温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明是有关于一种分析位置的方法与装置。其中的分析位置的方法包括：由多个传感器取得相应于至少一外部对象接近或触碰的一触碰相关感测资讯；预设该触碰相关感测资讯中相应于一第一种外部对象的一第一特性与相应于一第二种外部对象的一第二特性，其中该第一...
该专利属于禾瑞亚科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过禾瑞亚科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。