侦测盘片上缺陷信号的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种侦测盘片上缺陷信号的方法及装置，其使用有限状态机以对光驱的伺服系统进行控制，在侦测状态时，当多个缺陷侦测信号超过门槛值时，将侦测计数器设定为预设值，有限状态机进入ＡＲＭ状态；在ＡＲＭ状态时，当侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时，有限状态机进入ＫＩＣＫ状态；在ＫＩＣＫ状态时，第一旗标信号ＦＥ＿ＸＤＦＣＴ或第二旗标信号ＴＥ＿ＸＤＦＣＴ被设置，当侦测计数器计数至０时，有限状态机进入ＷＡＩＴ状态；在ＷＡＩＴ状态时，当侦测计数器计数至第三预设值时，有限状态机进入该侦测状态；其中，当第一旗标信号ＦＥ＿ＸＤＦＣＴ或第二旗标信号ＴＥ＿ＸＤＦＣＴ被设置时，伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信号侦测的
，特别涉及一种侦测盘片上缺陷信号的方法及装置。
技术介绍
现今，随着信息产业的快速发展和个人电脑的普及，人们对于储存数据能力 的要求也相对地提高。光盘片由于具备强大的储存能力而被广泛用来保存数据。光 盘片有 CDR0M/R/RW 盘片、DVDROM SL/DL 盘片、DVD-R/-R9/-RW/-RAM/Download 盘片、 DVD+R/+R9/+RW 盘片、BDROM SL/DL 盘片、BD-R SL/DL 盘片、BD-RE SL/DL 盘片或 BD LTH 盘 片等各种形式。光盘片对储存于其中的数据提供较佳的保护以免于损伤。然而对于数据储存而言，上面所描述的特色并不意味着光盘片为完美的储存介 质。某些缺陷在盘片上产生，例如深的刮痕(deep scratch)、浅的刮痕(shallow scratch)， 甚至于指纹(fingerprint)等等，这些缺陷(defect)不仅导致系统读写时发生错误，也会 在读写数据时对系统产生干扰。因此侦测光盘片上的缺陷用以保护系统避免出现被干扰或 不稳定的情况是很重要的事。现有技术利用主光束(main beam)信号、副光束(side beam)信号、或结合主光束 信号及副光束信号以侦测光盘片上的缺陷。另有现有技术利用信号振幅(amplitude)的差异，例如射频电平(RFlevel， RFLVL)，来侦测盘片上的缺陷。如图1A所示，其为通过现有射频电平侦测方法来侦测深缺 陷所得的信号示意图。在图1A中，射频信号110在时段120有一个凹陷区域112。这表示 凹陷区域112相对应的数据因缺陷而受损，以至于无法读出时段120中的射频信号110。凹 陷区域112代表一低反射率的缺陷区域，一般称为黑点缺陷(black-dotdefect)。在凹陷区 域112处，射频信号110几乎不存在。更进一步而言，凹陷区域112的深度显示缺陷的深度。由射频信号110经过低通 滤波器所形成的射频电平(RFLVL)信号114，该射频电平(RFLVL)信号114为该射频信号 110的封包(envelope)。侦测临界值130为可编程的固定的直流参考电位。当射频电平 (RFLVL)信号114在时段120中低于侦测临界值130时，缺陷旗标信号140从低电平(逻辑 状态0)提升至高电平(逻辑状态1)，代表侦测到一缺陷。此外，FE/TE(focusing error/ tracking error)信号150分别在时段120的起点和终点产生正凸波(surge) 152及负凸 波154来显示聚焦(focusing)及循轨(tracking)的错误信号。然而，当缺陷旗标信号140 由低电平提升至高电平时，伺服机系统，例如聚焦与循轨伺服机，及数据路径控制系统，例 如前置放大器、数据分割器(slicer)或锁相回路，就能得知系统侦测到缺陷信号，因而可 以利用一些适当的保护方法及装置来降低潜在的干扰与不稳定性。