光拾取器装置和光盘装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光拾取器装置和光盘装置。依照本发明专利技术的光拾取器装置，对信号光进行分割并检测。光检测区域具有区域Ａ和区域Ｂ的两个区域，由光盘上的轨道衍射的衍射光中，仅有０次衍射光入射到区域Ａ，０次、±１次衍射光入射到区域Ｂ。从该检测器聚焦误差信号根据由该检测器检测的信号生成，跟踪误差信号根据在区域Ａ、Ｂ北检测的信号生成。对于２层盘或２层以上层数的盘，能够检测出稳定的聚焦误差信号和跟踪误差信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是涉及光拾取器装置和光盘装置的专利技术。
技术介绍
作为本
的
技术介绍
，例如有专利文献1 (特开2004-281026号公报)。在 本专利文献1中，作为课题记载有“将TE信号振幅的变动量定义为ΔΡΡ=(振幅a_振幅 b) / (振幅a+振幅b)，利用上述的现有结构检测TE信号的情况下，变量Δ PP为0. 69，偏差 oftl为+33nm，偏差oft2为-33nm，显示较大的值。像这样当TE信号振幅的变动量Δ PP较 大变动时，在轨道Tn-I和Tn上跟踪控制的获益降低，跟踪控制变得不稳定，存在不能够可 靠性高地进行记录和再现信息的问题”。作为解决方法记载有“本专利技术的其它的光信息装置 的特征在于，包括射出光束的光源；将从上述光源射出的光束聚光在具有轨道的光存储 介质上的聚光单元；将由所述光存储介质反射·衍射的光束分支的分支单元；由多个区域 将上述被分支的光束分割的分割单元；具有多个用于检测由上述分割单元分割的光束，并 根据检测的光量输出电流信号的检测区域的光检测单元；将从上述光检测单元输出的电流 信号变换成电压信号的多个变换单元；和跟踪误差信号生成单元，其在配置于上述分割单 元中的多个区域中，将主要包括跟踪误差信号成分的区域作为第一区域，将主要包括跟踪 误差信号的偏移成分的区域作为第二区域，从由第一区域获得的电压信号，将由上述第二 区域获得的电压信号附加系数并减去而生成跟踪误差信号，与通过上述第一区域的光束到 达上述光检测单元的效率相比，通过上述第二区域的光述到达上述光检测单元的效率高。”
技术实现思路
由于光拾取器装置，一般对光盘内某规定的记录轨道上正确地照射光点，通过聚 焦误差信号的检测使物镜变位到焦点方向向焦点方向进行调整，此外检测跟踪误差信号使 物镜向盘状记录介质的半径方向变位进行跟踪调整。利用这些信号进行物镜的位置控制。在专利文献1中记载有对光盘上照射一个光束，利用衍射光栅分割并检测由盘产 生的衍射光。由此即使是两层盘也能够进行稳定的跟踪控制。但是，在如专利文献1那样 的结构中存在会在聚焦误差信号中产生噪声的问题。在此，本专利技术的目的是提供减低聚焦误差信号的噪声，对于具有两层以上的记录 面的盘能够进行稳定的焦点控制和跟踪控制的光拾取器装置或光盘装置。上述目的能够通过权利要求的范围中记载的专利技术而实现。简单说明在本申请中揭 示的专利技术中具有代表性的内容的概要如下。依照本专利技术的光拾取器装置，其包括半导体激光器；用于将从该半导体激光器 射出的光束聚光并照射到光盘上的物镜；为使聚光后的所述光束照射到所述光盘上的规定的位置而使所述物镜移动的致动器；和接受从所述光盘上的轨道衍射后的所述光束的光检 测器，所述光检测器具有受光部，该受光部包括第一区域、第二区域、第三区域、第四区域这 四个区域，所述第一区域和第三区域相对于所述受光部的中心轴为轴对称，所述第二区域 和第四区域相对于所述受光部的中心轴为轴对称，所述第二区域和第四区域从所述受光部 的中心轴离开也具有相同宽度，或随着离开而宽度变窄，在由所述光盘上的轨道衍射的衍 射光中，0次衍射光入射在所述第一区域、第三区域，0次、士 1次衍射光入射在所述第二区 域、第四区域，利用由所述第一区域、第三区域检测的信号生成从所述光盘得到的基于象散 方式的聚焦误差信号。依据本专利技术能够提供，在对具有多个信息记录面的信息记录介质进行记录再现的 情况下，能够获得稳定的伺服信号的光拾取器装置和搭载该光拾取器装置的光盘装置。附图说明图1是说明象散方式的聚焦误差信号检测的图。图2是说明象散方式的聚焦误差信号检测的图。图3是说明聚焦误差信号检测的漏入的图。图4是说明聚焦误差信号检测的漏入的图。