一种半导体测试工装台制造技术

本技术涉及半导体测试领域，尤其涉及一种半导体测试工装台。包括工作台和两个测试针组，所述工作台的上表面安装有测试仪表，所述工作台的上表面安装有治具板，所述治具板的上表面固定连接有芯片，所述工作台的上表面设有调节结构，所述调节结构包括两个固定板，两个所述固定板与工作台固定连接，所述固定板靠近芯片的一侧固定连接有两个固定杆，两个所述固定杆的圆弧面滑动连接有移动板，所述移动板远离芯片的一侧固定连接有操纵杆。本技术提供的一种半导体测试工装台具有支撑架配合限位板对测试针组进行夹持固定，安装高度和横向位置灵活可调，在对不同的芯片进行测试时，不需要更换整个测试工装，节约成本的优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体测试领域，尤其涉及一种半导体测试工装台。

技术介绍

1、半导体测试中，利用测试探针、测试仪表等测试组件对半导体芯片的导通、电流、功能和老化情况等性能指标进行测试。

2、现有技术中，在使用测试工装对半导体进行测试时，是将安装有待测芯片的治具板固定在工作台上，操作移动板靠近芯片，使带有连接线的一组测试探针与芯片连接，然后移动另一组测试探针与芯片连接，观察测试仪表的读数，对芯片的导通、电流等性能指标进行判断，然而这种操作会出现以下问题，测试工装中的移动板与测试探针是一体式的，根据待测芯片一体式设计和制作的，在对不同的芯片进行测试时需要重新制作对应的测试工装，导致测试作业成本高。

技术实现思路

1、本技术的目的是解决现有技术中存在测试不同半导体芯片，需要整体更换测试工装台，造价高的缺点。

2、为解决上述技术问题，本技术提供一种半导体测试工装台，包括：工作台和两个测试针组，所述工作台的上表面安装有测试仪表，所述测试仪表的一侧电性连接有连接线，所述连接线远离测试仪表的一端与其中一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体测试工装台，其特征在于，包括：工作台(1)和两个测试针组(2)，所述工作台(1)的上表面安装有测试仪表(3)，所述测试仪表(3)的一侧电性连接有连接线(4)，所述连接线(4)远离测试仪表(3)的一端与其中一个测试针组(2)电性连接，所述工作台(1)的上表面安装有治具板(7)，所述治具板(7)的上表面固定连接有芯片(8)，所述工作台(1)的上表面设有调节结构(5)，所述调节结构(5)包括两个固定板(501)，两个所述固定板(501)与工作台(1)固定连接，所述固定板(501)靠近芯片(8)的一侧固定连接有两个固定杆(502)，两个所述固定杆(502)的圆弧面滑动连接有移动板(...

【技术特征摘要】

1.一种半导体测试工装台，其特征在于，包括：工作台(1)和两个测试针组(2)，所述工作台(1)的上表面安装有测试仪表(3)，所述测试仪表(3)的一侧电性连接有连接线(4)，所述连接线(4)远离测试仪表(3)的一端与其中一个测试针组(2)电性连接，所述工作台(1)的上表面安装有治具板(7)，所述治具板(7)的上表面固定连接有芯片(8)，所述工作台(1)的上表面设有调节结构(5)，所述调节结构(5)包括两个固定板(501)，两个所述固定板(501)与工作台(1)固定连接，所述固定板(501)靠近芯片(8)的一侧固定连接有两个固定杆(502)，两个所述固定杆(502)的圆弧面滑动连接有移动板(503)，所述移动板(503)远离芯片(8)的一侧固定连接有操纵杆(504)，所述操纵杆(504)的圆弧面与固定板(501)滑动连接，所述移动板(503)的表面开设有调节槽(505)，所述调节槽(505)的内壁转动连接有调节杆(506)，所述调节杆(506)的圆弧面螺纹连接有支撑架(507)，所述支撑架(507)与调节槽(505)的内壁滑动连接，所述移动板(503)的上表面转动连接有限位杆(509)，所述限位杆(509)的圆弧面螺纹连接有限位板(510)，所述限位板(510)的下表面固定连接有滑板(511)，所述滑板(511)的表面与移动板(503)滑动连接，所述测试针组(2)位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑才忠，陈海峰，
申请(专利权)人：深圳力钛科技术有限公司，
类型：新型
国别省市：