参考图1B，其为通过现 有射频电平侦测方法来侦测浅缺陷所得的信号示意图。在图1B中，射频信号101-1在时段 120-1中有一凹陷区域112-1。这也表示凹陷区域112-1相对应的数据因缺陷而受损，以至 于时段120-1中的射频信号110-1无法被完全读出。但是凹陷区域12-1的深度可能只是受到一浅缺陷的影响，例如一个浅刮痕，不像图1A所示的凹陷区域112那么深。该射频电 平(RFLVL)信号114-1显现出射频信号110-1的封包。侦测临界值130-1如同图1A所示 的侦测临界值130为可编程的固定的直流参考电位。很明显的，该射频电平(RFLVL)信号 114-1总是高于侦测临界值130-1，因为浅缺陷并未造成足够深的凹陷区域112-1。因此，缺 陷旗标信号140-1对浅缺陷无反应，若是想要侦测浅凹形缺陷而提高侦测临界值的直流参 考电位，则容易引入噪声并造成缺陷而产生误判的现象，在120-1的区域FE/TE信号150-1 会有机会因为盘片缺陷的干扰产生假信号的改变。更进一步而言，由于并未侦测到浅缺陷， 一些保护的方法及装置并未被触发来保护系统免于潜在的干扰即不稳定性。换句话说，伺 服机系统及数据路径控制系统很容易在此种缺陷情况下被影响。美国专利第7，301，871号公开提供一种侦测盘片缺陷信号的装置及方法，其利用 一个缺陷侦测装置以接收多个缺陷信号，并设置多个缺陷旗标信号，并用一组合逻辑单元 对多个缺陷旗标信号执行逻辑运算以侦测特定缺点。然而此种方法只是对既有的缺陷信号 利用该组合逻辑单元执行判断，而无法提供更多关于缺陷的信息。图2是现有光驱控制信号测量示意图。如图2所示，信号210为前置放大器输出的 循轨错误信号(Tracking Error，TE)、信号220为缺陷侦测单元内部的循轨错误信号(TE)、 信号230为伺服控制单元中驱动循轨马达(Tracking Actuator, TA)中的循轨控制信号 (TR0)、信号240为该前置放大器输出的射频信号RF。当激光束(laser beam)经过的在轨 道上有浅的刮痕或指纹时，如图2中的圆圈A处，循轨错误信号220产生一个凸波(surge)， 表示激光束经过一个缺陷，故循轨控制信号(TR0)230产生一对应凸波(圆圈B处)，以驱动 循轨马达来补偿循轨误差。然而检视射频信号240 (圆圈C处)的波形，此处射频信号240 的波形并非如黑点缺陷处一样，即黑点缺陷处一般射频信号几乎不存在。但是此时，循轨控 制信号(TR0)230已经依据循轨错误信号220进行补偿，激光束(laser beam)本来在轨道 上，经循轨控制信号230补偿后，反而使激光束滑到邻近轨道。因此现有的侦测盘片上缺陷 信号的方法及装置仍有诸多缺失而有予以改善的必要。
技术实现思路
本专利技术的目的主要在于提供一种侦测盘片上缺陷信号的方法及装置，其使用有 限状态机以解决激光束经过的在轨道上有浅的刮痕或指纹时，所产生假信号的情形，以避 免激光束本来在轨道上，因假信号而使激光束滑到邻近轨道的问题，而提高整个光驱系统 的稳定度，并可有效的侦测出现有技术所无法处理的缺陷种类，含白点缺陷(white-dot defect)，并适用于循轨及聚焦经过缺陷处的保护机制上。依据本专利技术的一个特点，本专利技术提出一种侦测盘片上缺陷信号的方法，其使用有 限状态机以对光驱的伺服系统进行控制，该方法包含(A)在侦测状态时，当多个缺陷侦测 信号超过门槛值时，将侦测计数器设定为预设值，该有限状态机进入ARM状态；(B)在ARM 状态时，当该侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时，该有限状态机进入KICK状 态；(C)在KICK状态时，第一旗标信号FE_XDFCT或第二旗标信号TE_XDFCT被设置，当该侦 测计数器计数至0时，该有限状态机进入WAIT状态；(D)在WAIT状态时，当该侦测计数器计 数至第三预设值时，该有限状态机进入该侦测状态；其中，当该第一旗标信号FE_XDFCT或 该第二旗标信号TE_XDFCT被设置时，该光驱的伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电位。 