【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及轴系误差检测领域，特别涉及一种光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置及方法。
技术介绍
1、轴系同轴度作为表征高精度回转系统（如航空航天动力装置、精密机床主轴）动态性能的核心指标，其测量精度直接影响装备服役可靠性与寿命。当前工业检测领域主要依赖三坐标测量机、激光跟踪仪等设备实现轴系形位公差标定。然而现有轴系同轴度检测技术存在以下系统性缺陷：
2、离线测量基准失真：传统三坐标测量机需拆卸被测轴系至实验室环境进行离线测量。拆卸过程导致装配应力释放，引发弹性形变误差；同时，测量基准与轴系实际工作基准之间产生系统性偏移，测量结果无法反映服役工况下的真实形变。
3、接触式测量的空间可达性限制：机械探针等接触式测量手段要求测量路径具备充分的无障碍操作空间，导致在结构紧凑的轴系装配体（如航空发动机转子腔）中无法实施原位在线检测。
4、动态工况适应性缺失：激光跟踪仪等非接触设备在旋转轴系处于变速工况或连续运转状态下，因测量同步性不足及动态跟踪能力局限，难以实现高精度实时同轴度表征。
【技术保护点】
1.光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置，其特征在于，所述装置包括第一卡环（1）、轴（2）、电机（3）、电机转接板（4）、轴承套（5）、第二卡环（6）、轴承（7）、光敏位置传感器（8）、激光器；
2.根据权利要求1所述的光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置，其特征在于，所述电机转接板（4）与电机（3）为一体化的结构。
3.根据权利要求1所述的光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置，其特征在于，所述激光器为超窄发散角的小口径激光器。
4.根据权利要求1所述的光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置，其特征在于，所述光敏位置传...
【技术特征摘要】
1.光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置，其特征在于，所述装置包括第一卡环（1）、轴（2）、电机（3）、电机转接板（4）、轴承套（5）、第二卡环（6）、轴承（7）、光敏位置传感器（8）、激光器；
2.根据权利要求1所述的光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置，其特征在于，所述电机转接板（4）与电机（3）为一体化的结构。
3.根据权利要求1所述的光学动态基准耦合的轴系同轴度原位检测装置，其特征在于，所述激光器为超...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙杨，柏旭光，马天玮，李志强，林硕，卢佳峰，王运兴，
申请(专利权)人：长春通视光电技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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