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本发明公开了一种纠偏方法，该纠偏方法包括：获取一极片相对于一隔膜的偏移值；获取偏移值在一对照样本集出现的频率值；比较频率值与一预设值的大小，且当该频率值与预设值满足一预设条件时，对极片的位置进行调整以校准极片与隔膜的位置；其中，对照样本集为...
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