依据本专利技术的另一特点，本专利技术提出一种侦测盘片上缺陷信号的装置，以对光驱 进行控制，该装置包含伺服系统、前置放本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种侦测盘片上缺陷信号的方法，其使用有限状态机以对光驱的伺服系统进行控制，该方法包含：（Ａ）在侦测状态时，当多个缺陷侦测信号超过门槛值时，将侦测计数器设定为预设值，该有限状态机进入ＡＲＭ状态；（Ｂ）在前述ＡＲＭ状态时，当该侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时，该有限状态机进入ＫＩＣＫ状态；（Ｃ）在前述ＫＩＣＫ状态时，第一旗标信号或第二旗标信号被设置，当该侦测计数器计数至０时，该有限状态机进入ＷＡＩＴ状态；以及（Ｄ）在前述ＷＡＩＴ状态时，当该侦测计数器计数至第三预设值时，该有限状态机进入该侦测状态；其中，当该第一旗标信号或该第二旗标信号被设置时，该伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电压。

【技术特征摘要】
一种侦测盘片上缺陷信号的方法，其使用有限状态机以对光驱的伺服系统进行控制，该方法包含(A)在侦测状态时，当多个缺陷侦测信号超过门槛值时，将侦测计数器设定为预设值，该有限状态机进入ARM状态；(B)在前述ARM状态时，当该侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时，该有限状态机进入KICK状态；(C)在前述KICK状态时，第一旗标信号或第二旗标信号被设置，当该侦测计数器计数至0时，该有限状态机进入WAIT状态；以及(D)在前述WAIT状态时，当该侦测计数器计数至第三预设值时，该有限状态机进入该侦测状态；其中，当该第一旗标信号或该第二旗标信号被设置时，该伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电压。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个缺陷侦测信号包含循轨错误信号及聚 焦错误信号。3.根据权利要求2所述的方法，其中，该聚焦错误信号大于聚焦上门槛值或小于聚焦 下门槛，设置开始侦测旗标，或该循轨错误信号大于循轨上门槛值或小于循轨下门槛，设置 前述开始侦测旗标。4.根据权利要求3所述的方法，其中，该开始侦测旗标被设置，且该有限状态机为前述 侦测状态时，将该侦测计数器预设为该预设值，该有限状态机进入该ARM状态，当中，该预 设值代表全部侦测时间长度。5.根据权利要求4所述的方法，其中，在前述ARM状态或在前述WAIT状态时，该第一旗 标信号或该第二旗标信号未被设置，该光驱的伺服系统的对应控制信号为闭环控制。6.根据权利要求5所述的方法，其中，该伺服系统的对应控制信号可为循轨控制信号 或聚焦控制信号。7.一种侦测盘片上缺陷信号的装置，用以对光驱进行控制，该装置包含伺服系统，用以操控该光驱的机电装置；前置放大器，接收镜头所传送的数据，进而产生该伺服控制信号、及多个缺陷侦测信号；缺陷侦测单元，连接至该前置放大器及该伺服系统，以对该伺服系统进行控制，该缺陷 侦测单元包含有限状态机及侦测计数器；其中，该有限状态机处于KICK状态时，第一旗标信号或第二旗...

【专利技术属性】
技术研发人员：史蒂芬费司，
申请(专利权)人：宏阳科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]