分析位置的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术是有关于一种分析位置的方法与装置。其中的分析位置的方法包括：由多个传感器取得相应于至少一外部对象接近或触碰的一触碰相关感测资讯；预设该触碰相关感测资讯中相应于一第一种外部对象的一第一特性与相应于一第二种外部对象的一第二特性，其中该第一特性与该第二特性相反；依据该第一特性与该第二特性在该触碰相关感测资讯中辨识该第一种外部对象、该第二种外部对象、或两者的接近或触碰。本发明专利技术通过笔提供交流信号，相应于手的触碰相关感测资讯的第一特性与相应于笔的触碰相关感测资讯的第二特性相反。第一特性与第二特性可被用来区隔手与笔的触碰或手掌忽视。本发明专利技术提供的上述技术方案能让一般人以习惯的方式来进行文字的输入。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种位置分析的方法与装置，特别是涉及一种具分辨手与笔触碰的位 置分析的方法与装置。
技术介绍
触控显示器(Touch Display)已广泛地应用于许多电子装置中，一般的做法是采 用一触控面板(Touch Sensing Panel)在触控显示器上定义出一二维的触摸区，藉由在触 摸板上纵轴与横轴的扫描来取得感测资讯(Sensinghformation)，以判断外在对象(如手 指)在触摸屏上的碰触或接近，例如美国专利号US4639720所提供的一种电容式触摸显示ο感测资讯可由模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)转换为多个 连续信号值，藉由比较这些信号值在外部对象碰触或接近前与后的变化量，可判断出外部 对象碰触或最接近触摸屏的位置。一般而言，控制触摸屏的控制器会先取得没有外部对象触碰或接近时的感测资 讯，作为基准值(baseline)。例如在电容式触摸屏中，每一条导电条相应于各自的基准值。 控制器藉由判断后续的感测资讯与基准值的比较判断是否有外部对象接近或触碰，以及更 进一步判断外部对象的位置。例如，在未被外部对象接近或触碰时，后续的感测资讯相对于 基准值为零值或趋近零值，藉由感测资讯相对于基准值是否为零值或趋近零值判断是否有 外部对象接近或触碰。如图IA所示，当外部对象12(如手指)碰触或接近触控显示器10的感测装置120 时，在一轴向(如X轴向)上的传感器140的感测资讯转换成如图IB所示的信号值，相应 于手指的外形，信号值呈现一波形或一指廓(Finger profile)，指廓上的峰14(peak)的位 置即代表手指碰触或接近的位置。由于用手指书写的方式与一般人习惯以手持笔来书写方式不同。一般应用于电容 式感测装置的导电笔在书写时，手掌必需悬空，也与一般人习惯手掌置放于桌面书写的习 惯不同。因此，需要让感测装置能分辨出哪些触碰是手掌的触碰，哪个触碰才是笔的触碰， 才能让一般人以习惯的方式来进行文字的输入。由此可见，上述现有技术显然存在有不便与缺陷，而极待加以进一步改进。为了解 决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的 设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然 是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的技术，实属当前重要研发课题之一， 亦成为当前业界极需改进的目标。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，克服现有的触控显示器存在的缺陷，而提供一种新型结构的 分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其能让一般人以习惯的方式来进行文字的输入，非常适于实用。本专利技术是在感测资讯中判断出相应于一第一特性的触碰相关感测资讯中的至少 一位置。感测资讯同时另外存在相应于一第二特性的触碰相关感测资讯，第二特性与第一 特性相反，并且相应于一第二特性的触碰相关感测资讯被忽略或被滤除。本专利技术另外提供一种分析位置的方法与装置。由一信号源提供交流信号产生相应 第二特性的触碰相关感测装置，可被用来产生与人体触碰不同的触碰，如笔的触碰。本专利技术至少包括下列目的1、利用实触与虚触相应于相反的第一特性与第二特性，判断出实触的位置；2、利用第一特性判断出起始位置，依据起始位置相应的一方向从起始位置寻找零 交会处，避免误判出虚触的位置；3、以笔提供交流信号，区隔手与笔的触碰；及4、在互电容式以笔提供交流信号，能在不误判出虚触的位置的情形下，区隔手与 笔的触碰。本专利技术的目的及解决其技术问题可以采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提 出的一种分析位置的方法，包括由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触 碰一信号源的一触敏资讯，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象， 并且该触敏资讯相应于上述感应器互电容耦合于该信号源、该至少一第一外部对象及该至 少一第二外部对象的信号；决定该触敏资讯中相应于该至少一第一外部对象的一特性；以 及仅在该触敏资讯中符合该特性的部份分析相应于该至少一第一外部对象接近或触碰的 位置。此外，依据本专利技术提出的一种分析位置的装置，包括包括多个传感器的一感测装置； 以及一控制器，执行下列作业由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触碰 一信号源的一触敏资讯，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象，并 且该触敏资讯相应于上述感应器互电容耦合于该信号源、该至少一第一外部对象及该至少 一第二外部对象的信号；决定该触敏资讯中相应于该至少一第一外部对象的一特性；以及 仅在该触敏资讯中符合该特性的部份分析相应于该至少一第一外部对象接近或触碰的位 置。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提 出的一种分析位置的方法，包括由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触 碰一信号源的一触敏资讯，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象， 并且该触敏资讯相应于上述感应器与该信号源间、该至少一第一外部对象及该至少一第二 外部对象间的互电容耦合的信号；依据一第一门槛限值在该触敏资讯中决定至少一第一起 始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置 分析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏资讯。此外，依据本专利技术提 出的一种分析位置的装置，包括由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触 碰一信号源的一触敏资讯，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象， 并且该触敏资讯相应于上述感应器与该信号源间、该至少一第一外部对象及该至少一第二 外部对象间的互电容耦合的信号；依据一第一门槛限值在该触敏资讯中决定至少一第一起 始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置 分析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏资讯。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提 出的一种分析位置的方法，包括由多个传感器取得相应于至少一外部对象接近或触碰的 一触碰相关感测资讯；预设该触碰相关感测资讯中相应于一第一种外部对象的一第一特性 与相应于一第二种外部对象的一第二特性，其中该第一特性与该第二特性相反；以及依据 该第一特性与该第二特性于该触碰相关感测资讯中辨识该第一种外部对象、该第二种外部 对象、或两者的接近或触碰。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的分析位置的方法，其中所述的第一特性与该第二特性之一为正值，并且该 第一特性与该第二特性的另一为负值。前述的分析位置的方法，其中相应于该第一种外部对象与该第二种外部对象的触 碰相关感测资讯为至少一单一或连续多个正值的集合与至少一单一或连续多个负值的集 合的交替组合。前述的分析位置的方法，其中该第一特性与该第二特性之一为起始于该至少一单 一或连续多个正值的集合，并且该第一特性与该第二特性的另一为起始于该至少一单一或 连续多个负值的集合。前述的分析位置的方法，其中该第一种外部对象与该第二种外部对象之一为接地 导体，并且该第一种外部对象与该第二种外部对象的另一为提供一交流信号的信号源。前述的分析位置的方法，其中该第一种外部对象与该第二种外部对象与上述传感 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分析位置的方法，其特征在于，包括：由多个传感器取得相应于至少一外部对象接近或触碰的一触碰相关感测资讯；预设该触碰相关感测资讯中相应于一第一种外部对象的一第一特性与相应于一第二种外部对象的一第二特性，其中该第一特性与该第二特性相反；以及依据该第一特性与该第二特性在该触碰相关感测资讯中辨识该第一种外部对象、该第二种外部对象、或两者的接近或触碰。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张钦富，李政翰，唐启豪，何顺隆，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]