一种高准确度非整周期采样谐波分析测量方法技术

技术编号:4251337 阅读:275 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
为了获得高准确的谐波测量结果,本发明专利技术提供了一种谐波测量方法,对被测量信号进行采样,对采样结果进行DFT或FFT处理,得到离散频谱,从离散频谱中选取若干谱线修正长范围频谱泄漏、短范围频谱泄漏、负频点泄漏等造成的测量误差,得到高准确度的谐波测量结果。本发明专利技术可应用于谐波的精密测量领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种信号测量方法,特别是对包含谐波成分的信号的测量方法。
技术介绍
随着电力电子装置、半导体器件等非线性负荷的广泛使用,电力系统中的谐波污 染越来越严重。为了保证电能质量以及电力系统的安全运行,应对谐波进行准确检测和分 析,从而为治理谐波提供更科学的依据。另外,目前国内外出现了多种谐波测量仪器,为了 确保这些仪器量值的统一,也有必要研究高准确度的谐波测量方法。用于谐波测量的数字信号处理方法有相关分析法、基于离散傅立叶变换(DFT)的 快速傅立叶变换(FFT)法、小波变换法、神经网络法及遗传算法等。目前,FFT应用较广。在 利用FFT测量含有谐波的信号时,若数据采集系统的采样频率满足采样定理,而且采样样 本覆盖的时间是被测信号周期的整数倍,即相当于数据采集系统做到了整周期采样,此时 利用FFT可以获得准确度很高的谐波参数。但是在实际中,由于被测信号的周期未知,加上 数据采集系统硬件的限制,整周期采样通常很难实现。在非整周期采样条件下,由于长范围 泄漏、短范围泄漏、负频点泄漏的影响,利用FFT测量谐波参数时将出现较大的误差。为了 提高测量准确度,现有的方法是在忽略负频点泄漏的基础上,通过对采样样本施加窗函数 来减小长范围泄漏,采用插值方法来减小短范围泄漏。由于这些方法忽略了负频点泄漏,而 采用窗函数也无法将长范围泄漏降至最低,因而其准确度有限。现有的测量方法得到结果 的准确度约在10_5 10_4之间。
技术实现思路
为了获得高准确的谐波测量结果,本专利技术提供了一种谐波测量方法,同时减小长 范围泄漏、短范围泄漏和负频点泄漏,从而提高了谐波测量结果的准确度。本专利技术的技术方案如下高准确度谐波测量方法,包括A、对包含谐波的被测量信号进行采样的步骤,和B、对得到的采用样本进行DFT或FFT处理的步骤,还包括如下步骤C、从经过步骤B处理得到的离散频谱中选取谱线,选取的规则是选取谱线的数量为K+1,K为大于1的自然数,K的值为基波数量和要测量的谐波数量之和;选取的谱线为第P1根谱线,第P2根谱线,......,第Ρ(κ+1)根谱线,其中P1, P2,…,ΡΚ+1为谱线在离散频谱中的序号;第P1根谱线的实部为&,虚部为、,第P2根谱线的实部为 rP2,虚部为、,第P3根谱线的实部为&,虚部为&,……,第Ρ(κ+1)根谱线的实部为&_,虚 部为、M ··第P1根谱线选取离散频谱中谱峰最大的谱线,对应于基波分量;第P2根谱线选择第P1根谱线两侧紧邻的两根谱线中幅值较大谱线;从第ρ3根谱线开始直到第ρ(κ+1)根谱线,每根谱线的选取方法是选取对应各谐波的谱峰;或用谐波次数乘以P1得到数值S,离散频谱中的第s根谱线作为选取的相应谱线;D、建立以下矩阵 通过初等行列变化,使F'变为如下形式 步骤A所述对被测量信号进行采样为非整周期采样,即采用周期与被测信号周期 之间为非整数倍关系。步骤A所述对被测量信号进行采样还可以是整周期采样,即采用周期与被测信号 周期之间为整数倍关系。本专利技术的技术效果以下通过理论推导的方式对本专利技术达成的技术效果进行说明。时域内连续的谐波信号通常可表示为如下形式 其中,t为时间;f为基波信号的频率;k为谐波次数,k = 1时表示基波;Ak为第k 次谐波的幅值为第k次谐波的初相位。忽略模数转换过程中的量化误差,以及测量过程中的各种随机误差,利用采样频 率为fs (邻近两次采样的时间间隔为Ts= l/fs)的数据采集系统得到N个样本= (2)k其中η为大于等于0且小于等于N-I的整数。