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本发明公开了基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法，涉及数据分析技术领域，本方法包括以下步骤：步骤1、收集同批次完好薄膜光谱数据、扰动光谱样本及对应环境参数；步骤2、对光谱数据进行去噪平滑、基线校正、导数运算及归一化处理；步骤3、提取光谱...
该专利属于上海纳琳威科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海纳琳威科技股份有限公司授权不得商用。

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