图5是说明实施例1的光拾取器装置和光盘的配置的图。图6是说明实施例1的本专利技术的光学系统的图。图7是表示实施例1的本专利技术的受光部的图。图8是表示实施例1的图7以外的受光部的图。图9是说明实施例2的本专利技术的光学系统的图。图10是表示实施例2的本专利技术的衍射光栅面的图。图11是表示实施例2的本专利技术的检测部的图。图12是表示实施例2的图10以外的衍射光栅面的图。图13是表示实施例3的本专利技术的检测部的图。图14是表示实施例4的本专利技术的检测部的图。图15是表示实施例5的本专利技术的检测部的图。图16是表示实施例5的本专利技术的部分波长板的图。图17是表示实施例6的本专利技术的检测部的图。图18是说明实施例7的光学的信息再现装置的图。图19是说明实施例8的光学的信息记录再现装置的图。具体实施方式以下，说明本专利技术的实施方式。图5是表示本专利技术的第一实施例的光拾取器装置的一个例子的概略结构图。如图5所示，光拾取器装置1构成为能够利用驱动机构7沿光盘100的半径方向 进行驱动的结构。而且在光拾取器装置上的致动器5上搭载有物镜2，从该物镜2对光盘上 照射光。从物镜2射出的光在光盘100上形成光点，在光盘100进行反射。通过检测该反 射光生成聚焦误差信号，跟踪误差信号。在如上所述的光拾取器装置中，图6表示了光学系统。在此关于BD进行说明，但 即使是HD DVD或其他的记录方式也可以。从半导体激光50，作为发散光射出波长405nm的光束。从半导体激光器50射出 的光束由分束器(beam splitter) 52反射。并且一部分的光束透过分束器52入射到前置 监视器53。一般地在BD-RE、BD-R等的记录型的光盘中记录信息的情况下，由于使规定的 光量照射在光盘的记录面，所以需要高精度地控制半导体激光器的光量。为此，前置监视器 53在记录型的光盘中记录信息时，检测出半导体激光器50的光量的变化，并反馈到半导体 激光器50的驱动电路(图中未示)。由此能够监视光盘上的光量。由分束器52反射的光束利用准直透镜51变化为大致平行的光束。透过准直透镜 51的光束入射到光束扩展器M。光束扩展器M用于，通过改变光束的发散 收敛状态，修 正由于光盘100的覆盖层的厚度误差引起的球面像差。从光束扩展器M射出的光束由竖起 反射镜阳反射，透过1/4波长板56后，由搭载在致动器5上的物镜2聚光在光盘100上。由光盘100反射的光束透过物镜2、1/4波长板56、竖起反射镜55、光束扩展器54、 准直透镜51、分束器52。透过分束器52的光束经由检测透镜57入射到检测器10。这时， 由于由检测透镜57提供规定的象散像差，所以能够构成通过象散方式检测聚焦误差信号 的结构。首先，关于跟踪误差信号检测的问题进行说明。作为一般的跟踪误差信号检测方 法，公知的是差动推挽方式。该差动推挽方式(DPP differential Push Pull)是利用衍射 光栅将光束分割为主光束和子光束+1次、子光束-1次，将由半径方向的主光束获得的推挽 (MPP)信号、和由子光束+1次与子光束-1次获得的推挽(SPP)信号通过进行以下的运算降 低 DC 偏移(DC offset)。公式1 DPP = MPP-kXSPP其中，k是修正主光束和子光束的光量比的系数。但是，DPP方式在再现BD或HD DVD等的2层盘的情况下发生问题。关于该问题 进行说明。2层盘是存在2个记录面的光盘，在各个记录面发生反射光。因此，在2层盘中光 束由光盘分离为2个，沿着两个光路入射到检测器。例如在使焦点对准本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取器装置，其特征在于，包括：半导体激光器；用于将从该半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘上的物镜；为使被聚光的所述光束照射到所述光盘上的规定的位置而使所述物镜移动的致动器；对从所述光盘衍射后的所述光束进行衍射的衍射光栅；和接受由所述衍射光栅衍射后的所述光束的光检测器，所述衍射光栅包括第一区域、第二区域、第三区域、第四区域这四个区域，所述第一区域和第三区域相对于所述衍射光栅的中心轴为轴对称，所述第二区域和第四区域相对于所述衍射光栅的中心轴为轴对称，所述第二区域和第四区域无论它们与所述受光部的中心轴相距的距离增大与否均为相同宽度，或者随着它们与所述受光部的中心轴相距的距离的增大而宽度变窄，在由所述光盘上的轨道衍射的衍射光中，０次衍射光入射在所述第一区域、第三区域，０次、±１次衍射光入射在所述第二区域、第四区域，从所述光盘得到的聚焦误差信号，利用由所述光检测器对在所述衍射光栅的第一区域、第三区域衍射的所述光束进行检测而得到的信号生成。