u (η)的FFT的结果为(3)N其中,m为大于等于0且小于等于N-I的整数。在整周期采样条件下,即kNf = pfs, ρ为整数,则第k次谐波的频率为pfs/N,幅值 和初相位可利用u (η)的离散频谱中的第ρ根谱线获得,因为U =^(4)“2jN在非整周期采样条件下,kNf = (ρ+ ε )fs,I ε I < 1且ε乒0,此时第ρ根谱线的 值变为U =——“ι pj2Ti/crι fjlnhl(5)=^VjO+Uc-UF]其中,τ = Nf/fs。由短范围频谱泄漏造成的测量误差存在于Ud中,由长范围频谱 泄漏造成的误差存在于Uc中,由负频点频谱泄漏造成的误差存在于Uf中。由于上述泄漏的 影响,利用上式很难准确得到第k次谐波的参数。现有的技术或者忽略长范围频谱泄漏和 短范围频谱泄漏造成的误差,或者忽略长范围频谱泄漏造成的误差,或者忽略负频点频谱 泄漏造成的误差,因此得到的第k次谐波的参数的准确度有限。在非整周期采样条件下,令^^卞-^;^力+⑴,根据式(5)可知,第ρ根谱线的6 在利用数据采集系统采集时域连续信号时,数据采集系统的采样频率fs以及获取 的样本数N均已知。对采样数据进行FFT后,第ρ根谱线的虚部Ip和实部Rp也已知,而需要 测量的基波和谐波的数量K也已知。那么,在式(6)中,只剩下bk、τ是未知数。为了准确 测量τ,按前述专利技术技术方案中所述方法选取(Κ+1)根谱线来修正长范围频谱泄漏、短范 围频谱泄漏、负频点频谱泄漏等造成的测量误差。假设这(Κ+1)根谱线分别为第Pl,P2,…, ΡΚ+1根谱线,根据式(6)有 在式(8)中,由于b1; b2, 初等行列变换,便可消去b1; b2,· 该过程可利用下述矩阵化简描述tb|K总计K个未知数,而方程总计(Κ+1)个,因而通过 ,bK得到一个关于τ的方程,求解该方程便可求得τ 根据式(8),可构造如下矩阵7 2πρ,sinInp1(2πρ、ι ( 2πτ cos I ^— I —cos I - 『arg〔续)从上述推导过程可见,本专利技术方法能够同时消除长范围泄漏效应、短范围泄漏效 应和负频点泄漏效应,具有较高的准确度。本专利技术获得的谐波参数的准确度可达10_7以上。附图说明图1为本专利技术方法的流程图。图2为给出的测量实例得到的离散频谱。图2中的标识说明如下1、第18根谱线;2、第19根谱线;3、第53根谱线;4、第87根谱线。 具体实施例方式以下结合附图对本专利技术的技术方案进行详细说明。如图1所示的流程图,本专利技术的高准确度谐波测量方法具体步骤如下首先需要利用数据采集系统对输入的被测谐波信号(即包含谐波的被测量信号) 进行采样,获得N个采样样本,N为自然数,fs为采样频率。然后对采集到的N个采样样本进行离散傅立叶变换(DFT)或快速傅立叶变换 (FFT),得到被测量信号的离散频谱。第三步,从离散频谱中选取K+1根谱线,选取谱线的规则为K为大于1的自然数,K的值为基波数量和要测量的谐波数量之和;假定选取的谱 线为第P1根谱线,第P2根谱线,……,第Ρ(κ+1)根谱线,其中Pl,P2,…,ρκ+1为谱线在离散 频谱中的序号;第P1根谱线的实部为&,虚部为&,第P2根谱线的实部为&2,虚部为\,第 P3根谱线的实部为&;,虚部为、,……,第Ρ(κ+1)根谱线的实部为A第P1根谱线选取离散频谱中谱峰最大的谱线,第P1根谱线实际是选取基波谱峰, 一般基波的成分都大于谐波的成分,所以基波的谱峰在离散频谱中最高。第P2根谱线选择 第?1根谱线两侧紧邻的两根谱线中幅值较大谱线。