分析位置的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术是有关于一种分析位置的方法与装置，本发明专利技术是在感测信息中判断出相应于一第一特性的触碰相关感测信息中的至少一位置。感测信息同时另外存在相应于一第二特性的触碰相关感测信息，第二特性与第一特性相反，并且相应于一第二特性的触碰相关感测信息被忽略或被滤除。本发明专利技术避免误判出虚触的位置，防止误判造成的错误操作，并且区隔手与笔的触碰，可进行忽视手掌的持笔书写判断，也可以用于判断手与笔的不同触碰；即使在互电容式侦测时，仍可进行忽视手掌的持笔书写判断，也可以用于判断手与笔的不同触碰，但不会误判出虚触的位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种分析位置的方法与装置，特别是涉及一种具虚触忽视的分析位置 的方法与装置。
技术介绍
触控显示器(Touch Display)已广泛地应用于许多电子装置中，一般的做法是采 用一触控面板(Touch Sensing Panel)在触控显示器上定义出一二维的触摸区，借由在 触摸板去上纵轴与横轴的扫瞄来取得感测信息(Sensing ^formation)，以判断外在对象 (如手指)在触摸屏上的碰触或接近，例如美国专利号US4639720所提供的一种电容式触摸 显不器。感测信息可由模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)转换为多个 连续信号值，借由比较这些信号值在外部对象碰触或接近前与后的变化量，可判断出外部 对象碰触或最接近触摸屏的位置。一般而言，控制触摸屏的控制器会先取得没有外部对象触碰或接近时的感测信 息，作为基准值(baseline)。例如在电容式触摸屏中，每一条导电条相应于各自的基准值。 控制器借由判断后续的感测信息与基准值的比较判断是否有外部对象接近或触碰，以及更 进一步判断外部对象的位置。例如，在未被外部对象接近或触碰时，后续的感测信息相对于 基准值为零值或趋近零值，借由感测信息相对于基准值是否为零值或趋近零值判断是否有 外部对象接近或触碰。如图IA所示，当外部对象12(如手指)碰触或接近触控显示器10的感测装置120 时，在一轴向(如X轴向)上的传感器140的感测信息转换成如图IB所示的信号值，相应 于手指的外型，信号值呈现一波形或一指廓(Finger profile)，指廓上的峰14(peak)的位 置即代表手指碰触或接近的位置。在互电容式侦测时，同手掌的两指触碰于感测装置的不同位置时，信号可能有一 指流到另一指，将造成取得的感测装置在不存在触碰的位置出现触碰相关感测信息(在以 下叙述中称为虚触)，而造成误判。当两指的触碰判断出三个或四个位置时，将造成系统在 操作上的严重困扰。由此可见，上述现有技术显然存在有不便与缺陷，而极待加以进一步改进。为了解 决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的 设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然 是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的技术，实属当前重要研发课题之一， 亦成为当前业界极需改进的目标。有鉴于上述现有的分析位置的方法与装置存在的缺陷，本专利技术人基于从事此类产 品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期 创设一种新的分析位置的方法与装置，能够改进一般现有的分析位置的方法与装置，使其 更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本专利技术。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于，克服现有的分析位置的方法与装置存在的缺陷，而提供 一种新的分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其利用实触与虚触相应于相反 的第一特性与第二特性，判断出实触的位置，非常适于实用。本专利技术的另一目的在于，克服现有的分析位置的方法与装置存在的缺陷，而提供 一种新的分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其利用第一特性判断出起始位 置，依据起始位置相应的一方向从起始位置寻找零交会处，避免误判出虚触的位置，从而更 加适于实用。本专利技术的再一目的在于，克服现有的分析位置的方法与装置存在的缺陷，而提供 一种新的分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其以笔提供交流信号，区隔手 与笔的触碰，从而更加适于实用。本专利技术的还一目的在于，克服现有的分析位置的方法与装置存在的缺陷，而提供 一种新的分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其在互电容式以笔提供交流信 号，能在不误判出虚触的位置的情形下，区隔手与笔的触碰，从而更加适于实用，且具有产 业上的利用价值。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提出 的一种分析位置的方法，其包括由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触碰一信号源的一触敏信 息，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象，并且该触敏信息相应于 该些感应器与该信号源间、该至少一第一外部对象及该至少一第二外部对象间的互电容耦 合的信号；依据一第一门坎限值在该触敏信息中决定至少一第一起始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分 析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏信息。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的分析位置的方法，其中所述的第一范围是由该起始位置至一零交会处的前 一值、该零交会处、或该零交会处的后一值。前述的分析位置的方法，其中所述的第一门坎限值决定一第一起始范围，每一个 第一起始位置位于该第一起始范围内的一无其它值相邻的单一值或多个连续的值中的峰 值、最前面的值、或最后面的值。前述的分析位置的方法，其中位于该第一门坎限值为一正值或一负值，并且该第 一方向为向前或向后。前述的分析位置的方法，其中所述的零交会处位置分析是依据该零交会处前与后 的值来分析出该零交会处的位置。前述的分析位置的方法，其更包括分别依据一第二门坎限值在该触敏信息中决 定至少一第二起始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第二方向的一第二范围进行 该零交会处位置分析，其中该第二范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏信息。5前述的分析位置的方法，其中所述的第二门坎限值决定一第二起始范围，每一个 第二起始位置位于该第二起始范围内的无其它值相邻的一单一值或多个连续的值中的最 大值、最前面的值、或最后面的值。前述的分析位置的方法，其中所述的第一门坎限值与该第二门坎限值之一为正 值，并且该第一门坎限值与该第二门坎限值的另一为负值，其中该第二方向与该第一方向 相反。前述的分析位置的方法，其更包括分别依据一第二门坎限值在该触敏信息中决 定至少一结束位置；以及配对该至少一第一起始位置与该至少一结束位置以决定相应于每 一个第一起始位置的该第一范围。前述的分析位置的方法，其中相应于该至少一第二外部对象的触敏信息间存在至 少一零交会处。本专利技术的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提出的 一种分析位置的装置，其包括由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触碰一信号源的一触敏信 息，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象，并且该触敏信息相应于 该些感应器与该信号源间、该至少一第一外部对象及该至少一第二外部对象间的互电容耦 合的信号；依据一第一门坎限值在该触敏信息中决定至少一第一起始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分 析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏信息。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的分析位置的装置，其中所述的第一范围是由该起始位置至一零交会处的前 一值、该零交会处、或该零交会处的后一值。前述的分析位置的装置，其中所述的第一门坎限值决定一第一起始范围，每一个 第一起始位置位于该第一起始范围内的一无其它值相邻的单一值或多个连续的值中的峰 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分析位置的方法，其特征在于包括：由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触碰一信号源的一触敏信息，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象，并且该触敏信息相应于该些感应器与该信号源间、该至少一第一外部对象及该至少一第二外部对象间的互电容耦合的信号；依据一第一门坎限值在该触敏信息中决定至少一第一起始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏信息。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张钦富，李政翰，唐启豪，何顺隆，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]