【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及地球与行星科学全岩成分测试,尤其涉及一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法。
技术介绍
1、目前地球与行星科学领域中珍稀地外样品全岩元素分析主要采用以下方法:
2、x射线荧光光谱法(xrf)、x射线衍射分析法(xrd)、电感耦合等离子体质谱(icp-ms)法、基于电子探针原位分析测试技术的全岩组分分析计算等方法。x射线荧光光谱法是地球岩石常用的主量元素分析方法,缺点是样品消耗量大,不适用于地外珍稀样品;x射线衍射分析法主要实现粉末样品的定性分析,不能定量分析元素含量;电感耦合等离子体质谱法要进行化学溶样,属于有损分析,只能分析微量元素;基于电子探针原位分析测试技术的全岩组份分析方法对靶样制备要求高,对矿物成分不均匀的样品,以及地外样品普遍存在的冲击熔融角砾岩,其分析计算的准确度大大降低。目前还没有一种仅消耗微量样品,同时实现主量元素和微量元素的分析测试方法。在这样的背景下,经过多次试验和论证,提出了一种可用于地外珍稀样品的全岩成分高保真精确分析测试方法——探针-质谱熔珠法。
技
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1.一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:步骤1中,地外珍稀样品包括陨石、微陨石、月岩、月壤和小行星样品。
3.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:步骤1中粉末样品的粒径≤75μm。
4.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:步骤1中粉末样品的为对应200目筛通过率≥99%。
5.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍
...【技术特征摘要】
1.一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:步骤1中,地外珍稀样品包括陨石、微陨石、月岩、月壤和小行星样品。
3.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:步骤1中粉末样品的粒径≤75μm。
4.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:步骤1中粉末样品的为对应200目筛通过率≥99%。
5.根据权利要求1所述的一种可用于地外珍稀样品的全岩成分精确测试方法,其特征在于:步骤3中,氮气气氛为1个标准大气压下,逐渐加...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈宏毅,张晋瑜,夏志鹏,谢兰芳,
申请(专利权)人:桂林理工大学,
类型:发明
国别省市:
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