液晶显示模块测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种液晶显示模块测试装置，包括一处理器，获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下测试液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试装置，尤其涉及液晶显示模块测试装置。
技术介绍
液晶显示才莫块(Liquid Crystal Module, LCM )的测试系统一般分为中 大尺寸和小尺寸两大类。中大尺寸LCM的输入显示信号源已标准化，如 VGA、 RGB及DVI等，其测试系统使用专用测试设备， 一般比较昂贵。 对于数码类产品用的小尺寸LCM,其接口类型多样化，有SPI I/F、 8/9/16/18-bit System I/F以及RGB I/F等多种接口 ，并且每一种不同的LCM 通常都使用不同的LCD drive,均需要不同的初始化方式，因此中大尺寸 的专用测试设备不适用小尺寸LCM的测试，业界通常是由一块普通的单 片机(MCU)加一些必须的电源模块和接口 IC组成需要价格低廉，通用 性强，易于维护的小型测试系统以满足小尺寸LCM的测试要求。现有的小尺寸LCM测试系统有许多的缺点其一，因为每个LCM都 需要不同的初始化程序，所以需要频繁使用仿真器和烧录器编写变更MCU 程序，重复的烧录操作容易导致MCU的引脚损坏或MCU失效，造成测 试电路板的损耗；其二，小型测试系统对逐渐发展成为主流的高彩色高解 析度LCM的驱动能力有限，测试效率低，LCM多种新技术的应用导致测 试系统的通用性差，例如对于触摸屏(Touch Panel, TP)的测试及LED 背光恒流驱动等；其三，测试系统保护性能较差，对于错误的LCM接入 容易导致系统损坏(MCU、电源模块及接口 IC等损坏)或LCM烧毁；其 四，现有的测试系统都不能同时兼顾实现LCD driver的读功能。鉴于以上情况，有必要提供一种新的LCM测试装置，简化其测试程序烧录过程，增强其测试能力。
技术实现思路
本技术的技术方案包括 一种液晶显示模块测试装置，包括一处理器，通过串行接口获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述 处理器控制下检测液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理 器；一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶 显示模块的显示；一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处 理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述处理器通过串行接口从一 计算机获取测试程序和测试数据。所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述存储器为闪存。所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述测试模块与所述处理器进 行串行通信，其包括一 MXB7843芯片和一 LM324芯片分别用来检测液晶 显示模块的触摸屏和电流。所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述接口模块为一74LVC4245A 芯片或74HC573芯片。所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述驱动模块为一 MP3204芯 片，提供所述液晶显示模块的背光恒流驱动。本技术所提供一种新的所述的液晶显示模块测试装置，其通过串行接口对测试程序和数据进行更新，可检测液晶显示模组的触摸屏和电 流，并可读取液晶显示模组并驱动其背光。附图说明图1为本技术液晶显示模块测试装置较佳实施方式的框图。具体实施方式以下结合附图，将对本技术的各较佳实施例进行更为详细的说明。如图l所示， 一种液晶显示模块测试装置，包括 一处理器ll、 一存 储器12、 一测试模块13、 一接口模块14、 一驱动模块15及一电源模块 16。所述处理器11可通过串行接口获取测试程序及测试数据，并执行测试 程序，所述存储器12与处理器11连接并存储处理器11获取的数据，所述 测试模块13连接于所述处理器11与一待测液晶显示模块(LCM )20之间， 在所述处理器11控制下检测液晶显示模块20的触摸屏(Touch Pane], TP ) 和电流，并将测试数据传回处理器11，所述接口模块14连接于所述处理 器11与所述LCM 20之间，控制LCM 20的显示，所述驱动模块15连接 于所述处理器11与LCM 20之间，选^^奪性驱动所述LCM 20的背光器件， 所述电源模块为上述各器件提供直流电源。在本较佳实施方式中，所述存储器12为闪存，所述测试模块13包括 一 MXB7843芯片和一 LM324芯片，所述接口才莫块14为一 74LVC4245A 芯片，所述驱动模块15为一 MP3204芯片，所述电源模块16为一 LM7805 芯片。芯片之间的引脚连接关系属于本领域公知技术，在此不再赘述。作为本技术的其它实施方式，所述接口模块也可采用74HC573 芯片，所述电源^f莫块16也可为LM317T芯片。所述液晶显示模块测试装置的工作原理如下所述处理器11通过5RS232串口与一计算机的串行口连接，实现数据及程序的下载更新，下载 更新的程序存在处理器11内，数据保存在存储器12内，处理器11通过串 行通信(SPI)的方式实现对MXB7843芯片的控制，MXB7843芯片可实 现对LCM 20的TP的检测，及联合LM324实现对LCM 20的工作电流进 行检测，同时将检测测量结果通过SPI再送回到处理器11，处理器11的 程序对反馈数据进行实时处理。处理器11的数据口连接芯片74LVC4245A,实现电平转换(5V〈》3V) 及对其显示的控制，74LVC4245A芯片及串联的电阻网络可以实现对I/O 口的保护，同时74LVC4245A芯片可实现双向的数据传送，即可实现读 LCM 20的功能。MP3204芯片恒流驱动LCM 20的背光器件，处理器11 可通过I/0 口控制其关断，实现灵活的测试要求。本技术通过计算机软件及MCU软件设定，实现处理器11串行口 下载各种LCM测试程序，然后再脱机自动运行，免去频繁拔插IC操作， 及烧录器使用，并可方便地调试各种LCM驱动程序，大大降低了维护成 本，其次，本技术包括测试TP的外围电路，增加恒流驱动背光LED 的电路，实现了 TP及LED的在线测试，合理安排处理器11的I/O使用， 提高了测试效率和通用性。利用TP测试外围电路同时作A/D转换的特点， 结合LM324的电流检测，可实现对LCM工作电流的检测、监控，再次、 在电源端及I/O端加入10电平转换IC及限流电阻，可以限制误操作带来 的损伤且不影响测试，是一个低成本高效率的电路，最后，加入可选择的 双向I/O电路，在需要的读LCM的时候，可以切换成读写结合的模式， 方便使用。应当理解的是，上述针对本技术较佳实施例的描述较为详细和具 体，并不能因此而认为是对本技术专利保护范围的限制，本技术 的专利保护范围应以所附权利要求为准。权利要求1、一种液晶显示模块测试装置，包括一处理器，获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下检测液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示模块测试装置，包括：　一处理器，获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；　一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；　一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下检测液晶显示模块 的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；　一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；　一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件； 和　一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴志谋，
申请(专利权)人：TCL集团股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44[中国|广东]