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本技术涉及半导体测试领域，尤其涉及一种半导体测试工装台。包括工作台和两个测试针组，所述工作台的上表面安装有测试仪表，所述工作台的上表面安装有治具板，所述治具板的上表面固定连接有芯片，所述工作台的上表面设有调节结构，所述调节结构包括两个固定板...
该专利属于深圳力钛科技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳力钛科技术有限公司授权不得商用。

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