分析位置的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术是有关于一种分析位置的方法与装置，本发明专利技术是在感测信息中判断出相应于一第一特性的触碰相关感测信息中的至少一位置。感测信息同时另外存在相应于一第二特性的触碰相关感测信息，第二特性与第一特性相反，并且相应于一第二特性的触碰相关感测信息被忽略或被滤除。本发明专利技术避免误判出虚触的位置，防止误判造成的错误操作，并且区隔手与笔的触碰，可进行忽视手掌的持笔书写判断，也可以用于判断手与笔的不同触碰；即使在互电容式侦测时，仍可进行忽视手掌的持笔书写判断，也可以用于判断手与笔的不同触碰，但不会误判出虚触的位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种分析位置的方法与装置，特别是涉及一种具虚触忽视的分析位置 的方法与装置。
技术介绍
触控显示器(Touch Display)已广泛地应用于许多电子装置中，一般的做法是采 用一触控面板(Touch Sensing Panel)在触控显示器上定义出一二维的触摸区，借由在 触摸板去上纵轴与横轴的扫瞄来取得感测信息(Sensing ^formation)，以判断外在对象 (如手指)在触摸屏上的碰触或接近，例如美国专利号US4639720所提供的一种电容式触摸 显不器。感测信息可由模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)转换为多个 连续信号值，借由比较这些信号值在外部对象碰触或接近前与后的变化量，可判断出外部 对象碰触或最接近触摸屏的位置。一般而言，控制触摸屏的控制器会先取得没有外部对象触碰或接近时的感测信 息，作为基准值(baseline)。例如在电容式触摸屏中，每一条导电条相应于各自的基准值。 控制器借由判断后续的感测信息与基准值的比较判断是否有外部对象接近或触碰，以及更 进一步判断外部对象的位置。例如，在未被外部对象接近或触碰时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分析位置的方法，其特征在于包括：由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触碰一信号源的一触敏信息，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象，并且该触敏信息相应于该些感应器与该信号源间、该至少一第一外部对象及该至少一第二外部对象间的互电容耦合的信号；依据一第一门坎限值在该触敏信息中决定至少一第一起始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏信息。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张钦富，李政翰，唐启豪，何顺隆，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]