基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法，涉及数据分析技术领域，本方法包括以下步骤：步骤1、收集同批次完好薄膜光谱数据、扰动光谱样本及对应环境参数；步骤2、对光谱数据进行去噪平滑、基线校正、导数运算及归一化处理；步骤3、提取光谱关键特征构建向量，合并后用非负矩阵分解为基底和系数矩阵；步骤4、分别计算完好与扰动阈值，利用环境参数和系数偏移构建回归模型；步骤5、采集实时光谱与环境参数，预处理后投影求解系数向量，动态调整判定基准并决策。本方法能够有效改善现有技术中薄膜光谱门锁管理主要依靠固定阈值，针对扰动和环境变化难以适应的情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数据分析，具体是基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法。

技术介绍

1、薄膜光谱技术通过分析材料对光的吸收、反射或散射特性，实现对物质成分、结构及状态的精准表征，在安防、工业检测等领域具有广泛应用。基于光谱特征的门锁管理方法，其核心在于通过提取薄膜光谱的特征参数并建立判别模型，实现对合法薄膜与非法扰动的区分。传统方法通常依赖固定阈值或简单机器学习模型，将光谱数据的统计特征（如峰值位置、强度分布）作为判别依据，但此类方法在处理复杂环境干扰或多类型扰动时，常因特征表征能力不足或模型适应性有限，导致判别准确率下降。

2、现有薄膜光谱门锁管理技术主要面临两大瓶颈：其一，固定阈值的环境适应性缺陷，传统方案多基于标准环境下的光谱数据设定固定判别阈值，当环境参数（如温度、湿度、光照强度）发生波动时，光谱数据会因材料物理化学性质的改变产生漂移，导致固定阈值无法准确区分正常波动与非法扰动，易引发误判或漏判；其二，扰动特征的动态表征能力不足，现有方法对薄膜表面污染、划痕、化学腐蚀等多类型扰动的光谱特征缺乏有效建模，仅通过单一阈值区分完好与扰动状态，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：在步骤1中，采集P个同批次完好薄膜在设定标准环境下的光谱数据，表示为S0：S0={S01,S02,…,S0P}；其中，S01,S02,…,S0P分别表示第1,2,…,P个光谱数据，每个光谱数据为m维向量；

3.根据权利要求2所述的基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：在步骤2中，对完好光谱数据和扰动光谱数据进行标准化处理：

4.根据权利要求3所述的基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：在步...

【技术特征摘要】

1.基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：在步骤1中，采集p个同批次完好薄膜在设定标准环境下的光谱数据，表示为s0：s0={s01,s02,…,s0p}；其中，s01,s02,…,s0p分别表示第1,2,…,p个光谱数据，每个光谱数据为m维向量；

3.根据权利要求2所述的基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：在步骤2中，对完好光谱数据和扰动光谱数据进行标准化处理：

4.根据权利要求3所述的基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：在步骤3中，从预处理后的光谱中提取关键特征，包括峰位、峰强、导数特征和统计特征，将连续的光谱曲线转化为有限维度的特征向量d：d=[d1,d2,…,dn]t；其中，n表示关键特征数量；

5.根据权利要求4所述的基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：在步骤4中，计算完好阈值r0：对完好样本的系数向量{h...

【专利技术属性】
技术研发人员：付高辉，艾鹏俊，陈维，
申请(专利权)人：上海纳琳威科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：