【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体激光器,具体地说是一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法。
技术介绍
1、氮化镓(gan)作为一种具有直接带隙的宽禁带半导体材料,其禁带宽度约为3.4ev,电子迁移率高达800cm²/(v·s),饱和电子漂移速度可达2.7×107cm/s,凭借这些优异的物理特性,在高频、高功率、高效率的电子器件以及光电器件领域展现出巨大的应用潜力。
2、随着gan基器件在无线通信、智能电网、电动汽车、工业电源等领域应用的不断拓展,对gan材料的质量提出了更高的要求。高质量的gan外延层能够显著提升器件的性能和可靠性,例如在射频功率放大器中,高质量的gan材料能够实现更高的输出功率和效率,降低器件的发热和能量损耗。在光电子领域,高质量的gan材料有助于提高发光二极管(led)和激光二极管(ld)的发光效率和稳定性,延长器件的使用寿命。目前,用于生长gan材料的衬底多种多样,包括gan、si、al2o3、sic、zno、gaas等。在这些衬底中,碳化硅(sic)衬底因其在高温下性质稳定、导电和导热性能优良、与ga
...【技术保护点】
1.一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:包括以下步骤,
2.根据权利要求1所述的一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:S1包括以下步骤,
3.根据权利要求1所述的一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:步骤S2中,MOCVD反应室的预设温度为1100℃,通入氢气的流量为3000sccm,通入氢气的时间为15分钟。
4.根据权利要求1所述的一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:步骤3.1中,MOCVD反应室压力为20-200mbar
...【技术特征摘要】
1.一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:包括以下步骤,
2.根据权利要求1所述的一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:s1包括以下步骤,
3.根据权利要求1所述的一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:步骤s2中,mocvd反应室的预设温度为1100℃,通入氢气的流量为3000sccm,通入氢气的时间为15分钟。
4.根据权利要求1所述的一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:步骤3.1中,mocvd反应室压力为20-200mbar,温度为1000-1200℃,三甲基铝流量为10-100sccm,三甲基镓流量为20-200sccm,氨气流量为1000-5000sccm。
5.根据权利要求1所述的一种通过控制气流在n型碳化硅衬底上制备氮化镓的方法,其特征在于:所述algan层(2)的预设生长厚度为60-120nm。
6.根据权利要求1所述的一种通过控...
【专利技术属性】
技术研发人员:李毓锋,赵伟杰,王成新,郑军,马光宇,
申请(专利权)人:山东浪潮华光光电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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