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本申请公开了一种电子部件缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质,方法包括:获取自动检测设备检测的第一缺陷数据;利用AI模型对第一缺陷数据检测,利用一次过滤标准对AI模型得到的第二缺陷数据进行过滤,得到一次过滤不可放行数据;获取人工利用二次过...该专利属于苏州博视精工智能装备科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州博视精工智能装备科技有限公司授权不得商用。
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本申请公开了一种电子部件缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质,方法包括:获取自动检测设备检测的第一缺陷数据;利用AI模型对第一缺陷数据检测,利用一次过滤标准对AI模型得到的第二缺陷数据进行过滤,得到一次过滤不可放行数据;获取人工利用二次过...