从第P3根谱线开始直到第Ρ本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高准确度非整周期采样谐波分析测量方法,包括:A、对包含谐波的被测量信号进行采样的步骤,和B、对得到的采用样本进行DFT或FFT处理的步骤,其特征在于还包括如下步骤:C、从经过步骤B处理得到的离散频谱中选取谱线,选取的规则是:选取谱线的数量为K+1,K为大于1的自然数,K的值为基波数量和要测量的谐波数量之和;选取的谱线为第p↓[1]根谱线,第p↓[2]根谱线,......,第p↓[(K+1)]根谱线,其中p↓[1],p↓[2],…,p↓[K+1]为谱线在离散频谱中的序号;第p↓[1]根谱线的实部为R↓[p↓[1]],虚部为I↓[p↓[1]],第p↓[2]根谱线的实部为R↓[p↓[2]],虚部为I↓[p↓[2]],第p↓[3]根谱线的实部为R↓[p↓[3]],虚部为I↓[p↓[3]]......,第p↓[(K+1)]根谱线的实部为R↓[p(K+1)],虚部为I↓[p(K+1)];第p↓[1]根谱线选取离散频谱中谱峰最大的谱线;第p↓[2]根谱线选择第p↓[1]根谱线两侧紧邻的两根谱线中幅值较大谱线;从第p↓[3]根谱线开始直到第p↓[(K+1)]根谱线,每根谱线的选取方法是选取对应各谐波的谱峰;或用谐波次数乘以p↓[1]得到数值s,离散频谱中的第s根谱线作为选取的相应谱线;D、建立以下矩阵:***从该矩阵求得τ;E、计算b↓[1],…,b↓[K]***和a↓[1],…,a↓[K]***得到:第k次谐波的频率为kτf↓[s]/2πN;第k次谐波的幅值A↓[k]为2N*/(1-cos(2πkτ);第k次谐波的初相位为arg(a↓[k]+b↓[k]j/1-e↑[j2πkτ)。...

【技术特征摘要】
一种高准确度非整周期采样谐波分析测量方法,包括A、对包含谐波的被测量信号进行采样的步骤,和B、对得到的采用样本进行DFT或FFT处理的步骤,其特征在于还包括如下步骤C、从经过步骤B处理得到的离散频谱中选取谱线,选取的规则是选取谱线的数量为K+1,K为大于1的自然数,K的值为基波数量和要测量的谐波数量之和;选取的谱线为第p1根谱线,第p2根谱线,......,第p(K+1)根谱线,其中p1,p2,…,pK+1为谱线在离散频谱中的序号;第p1根谱线的实部为虚部为第p2根谱线的实部为虚部为第p3根谱线的实部为虚部为......,第p(K+1)根谱线的实部为虚部为第p1根谱线选取离散频谱中谱峰最大的谱线;第p2根谱线选择第p1根谱线两侧紧邻的两根谱线中幅值较大谱线;从第p3根谱线开始直到第p(K+1)根谱线,每根谱线的选取方法是选取对应各谐波的谱峰;或用谐波次数乘以p1得到数值s,离散频谱中的第s根谱线作为选取的相应谱线;D、建立以下矩阵 <mrow><msup> <mi>F</mi> <mo>&prime;</mo></msup><mo>=</mo><mfenced open='[' close=']'> <mtable><mtr> <mtd><mfrac> <mrow><mi>sin</mi><mrow> <mo>(</mo> <mfrac><mrow> <mn>2</mn> <mi>&pi;</mi> <msub><mi>p</mi><mn>1</mn> </msub></mrow><mi>N</mi> </mfrac> <mo>)</mo></mrow> </mrow> <mrow><mi>cos</mi><mrow> <mo>(</mo> <mfrac><mrow> <mn>2</mn> <mi>&pi;</mi> <msub><mi>p</mi><mn>1</mn> </msub></mrow><mi>N</mi> </mfrac> <mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mi>cos</mi><mrow> <mo>(</mo> <mfrac><mrow> <mn>2</mn> <mi>&pi;&tau;</mi></mrow><mi>N</mi> </mfrac> <mo>)</mo></mrow> </mrow></mfrac> </mtd> 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【专利技术属性】
技术研发人员:金海彬吴静郝婷婷
申请(专利权)人:中国航天科技集团公司第五研究院第五一四研究所
类型:发明
国别省市:11

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