一种BMS板卡缺陷智能检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种BMS板卡缺陷智能检测方法及系统，旨在通过采集多域异常信号进行频域融合构建电路状态谱库，识别异常阻抗模式并生成缺陷激励点；对热红外分布信号进行梯度解析生成热流拓扑场，提取异常热源位置并建立热电耦合坐标；在缺陷激励点注入扫频信号产生缺陷响应特征，通过共振放大生成增强检测域；对增强检测域进行频谱分解识别缺陷谐振频点，利用多频叠加激励和相位编织构建相位检测网络；基于相位检测网络与缺陷阻抗分布域进行谐波串扰挖掘生成缺陷定位矩阵；将缺陷定位矩阵进行阻抗梯度解析重构缺陷电场拓扑，实现缺陷精确坐标定位；最终通过分层标注和梯次损害递推链分析完成缺陷类型识别和严重等级评估。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子设备检测，特别是涉及一种bms板卡缺陷智能检测方法及系统。

技术介绍

1、bms板卡作为电池管理系统的核心控制单元，承担着电池状态监测、充放电控制、安全保护等关键功能，其工作可靠性直接影响整个电池系统的安全性和使用寿命。然而，在复杂的工作环境下，bms板卡容易出现焊点开裂、导线断裂、绝缘劣化、器件老化等多种缺陷，这些缺陷往往隐蔽性强、发展迅速，给电池系统的安全运行带来严重威胁。

2、现有的bms板卡检测技术主要依赖单一信号源的分析方法，如仅基于电阻测量、温度监测或阻抗分析等，这些方法存在检测精度不足、缺陷定位不准确、无法识别早期微小缺陷等技术局限。同时，传统检测方法缺乏对多种物理现象间关联性的深度挖掘，难以建立缺陷特征与物理位置的精确映射关系，无法实现缺陷类型的智能分类和严重程度的定量评估，严重制约了bms板卡故障预测和预防性维护的技术发展。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种bms板卡缺陷智能检测方法及系统，旨在充分融合阻抗频谱数据、热红外分布信号和电路走线信息等多域异常信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种BMS板卡缺陷智能检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述多域异常信号进行频域融合构建电路状态谱库，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述缺陷激励点注入扫频信号生成缺陷响应特征，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述热电耦合坐标进行阻抗映射生成缺陷阻抗分布域，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述相位检测网络与所述缺陷阻抗分布域进行谐波串扰挖掘生成缺陷定位矩阵，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，...

【技术特征摘要】

1.一种bms板卡缺陷智能检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述多域异常信号进行频域融合构建电路状态谱库，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述缺陷激励点注入扫频信号生成缺陷响应特征，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述热电耦合坐标进行阻抗映射生成缺陷阻抗分布域，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述相位检测网络与所述缺陷阻抗分布域进行谐波串扰挖掘生成缺陷定位矩阵，包括：

【专利技术属性】
技术研发人员：何洁，孙亚辉，卢艳辉，韩冬冬，
申请(专利权)人：北京柏瑞安电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：

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