一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法及系统技术方案

技术编号:46063915 阅读:15 留言:0更新日期:2025-08-11 15:50
本发明专利技术公开了一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法及系统,涉及机器视觉技术领域,该方法通过在S3中构建光反射扰动异常指数函数Gpot,利用双角度光源照射下的膜材图像中像素坐标(x,y)的局部反射率差值△Ploc(x,y)、像素坐标(x,y)的局部堆成扰动指数S(x,y)和像素坐标(x,y)的局部灰度方差Wvar(x,y)进行联合建模,增强对微量盐雾沉积所引发的非对称光学扰动的检测灵敏度。相较于传统视觉检测方法对早期蚀点响应不足的现状,本发明专利技术通过图像中“反射异常与结构扰动”双因子的定量组合,能够有效形成光反射潜蚀图谱,实现对膜材盐雾腐蚀初始阶段的快速定位与预警。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机器视觉,具体为一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法及系统


技术介绍

1、本专利技术聚焦于膜材在盐雾高腐蚀环境下所产生的微观缺陷演化过程,依托图像处理与计算模型相结合的策略,对膜材表面的反光异常、形态起伏、结构演化等多维特征进行提取和评估,特别适用于风电设备、海工装备、通讯封装单元等对材料表面完整性要求极高的环境,能够实现对膜材蚀点潜在分布的预测与结构缺陷的早期干预。

2、现阶段在海上风电设备常年处于高盐、高湿、强风、剧烈温差的恶劣环境下,其通信与信号控制单元外层采用透明聚酰亚胺pi膜或pet防护膜封装。这些膜材一旦在早期出现盐雾引起的微蚀点,会出现信号遮挡、反射异常;电化学反应点腐蚀扩大,最终形成穿孔;无法有效提前识别,传统检测多发生在已失效阶段。然而,传统的膜材检测方法多依赖人工目检或规则光照成像进行静态缺陷识别,仅能识别较大的穿孔、裂纹等后期缺陷,而对早期的光学反射异常、局部非对称扰动、微起伏纹理特征响应极低,尤其无法预测蚀点是否会发展为结构性裂缝。此外,现有机器视觉系统多局限于单光源或单角度照明,极易受干扰光、尘粒、水本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:所述S1包括S11和S12;

3.根据权利要求2所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:所述S2包括S21和S22;

4.根据权利要求3所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:所述S3包括S31和S32;

5.根据权利要求4所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:S32、在获取每个区块的像素坐标(x,y)的光反射扰动异常指数函数Gpot(x,...

【技术特征摘要】

1.一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:所述s1包括s11和s12;

3.根据权利要求2所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:所述s2包括s21和s22;

4.根据权利要求3所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:所述s3包括s31和s32;

5.根据权利要求4所述的一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法,其特征在于:s32、在获取每个区块的像素坐标(x,y)的光反射扰动异常指数函数gpot(x,y)后,进行初步对比评估,所述初步对比评估通过采样一组含已知缺陷的外层封膜图像数据样本,并计算输出像素坐标(x,y)的光反射扰动异常指数函数gpot(x,y),选取最小像素坐标(x,y)的光反射扰动异常指数函数gpot(x,y)设置为扰动阈值f1;

6.根据权利要求5所述的一种基于机器视觉的膜材...

【专利技术属性】
技术研发人员:周友仁周添翼袁洋培
申请(专利权)人:深圳市翔宇辉电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1