【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及射频器件可靠性测试，更具体的说是涉及一种基于可调脉宽的p波段功率放大器加速寿命试验方法。
技术介绍
1、p波段通常指400～500mhz的波段，p波段功率放大器专门用于此波段工作，特点是波长较长，穿透能力强，绕射性能好，适合远距离传输，广泛应用于雷达、通信、气象监测、电子对抗等领域。
2、但是，关于p波段功率放大器的寿命试验，传统直流老化测试无法模拟脉冲工作状态，导致器件实际寿命评估误差较大，同时固定脉宽测试系统无法根据器件结温动态调整占空比，存在过热烧毁风险。
3、因此，构建可调脉宽试验系统进行加速寿命试验，是本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种基于可调脉宽的p波段功率放大器加速寿命试验方法，构建可调脉宽试验系统，并根据p波段功率放大器试验温度及试验时间的关系，进行加速寿命试验。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、第一方面，本专利技术提供一种基于可调脉宽的p波段...
【技术保护点】
1.一种基于可调脉宽的P波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的一种基于可调脉宽的P波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，步骤S1，包括：
3.如权利要求2所述的一种基于可调脉宽的P波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，步骤S11中，所述试验加速比，采用公式表示为：
4.如权利要求3所述的一种基于可调脉宽的P波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，步骤S12中，所述试验需要的累计时间，采用公式表示为：
5.如权利要求1所述的一种基于可调脉宽的P波段功率放大器加速寿...
【技术特征摘要】
1.一种基于可调脉宽的p波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的一种基于可调脉宽的p波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，步骤s1，包括：
3.如权利要求2所述的一种基于可调脉宽的p波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，步骤s11中，所述试验加速比，采用公式表示为：
4.如权利要求3所述的一种基于可调脉宽的p波段功率放大器加速寿命试验方法，其特征在于，步骤s12中，所述试验需要的累计时间，采用公式表示为：
5.如权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：乔巍，徐洪武，张冬营，卢庆麟，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十五研究所，
类型：发明
国别省市：
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