电子部件缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种电子部件缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，方法包括：获取自动检测设备检测的第一缺陷数据；利用AI模型对第一缺陷数据检测，利用一次过滤标准对AI模型得到的第二缺陷数据进行过滤，得到一次过滤不可放行数据；获取人工利用二次过滤标准对一次过滤不可放行数据进行过滤得到的双不放行数据和争议放行数据；根据双不放行数据及争议放行数据对一次过滤标准进行优化，得到新的一次过滤标准，返回执行获取第一缺陷数据的步骤。本申请公开的技术方案，先利用AI模型进行检测和利用上一次迭代得到的一次过滤标准进行过滤，再由人工过滤，并通过持续的迭代使一次过滤标准越来越接近检板标准，以降低缺陷误判率和人工检测量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电子部件生产，尤其涉及一种电子部件缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

1、诸如pcb(printed circuit board，印刷电路板)等电子部件是现代电子设备的核心组成部分，其制造工艺高度复杂，包括设计、制造、检测及出货等多个环节。在这些环节中，缺陷检测和质量控制是保证产品性能和可靠性的关键。

2、目前，主要通过如下方式实现电子部件缺陷检测：先由aoi(automated opticalinspection，自动光学检测)设备和/或axi(automatic x-ray inspection，自动x射线检测)设备等自动检测设备基于出厂标准或比出厂标准更严格的标准对缺陷进行报点，然后，由人工基于检板标准对报点数据进行缺陷检测。这种实现方式不仅会导致人工检测的数据量比较大，降低检测效率和产品质量的一致性，而且自动检测设备可能会将符合出厂标准的电子部件判定为不合格，使得这些电子部件进入返工流程或被报废，造成资源浪费和生产成本增加。

3、综上所述，如何降低人工检测的数据量及缺陷检测的误判率，是目前本领域技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子部件缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，根据所述双不放行数据及所述争议放行数据对所述一次过滤标准进行优化，包括：

3.根据权利要求2所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，根据所述目标缺陷类型在所述双不放行数据中的缺陷信息及在所述争议放行数据中的缺陷信息对所述一次过滤标准中所述目标缺陷类型的过滤参数进行优化，包括：

4.根据权利要求3所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

5.根据权利要求3所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，还包括：>

6.根据权利...

【技术特征摘要】

1.一种电子部件缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，根据所述双不放行数据及所述争议放行数据对所述一次过滤标准进行优化，包括：

3.根据权利要求2所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，根据所述目标缺陷类型在所述双不放行数据中的缺陷信息及在所述争议放行数据中的缺陷信息对所述一次过滤标准中所述目标缺陷类型的过滤参数进行优化，包括：

4.根据权利要求3所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

5.根据权利要求3所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

6.根据权利要求2所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求2所述的电子部件缺陷检测方法，其特征在于，在获取所述双不放行数据中数量比值小于第一预设阈值或所述争议放行数据中数量比值不小于第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙双立，
申请(专利权)人：苏州博视精工智能装备科技有限公司，
类型：发明
国别省市：