【技术特征摘要】
JP 2007-12-26 2007-3334431.一种光拾取器装置，其特征在于，包括 半导体激光器；用于将从该半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘上的物镜；为使被聚光的所述光束照射到所述光盘上的规定的位置而使所述物镜移动的致动器；对从所述光盘衍射后的所述光束进行衍射的衍射光栅；和 接受由所述衍射光栅衍射后的所述光束的光检测器， 所述衍射光栅包括第一区域、第二区域、第三区域、第四区域这四个区域， 所述第一区域和第三区域相对于所述衍射光栅的中心轴为轴对称， 所述第二区域和第四区域相对于所述衍射光栅的中心轴为轴对称， 所述第二区域和第四区域无论它们与所述受光部的中心轴相距的距离增大与否均为 相同宽度，或者随着它们与所述受光部的中心轴相距的距离的增大而宽度变窄， 在由所述光盘上的轨道衍射的衍射光中， 0次衍射光入射在所述第一区域、第三区域， 0次、士 1次衍射光入射在所述第二区域、第四区域，从所述光盘得到的聚焦误差信号，利用由所述光检测器对在所述衍射光栅的第一区 域、第三区域衍射的所述光束进行检测而得到的信号生成。2.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于所述衍射光栅的第一区域和第三区域与所述衍射光栅的所述中心轴相接， 所述衍射光栅的第一区域、第二区域、第三区域、第四区域相对于与所述中心轴大致垂 直的轴被分割成轴对称。3.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于 所述衍射光栅为炫耀偏振衍射光栅。4.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于 所述衍射光栅为偏振衍射光栅，透过所述偏振衍射光栅的光束的直线偏振光与在所述偏振衍射光栅衍射后的光束的 直线偏振光正交。5.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于 所述偏振衍射光栅，在衍射光栅面上层叠有波长板， 使入射到所述第一区域和第三区域的光透过，使入射到所述第二区域和第四区域的光衍射，透过所述第一区域和第三区域的光束的直线偏振光与在所述第二区域和第四区域衍 射后的光束的直线偏振光正交。6.一种光拾取器装置，其特征在于，包括 半导体激光器；用于将从该半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘上的物镜； 为使被聚光后的光束照射到所述光盘上的规定的位置而使所述物镜移动的致动器； 对从所述光盘衍射后的所述光束进行衍射的衍射光栅；和 接受由所述衍射光栅衍射后的所述光束的光检测器，所述衍射光栅具有第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域这五个区域， 所述第一区域和第三区域相对于所述衍射光栅的中心轴为轴对称， 所述第二区域和第四区域相对于所述衍射光栅的中心轴为轴对称， 所述第二区域和第四区域无论它们与所述受光部的中心轴相距的距离增大与否均为 相同宽度，或者随着它们与所述受光部的中心轴相距的距离的增大而宽度变窄， 在由所述光盘上的轨道衍射的衍射光中， 0次衍射光入射在所述第一区域、第三区域， 0次、士 1次衍射光入射在所述第二区域、第四区域，从所述光盘得到的聚焦误差信号，利用由所述光检测器对在所述衍射光栅的第一区 域、第三区域衍射的所述光束进行检测而得到的信号生成。7.根据权利要求6所述的光拾取器装置，其特征在于所述衍射光栅的第一区域和第三区域与所述衍射光栅的所述中心轴相接， 所述衍射光栅的第一区域、第二区域、第三区域、第四区域相对于与所述中心轴大致...

【专利技术属性】
技术研发人员：山崎和良，
申请(专利权)人：日立视听媒介电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]