本发明专利技术提供一种天线测试装置，其包括一屏蔽箱、一分析仪、一发射探针及一接收探针，该发射探针及接收探针与该分析仪相连接，该屏蔽箱具有矩形波导结构，其具有一截止频率，该屏蔽箱内放置有一待测天线，该分析仪产生一频率小于该截止频率的测试信号，该发射探针接收并发射该测试信号至屏蔽箱内，该待测天线与发射探针相互耦合并产生一耦合信号，该接收探针接收并将该耦合信号回传给分析仪，该分析仪分析该测试信号及耦合信号以得到该待测天线的传输损耗值。本发明专利技术还揭露一种利用该天线测试装置测试天线性能的方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，尤其涉及一种利用传输损耗进行 测试的天线测试装置及利用该装置测试天线性能的方法。
技术介绍
随着科技的不断发展及进步，移动电话等便携式电子装置于生活中得到广泛应 用。在很多便携式电子装置上都设有天线，天线功能的优劣会直接影响其收发无线电信号 的质量，故便携式电子装置出厂前一般都需要对其天线进行质量测试。传统天线测试装置一般包括一屏蔽箱、一分析仪、一测试板，该屏蔽箱内放置有吸 波材料，用于吸收来源于外界的杂波，以增强该屏蔽箱的屏蔽效果。该测试板上设置有一用 于发送信号的发射探针、一接地探针及一用于与分析仪相连接的端口。该传统天线测试装 置的测试原理为先将一待测天线置于屏蔽箱内，将该发射探针及接地探针分别按压于该 待测天线的一馈点及接地点；该分析仪发送一信号给测试板；该测试板接收并处理该信号 以将信号通过发射探针传输给待测天线；该待测天线接收到发射探针传来的信号，并通过 接地探针将该信号送至测试板进行处理；测试板将处理后的信号通过端口传送至分析仪； 该分析仪将其发送的信号与接收到的信号进行对比分析以得出该待测天线的回波损耗值， 并最终判断该待测天线的性能是否符合客户的要求。然而，在使用上述现有测试装置进行测试的过程中，吸波材料的吸波能力、二探针 与该待测天线的接触方式、测试板质量等因素都会影响该天线测试装置的准确性及稳定 性。另，吸波材料及测试板在使用中需要不断更新，也会增加该天线测试装置的制造成本。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种成本较低且测试效果较佳的天线测试装置。另，有必要提供一种利用该装置测试天线性能的方法。—种天线测试装置，其包括一屏蔽箱、一分析仪、一发射探针及一接收探针，该发 射探针及接收探针与该分析仪相连接，该屏蔽箱具有矩形波导结构，其具有一截止频率，该 屏蔽箱内放置有一待测天线，该分析仪产生一频率小于该截止频率的测试信号，该发射探 针接收并发射该测试信号至屏蔽箱内，该待测天线与发射探针相互耦合并产生一耦合信 号，该接收探针接收并将该耦合信号回传给分析仪。该分析仪分析及处理该测试信号及耦 合信号以得到该待测天线的传输损耗值。一种天线测试方法，该方法包括如下步骤提供一天线测试装置，该天线测试装置包括一发射探针、一接收探针及一屏蔽箱； 放置一标准天线于屏蔽箱内；传输一测试信号，并将该测试信号传输给发射探针；利用该 标准天线对该发射探针产生的耦合作用而产生一耦合信号；根据该耦合信号与该测试信号 之间的差异获得该标准天线的传输损耗值；比较传输损耗值是否与标准天线的理论值相 等，若相等，则固定二探针的位置并记录该传输损耗值以作为一标准传输损耗值；若不等，则调节该二探针之间的相对位置，直至该传输损耗值与标准天线的理论值相等；取下标准 天线，将一待测天线放置于屏蔽箱内；传输一测试信号，并将该测试信号传输给发射探针； 利用该待测天线对发射探针产生的耦合作用而产生一耦合信号；根据该耦合信号及该测试 信号之间的差异获得该待测天线的传输损耗值；比较该传输损耗值与标准传输损耗值的差 值以判断该待测天线是否合格。相较于现有技术，该天线测试装置利用待测天线对发射探针的耦合作用，使得通 过接收探针回传至分析仪的耦合信号与测试信号之间产生一差异，通过分析处理该差异以 得到该待测天线的传输损耗值，进而判断该待测天线的性能。该天线测试装置无须使用传 统技术中必要的吸波材料及测试板等，大大节省了成本。另外，该屏蔽箱采用矩形波导的原 理制成，具有较佳的屏蔽效果，从而使得天线测试装置具有较佳的准确性及稳定性。附图说明图1为本专利技术较佳实施例的天线测试装置的分解示意图。图2为图1所示天线测试装置的组装示意图。图3为图2所示天线测试装置测试天线性能的流程图。