温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种BMS板卡缺陷智能检测方法及系统，旨在通过采集多域异常信号进行频域融合构建电路状态谱库，识别异常阻抗模式并生成缺陷激励点；对热红外分布信号进行梯度解析生成热流拓扑场，提取异常热源位置并建立热电耦合坐标；在缺陷激励点注入扫频信号...
该专利属于北京柏瑞安电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京柏瑞安电子技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。