【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于等离子体诊断，具体涉及一种用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统及方法。
技术介绍
1、等离子体诊断为利用各种方法对等离子体的关键参数进行测量的过程，这里叫做“诊断”而不叫“测量”是因为等离子体是一种极其复杂的物理状态，其特性不能仅仅通过简单的测量来完全描述。目前的诊断方法主要分为两类：介入式和非介入式诊断，分类的标准在于诊断设备是否深入等离子体。介入式诊断会将测量探针插入等离子体中，以获取局部参数。这种方法虽然具有较高的空间分辨率，但可能会对等离子体的流场造成扰动，污染等离子体环境，且在高温条件下可能损坏探针，限制了其应用范围。相较之下，非介入式诊断方法通过分析电磁波与等离子体之间的相互作用来推导其参数，并不会与等离子体接触，不会对待测等离子体造成扰动。
2、非介入式诊断方法包括光谱诊断法、激光干涉法和微波诊断法等，其中微波诊断法以诊断原理简单、架设方便等而被广泛采用。微波诊断方法涵盖多种技术，包括微波反射法、干涉法和透射法。微波诊断也将等离子体视为特殊电介质，令微波入射等离子体，微波在等离子体中传播时，通...
【技术保护点】
1.一种用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，包括：太赫兹波发射模块(1)、第一太赫兹馈源(2)、第一冷却腔体(3)、第一耐高温聚焦透镜(4)、太赫兹波接收模块(5)、第二太赫兹馈源(6)、第二冷却腔体(7)、第二耐高温聚焦透镜(8)和矢量网络分析仪组件(9)，其中，
2.根据权利要求1所述的用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，还包括：真空微波暗室(10)，其中，
3.根据权利要求1所述的用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，还包括第一导轨支撑结构(11)和第二导轨支撑结构(12)，其中，>
4.根据权利...
【技术特征摘要】
1.一种用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，包括：太赫兹波发射模块(1)、第一太赫兹馈源(2)、第一冷却腔体(3)、第一耐高温聚焦透镜(4)、太赫兹波接收模块(5)、第二太赫兹馈源(6)、第二冷却腔体(7)、第二耐高温聚焦透镜(8)和矢量网络分析仪组件(9)，其中，
2.根据权利要求1所述的用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，还包括：真空微波暗室(10)，其中，
3.根据权利要求1所述的用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，还包括第一导轨支撑结构(11)和第二导轨支撑结构(12)，其中，
4.根据权利要求3所述的用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，还包括工控机(13)，所述工控机(13)与所述矢量网络分析仪组件(9)通过光纤连接，且电连接所述第一导轨支撑结构(11)和所述第二导轨支撑结构(12)。
5.根据权利要求1所述的用于极端环境下等离子体的太赫兹波诊断系统，其特征在于，所述第一冷...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵成伟，高靖茹，刘彦明，魏强，王佳涛，刘东林，杨杰，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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