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本发明公开了一种基于机器视觉的膜材表面缺陷检测方法及系统,涉及机器视觉技术领域,该方法通过在S3中构建光反射扰动异常指数函数Gpot,利用双角度光源照射下的膜材图像中像素坐标(x,y)的局部反射率差值△Ploc(x,y)、像素坐标(x,y)...该专利属于深圳市翔宇辉电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市翔宇辉电子科技有限公司授权不得商用。
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