【技术实现步骤摘要】
本披露一般涉及光学测量，更具体地，涉及一种光学测量装置和系统。
技术介绍
1、在现代光学测量领域，对发光样品的波长分布测量具有重要意义。传统的测量方法往往存在速度慢等问题，难以满足当前高效率的检测需求。
2、现有技术中，通常采用单点测量的方式，通过光谱仪等设备对发光样品的波长进行逐点测量，这种方法不仅测量速度慢，而且在测量大面积发光样品时，难以保证测量的均匀性和准确性。同时，传统方法在测量过程中，容易受到外界环境光的干扰，进一步影响测量结果的可靠性。
3、有鉴于此，本申请提供一种快速测量发光样品波长二维分布的系统及方法，能够实现对发光样品波长的快速测量，有效提高测量效率。
技术实现思路
1、为了至少解决如上所提到的一个或多个技术问题，本披露在多个方面中提出了一种光学测量装置和系统方案。
2、在第一方面中，本披露提供一种光学测量装置，该装置包括：分光模块，包括至少一个镀覆有光学薄膜的光学元件，光学薄膜的透过率和/或反射率在测量波段范围内随着波长单调变化；至...
【技术保护点】
1.一种光学测量装置，其特征在于，该光学测量装置包括：
2.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，所述分光模块还包括立方分光棱镜，其设置在所述光学元件的光路的上游，被配置为将待检测的入射光束分束成两路光束，所述两路光束中至少有一路光束是经由所述光学薄膜传输至与该路光束对应的图像传感器。
3.根据权利要求2所述的光学测量装置，其特征在于，所述光学元件是滤光元件时，所述分光模块还包括至少一个补偿元件，所述补偿元件是由与所述滤光元件相同的材料制成的，且所述补偿元件与所述滤光元件具有相同的厚度，所述两路光束中的另一路光束经由所述补偿元件传输至与...
【技术特征摘要】
1.一种光学测量装置，其特征在于，该光学测量装置包括：
2.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，所述分光模块还包括立方分光棱镜，其设置在所述光学元件的光路的上游，被配置为将待检测的入射光束分束成两路光束，所述两路光束中至少有一路光束是经由所述光学薄膜传输至与该路光束对应的图像传感器。
3.根据权利要求2所述的光学测量装置，其特征在于，所述光学元件是滤光元件时，所述分光模块还包括至少一个补偿元件，所述补偿元件是由与所述滤光元件相同的材料制成的，且所述补偿元件与所述滤光元件具有相同的厚度，所述两路光束中的另一路光束经由所述补偿元件传输至与该路光束对应的图像传感器。
4.根据权利要求2所述的光学测量装置，其特征在于，所述光学元件包括分别设置在所述两路光束的光路上的第一滤光元件和第二滤光元件，所述第一滤光元件镀覆有第一光学薄膜，所述第二滤光元件镀覆有第二光学薄膜，所述第一光学薄膜的透过率在测量波段范围内随着波长单调增加且所述第二光学薄膜的透过率在测量波段范围内随着波长单调减少；或者所述第一光学薄膜的透过率在测量波段范围内随着波长单调减少且所述第二光学薄膜的透过率在测量波段范围内随着波长单调增加；
5.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，所述光学测量装置还包括成像照明模块，设置在所述分光模块的光路的上游，被配置为将待检测样品产生的检测信号光束汇聚至所...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：高视科技苏州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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