基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统及方法，在使用过程中，通过双光梳输出模块生成相干的检测光梳与参考光梳，检测光梳进入谐振腔与待测气体相互作用，参考光梳直达数据采集分析模块；通过数据采集分析模块连通谐振腔及双光梳输出模块，用于接收参考光梳以及从谐振腔中输出的检测光梳，根据检测光梳和参考光梳对待测气体进行成分及浓度分析；在测量的过程中，实时利用电光调制模块获取从谐振腔中输出的检测光梳，并基于检测光梳对谐振腔中检测光梳的光场进行动态调制，使其光梳模式实时与谐振腔的自由光谱范围匹配，在谐振腔内形成高效耦合，以消除气体色散效应对测量精度的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于气体检测，具体涉及一种基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统及方法。

技术介绍

1、气体吸收光谱测量是一种基于物质对光的选择性吸收特性，通过分析气体分子对特定波长光的吸收程度，来定性或定量测定气体成分及浓度的技术。其中，腔衰荡光谱技术(crds)是一种基于光腔衰荡时间测量的高灵敏度光谱技术，通过检测光梳在光学谐振腔内因气体吸收导致的光强衰减时间，从而实现定量测定气体浓度的气体吸收光谱测量技术。

2、然而，crds技术在实际使用中，其待测气体中一般都会含有多种气体，而由于不同气体的吸收特性和折射率不同，导致出现气体的色散效应，从而会影响光信号的传播，导致衰荡过程中出现非线性调制，使检测光梳在光学谐振腔内的衰荡特性发生偏移，从而影响测量的精度。

技术实现思路

1、为了解决
技术介绍
中，气体的色散效应会影响光信号传播，导致衰荡过程中出现非线性调制，影响测量精度的技术问题，本专利技术提供了一种基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统及方法。

2、为了实现上述目的，本专利技术采用如下技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统，其特征在于，所述系统包括双光梳输出模块(1)、谐振腔(2)、数据采集分析模块(3)及电光调制模块(4)；

2.根据权利要求1所述的基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统，其特征在于，所述谐振腔(2)包括腔体(21)、第一腔镜(22)、第二腔镜(23)和分束镜(24)；

3.根据权利要求2所述的基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统，其特征在于，所述电光调制模块(4)包括依次电连接的光电探测器(41)、锁相环(42)、信号发生器(43)、电光调制驱动源(44)及电光调制晶体(45)；

4.根据权利要求3所述...

【技术特征摘要】

1.一种基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统，其特征在于，所述系统包括双光梳输出模块(1)、谐振腔(2)、数据采集分析模块(3)及电光调制模块(4)；

2.根据权利要求1所述的基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统，其特征在于，所述谐振腔(2)包括腔体(21)、第一腔镜(22)、第二腔镜(23)和分束镜(24)；

3.根据权利要求2所述的基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统，其特征在于，所述电光调制模块(4)包括依次电连接的光电探测器(41)、锁相环(42)、信号发生器(43)、电光调制驱动源(44)及电光调制晶体(45)；

4.根据权利要求3所述的基于电光调制的双光梳腔调制气体测量系统，其特征在于，所述数据采集分析模块(3)包括合束镜(31)、平衡光电探测器(32)、采集卡(33)及分析主机(34)；

5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘元山，王晓宇，张新伟，贺涛，程光华，王江，张国栋，张中印，张颜艳，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：