晶振测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种晶振测试装置，包括电源、晶振测试模块和频谱分析仪，晶振测试模块通过测试电缆与频谱分析仪相连，晶振测试模块还与电源相连。本实用新型专利技术结构简单、操作方便、价格低廉，能够对不同封装和不同工作电压的晶振提供不同的连接方式和不同的工作电压，通过频谱仪观测频谱来测量晶振的频率、幅度、噪声和精度等多项指标，能够测试多种精度和多种封装的晶振，特别适合大批量晶振入库筛选测试。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及频率测试领域，特别是涉及一种晶振测试装置。
技术介绍
晶振是石英振荡器的简称，英文名为Crystal。晶振在电子产品中 经常被用到，所起到的作用可分为两种， 一种是时钟信号， 一种是信 号源。在时钟电路中晶振是最重要的部件，它的作用是向显卡、网卡、 主板等配件的各部分提供基准频率，它就像个标尺，工作频率的不稳 定会造成相关设备工作频率不稳定，自然容易出现问题。在高频电路 中，晶振作为信号源对晶振的频率稳定度及精度都有很高的要求，如 果其技术指标不达标，将会影响整个电子系统的技术指标，因此在使 用前对晶振的频率进行测试非常重要。目前市场上晶振测试装置大多价格昂贵，其电路由大规4莫的集成 电路FPGA (Field - Programmable Gate Array,现场可编程门阵列) 组成，对晶振的指标进行检测和显示，虽然技术上具有一定的先进性， 但其测试指标单一，只能针对某种封装形式的晶振进行测试，无法满 足实际应用中对多种精度和多种封装的晶振进行测试的要求。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服上述
技术介绍
的不足，提供一种 结构简单、操作方便、价格低廉、能够对多种精度和多种封本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶振测试装置，包括电源、晶振测试模块和频谱分析仪，其特征在于：所述晶振测试模块通过测试电缆与频谱分析仪相连，所述晶振测试模块还与电源相连。

【技术特征摘要】
1、一种晶振测试装置，包括电源、晶振测试模块和频谱分析仪，其特征在于所述晶振测试模块通过测试电缆与频谱分析仪相连，所述晶振测试模块还与电源相连。2、 如权利要求1所述的晶振测试装置，其特征在于所述晶振 测试模块的电路包括晶振(X)、电位器(RV)、电源模块(U)、电 源接头(Jl )、 SMA接头(J2)和电容(Cl、 C2、 C3、 C4 ),晶振(X) 通过引脚VCC与电位器(RV)相连，晶振(X)通过引脚OUT与 SMA接头(J2)的引脚In相连，晶振(X)通过引脚GND接地，电 容(Cl )与电容(C2)并联，电容(C3)与电容(C4)并联，电容(Cl )的两端与电源接头(Jl )相连，电容(C2...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙德同，
申请(专利权)人：国营险峰机器厂，
类型：实用新型
国别省市：42[中国|湖北]