偏移分量的输出电压，该电压偏移分量独立于由电压放大器所提供的放大器增益。电子电路可以与附加的电子构件、一个或多个外部系统构件、或者二者组合使用。 本专利技术还涉及制造和使用本专利技术的一个或多个上述构件的方法。可以使用本专利技术的一个或多个上述构件，以执行分析测试方法的步骤，如分析可能地包含至少一个分析物的试样的方法。在一个示范性实施例中，该方法包括将试样引入到管状部件中，该管状部件包括具有长度L、第一端部、第二端部、面向管状壁结构内部的内壁表面、以及外壁表面的管状壁结构，并且该管状部件至少部分地由加热元件所围绕；并且该方法包括将管状壁结构的内部维持在一定温度处，以便该内部具有沿着长度L小于大约8t:的平均温度梯度。在一些实施例中，该方法包括将管状壁结构的内部维持在一定温度处，以便该内部具有沿着长度L低到大约1. 5t:的平均温度梯度。 本专利技术甚至进一步涉及使用本专利技术的上述电子电路以处理输入的电压信号的方法。在一个示范性实施例中，该方法包括步骤提供输入的电压信号；经由电压放大器放大输入的电压信号；和将输入的电压信号转换成包括电压偏移分量的输出电压，该电压偏移分量独立于由电压放大器所提供的放大器增益。可以在包含一个或多个附加的电子构件的电子系统中执行该示范性方法，其中该附加的电子构件中的至少一个附加的电子构件不能处理负输入电压。还可以在包含一个或多个外部系统构件的系统中执行该示范性方法，其中负输入电压呈负地影响外部系统构件中的至少一个外部系统构件的输出。 在回顾了所公开实施例和所附权利要求的下列详细描述之后，本专利技术的这些和其它特征和优点将变得显而易见。 附图简要描沭 附图说明图1描绘了本专利技术的示范性组合式管状部件； 图2描绘了图1中所示的示范性组合式管状部件的视图，其中在该组合式管状部件上带有多个传感器； 图3描绘了图2中所示的示范性组合式管状部件的视图，其中将加热元件定位在该多个传感器上方； 图4描绘了图3中所示的示范性组合式管状部件沿着线A-A的截面图； 图5描绘了本专利技术的示范性筒/撞击器组件； 图6描绘了图5中所示的示范性筒/撞击器组件的截面图； 图7A至图7B分别描绘了适合与图5至图6中所示的筒/撞击器组件一起使用的第一示范性撞击器的正视图和侧视 图8A至图8B分别描绘了适合与图5至图6中所示的筒/撞击器组件一起使用的第二示范性撞击器的正视图和侧视图；禾口 图9提供了现有技术的适用于装置如蒸发光散射检测器(ELSD)装置中的电子电路的原理图。 制月糊娜 为了促进对本专利技术原理的理解，下文是对本专利技术特定实施例的描述，并且使用特定文字来描述这些特定实施例。然而，将应理解的是，对特定文字的使用并非意图限制本专利技术的范围。所讨论的本专利技术原理的备选方案、进一步的修改以及这样的进一步应用视作为是本专利技术所属领域中的普通技术人员通常所能想到的。 本专利技术涉及适于在分析装置中使用的多种构件，其中，该分析装置包括但不限于蒸发光散射检测器(ELSD)设备、电雾式检测器(如Corona CAD)设备以及质谱仪。在本专利技术一个理想的实施例中，将一个或多个已公开的构件结合到蒸发光散射检测器(ELSD)设备中。例如，可以在美国专利No. 6， 229， 605和6， 362， 880中找到文中所使用的对适当的蒸发光散射检测器(ELSD)和构件的描述，该两个专利的主题由此通过引用而整体地结合于本文中。 本专利技术还涉及制造适于在分析装置如ELSD设备中使用的各种构件的方法。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种组合式管状部件，其包括管状壁结构，所述管状壁结构具有第一端部、第二端部、面向所述管状壁结构的内部的内壁表面、以及外壁表面，所述管状壁结构包括第一金属的内层和第二金属的外层，所述第二金属与所述第一金属相比具有更高的传热系数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：JM小安德森，AM库奇，MF维克尼恩斯基，MJ华盛顿，R萨里诺德豪斯，
申请(专利权)人：全技术联合公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]