具体实施例方式请参阅图1，本专利技术较佳实施例的天线测试装置100可用于测试移动电话等便携 式电子装置内的天线。该天线测试装置100包括一屏蔽箱10、一发射探针22、一接收探针 24、一分析仪30及一显示仪40。该屏蔽箱10呈长方体结构，其包括一承载板12及一盖体14。该承载板12呈一平 板状结构，用于承载一标准天线或待测天线，且其上可进一步设置一与该标准天线或待测 天线形状对应的容置部(图未示)，用于稳定地容置该标准天线或待测天线。该盖体14为 一端开口的矩形体，其罩设于承载板12上。所述盖体14上与承载板12垂直的一表面上开 设有若干容置孔142，该等容置孔142贯通该表面，并与发射探针22及接收探针24对应。所述屏蔽箱10由铝制成，且其具体尺寸为30*50*120mm，其璧厚约为l_2mm。该 屏蔽箱10的具体结构满足矩形波导的原理，其等效于一高通滤波器，具有一截止频率f，即 频率小于截止频率f的低频信号无法通过。在目前的天线设计中，天线的最高频率一般为 3GHz。因此在本专利技术较佳实施例中，将屏蔽箱10的信号的截止频率f设置为4GHz或更高 的数值。这样，通过发射探针22所发射的电磁波信号相对于该屏蔽箱10形成的矩形波导 而言都是低频信号，从而使该电磁波信号在屏蔽箱10内传播时几乎不会产生能量损耗，其 电磁波信号的变化只会受到待测天线对其的耦合作用的影响，使得该屏蔽箱10具有较佳 的屏蔽效果，并保证天线测试的准确性及稳定性。该发射探针22及接收探针24均由金属等导电材料制成，如铜、铝等。其具体长度 或者尺寸根据不同类型的待测天线进行调整。该发射探针22及接收探针24的一端分别通 过电缆、转接头等固定连接至分析仪30上，用以接收分析仪30传来的信号及将信号反馈给 分析仪30。该发射探针22及接收探针24中未连接至分析仪30的另一端的外轮廓与该容 置孔142的形状相匹配，以便将该二探针分别套设于二容置孔142内。通过将发射探针22 及接收探针24分别套设于不同的容置孔142内，可以调节该发射探针22及接收探针24之间的距离。当不再需要调节发射探针22及接收探针24之间的距离时，可通过焊接等方式 将发射探针22及接收探针24分别固定于其中二容置孔142内。该分析仪30可以为现有的用于发送及接收无线电测试信号并进行信号处理的设 备，如矢量网络分析仪。该分析仪30上设置有一信号输出端口 32及一信号输入端口 34。 信号输出端口 32与发射探针22电性连接，以传输一信号给探针22。信号输入端口 34与接 收探针24电性连接，以接收接收探针24反馈回来的信号。该分析仪30上还设置有一第三 端口 36，第三端口 36可通过网线等与所述显示仪40相连。该分析仪30将接收到的信号进 行处理后通过第三端口 36将数据传送至显示仪40进行显示。显示仪40用于将分析仪30传来的数据进行显示，以供用户观测。该显示仪40可 以为计算机或与计算机具有相同功能的电子设备。请一并参阅图2，组装该天线测试装置100时，先分别将发射探针22、接收探针24 中未连接至分析仪30上的另一端套设于二容置孔142内。然后将分析仪30的第三端口 36 通过网线等电性连接至显示仪40。因为发射探针22及接收探针24均由金属等导电材料制 成，故二者可以分别等效为一发射天线及一接收天线。当分析仪30发送一测试信号给发射 探针22时，置入屏蔽箱10内的一标准天线或待测天线与发射探针22耦合，耦合后，接收本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种天线测试装置，包括一分析仪、一发射探针及一接收探针，所述发射探针及接收探针与所述分析仪相连接；其特征在于：所述天线测试装置还包括一用于放置一待测天线的屏蔽箱，所述屏蔽箱具有矩形波导结构，其具有一截止频率，所述分析仪产生一频率小于所述截止频率的测试信号，所述发射探针接收并发射所述测试信号至屏蔽箱内，所述待测天线与发射探针相互耦合并产生一耦合信号，所述接收探针接收并将所述耦合信号回传至所述分析仪，所述分析仪分析所述测试信号及耦合信号以得到所述待测天线的传输损耗值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李展，熊邺，张歌，
申请(专利权)人：深圳富泰宏精密工业有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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