纠偏方法及纠偏系统技术方案

技术编号:46622743 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-14 21:17
本发明专利技术公开了一种纠偏方法,该纠偏方法包括:获取一极片相对于一隔膜的偏移值;获取偏移值在一对照样本集出现的频率值;比较频率值与一预设值的大小,且当该频率值与预设值满足一预设条件时,对极片的位置进行调整以校准极片与隔膜的位置;其中,对照样本集为采集若干次样本极片相对于样本隔膜的样本偏移值而获得,且预设值为基于经验确定的、可接受的偏移值在对照样本集的比例。本发明专利技术还公开了采用上述纠偏方法的纠偏系统。本发明专利技术纠偏方法及纠偏系统提高了纠偏精度和纠偏稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于锂电池自动化设备领域,尤其涉及一种纠偏方法及纠偏系统


技术介绍

1、电芯在生产过程中,主要将片状的正、负极片和隔膜卷绕形成电芯。在卷绕过程中,极片经过一系列复杂的动作流程,包括入料、预卷、卷绕和收尾。这些步骤要求极高的精度和稳定性,以确保极片和隔膜的相对位置准确无误。

2、然而,在实际生产过程中,一个常见的问题是极片在传送过程中的悬空状态。这通常发生在极片裁切后,前一极片即将卷绕完成形成电芯,其尾部悬空,而后一极片的头部尚未进入卷针,也呈现悬空状态。在这种状态下,极片与隔膜的相对位置变得极不稳定,极片易受到设备振动、气流扰动等外部因素的影响,导致位置偏移。

3、现有技术多数采用直接检测极片悬空部位的偏移值与基准值相比较进行纠偏的方式。由于极片悬空状态的特殊性,其位置偏移的检测往往受到诸多干扰因素的影响,导致检测结果不准确。这种不准确性使得纠偏操作无法精确执行,最终无法有效改善电芯的制造质量。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种能够提高纠偏精度的纠偏方法及纠偏本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种纠偏方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的纠偏方法,其特征在于,所述对照样本集为采集若干次样本极片相对于样本隔膜的样本偏移值而获得的步骤包括:确定每一样本偏移值在若干次样本偏移值中的概率值。

3.如权利要求2所述的纠偏方法,其特征在于,所述样本偏移值为样本极片与样本隔膜同侧边缘距离。

4.如权利要求2所述的纠偏方法,其特征在于,所述获取一极片相对于一隔膜的偏移值的步骤前还包括获取基准距离,所述基准距离为基准极片与基准隔膜未偏移时同侧边缘距离,所述样本偏移值为基准距离减去样本极片与样本隔膜同侧边缘距离,所述偏移值为基准距离减去极片与隔膜...

【技术特征摘要】

1.一种纠偏方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的纠偏方法,其特征在于,所述对照样本集为采集若干次样本极片相对于样本隔膜的样本偏移值而获得的步骤包括:确定每一样本偏移值在若干次样本偏移值中的概率值。

3.如权利要求2所述的纠偏方法,其特征在于,所述样本偏移值为样本极片与样本隔膜同侧边缘距离。

4.如权利要求2所述的纠偏方法,其特征在于,所述获取一极片相对于一隔膜的偏移值的步骤前还包括获取基准距离,所述基准距离为基准极片与基准隔膜未偏移时同侧边缘距离,所述样本偏移值为基准距离减去样本极片与样本隔膜同侧边缘距离,所述偏移值为基准距离减去极片与隔膜同侧边缘距离。

5.如权利要求1所述的纠偏方法,其特征在于,所述预设值为可接受最大偏移值在对照样本集的比例。

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【专利技术属性】
技术研发人员:万志永邱毅原乃峰
申请(专利权)人:苏州杰锐思智能科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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